专利名称：一种齿厚千分尺及测量齿轮轮齿齿厚的方法
技术领域：
:本发明涉及一种千分尺，具体是一种齿厚千分尺及测量齿轮轮齿齿厚的方法，主要用于齿轮加工检测和精度测量。
背景技术：
:齿轮轮齿的齿厚加工精度十分重要，尤其是齿轮轮齿厚度的精度测量，会直接影响齿轮副装配后的技术性能。目前，生产车间加工现场对轮齿的厚度测量一般用齿厚游标卡尺。这种测量方法对于齿轮轮齿齿厚加工精度要求不高，基本能满足要求；对于精度较高的齿轮的加工，现检测手段无法满足要求
发明内容
:针对以上测量工具的不足，把发明提供一种齿厚千分尺，是在公法线千分尺基础上进行的改进，精度在0.01，能满足较高精度的齿轮轮齿齿厚的精度测量要求。本发明的另一目的是提供一种利用上述齿厚千分尺测量齿轮轮齿齿厚的方法。本发明是以如下技术方案实现的:、一种齿厚千分尺，包括千分尺尺身，水平微分测杆，在千分尺尺身中间垂直安装一个垂直微分测杆，该微分测杆的测量端的测头为圆形扁平测头。利用上述齿厚千分尺测量齿轮轮齿齿厚的方法，先把垂直微分测头对零位；再旋转垂直微分测杆的微分筒，调整到相应齿高要求的尺寸并锁死微分筒；最后把该垂直微分测杆的测头的测量面与被测轮齿的齿顶面贴合接触，调整千分尺两水平测量头的测量面与轮齿齿面接触；读出水平微分测杆上的的读数就是被测轮齿的齿厚值。本发明的有益效果是，上述测量齿轮齿厚的精确度为0.01，能满足较高精度的齿轮轮齿齿厚的精度测量要求，且操作方便。
图1是本发明的齿厚千分尺的结构示意图；图2是齿厚千分尺校对零位的方法示意图；图3是齿厚千分尺校对零位的另一方法不意图；图4是利用齿厚千分尺测量齿厚的不意图。图中:1、垂直微分测杆，2水平微分测杆，3、千分尺尺身，4、量棒，5、齿轮轮齿，6、平板。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。如图1所示，本发明齿厚千分尺在公法线千分尺基础上进行了改进设计。为了准确测量轮齿的齿高，在原千分尺尺身3中间垂直安装一个千分尺垂直微分测杆1，把该微分测杆的测量端打磨成类似公法线千分尺的圆扁平测头。如图4所示，测量时，先把垂直微分测杆I对零位，再旋转垂直微分测杆I的微分筒，调整到齿轮轮齿5相应齿高要求的尺寸并锁死该微分筒；最后把该垂直微分测杆I的测头4的测量面与被测轮齿的齿顶面贴合接触，调整千分尺两水平测量头的测量面与轮齿齿面接触；读出水平微分测杆2上的的读数就是被测轮齿的齿厚值。如图2和图3所示，对零位的方法有两种，一是如图2所示在齿厚千分尺的下面放置一块平板6，将齿厚千分尺放置在平板6上，旋转齿厚千分尺的垂直微分测杆I的微分筒，使垂直测头与千分尺的两个水平侧头在一个水平面上，压在平板6上，再调整两个水平侧头至垂直测头的两侧并与垂直测头接触。如图3所示的另一种对零位的方法，使用量棒4。
权利要求
1.一种齿厚千分尺，包括千分尺尺身(3)，水平微分测杆(2)，其特征在于，在千分尺尺身中间垂直安装一个垂直微分测杆(1)，该微分测杆的测量端的测头(4)为圆形扁平测头。
2.利用权利要求1所述的齿厚千分尺测量齿轮轮齿齿厚的方法，其特征在于，先把垂直微分测头(I)对零位；再旋转垂直微分测杆(I)的微分筒，调整到相应齿高要求的尺寸并锁死微分筒；最后把该垂直微分测杆的测头的测量面与被测轮齿的齿顶面贴合接触，调整千分尺两水平测头的测量面与轮齿齿面接触；读出水平微分测杆(2)上的的读数就是被测轮齿的齿厚值。
全文摘要
本发明涉及一种千分尺，具体是一种齿厚千分尺，主要用于齿轮加工检测和精度测量。在公法线千分尺尺身中间垂直安装一个垂直微分测杆，该微分测杆的测量端的测头为圆形扁平测头。测量齿轮轮齿齿厚的方法是，先把垂直微分测头对零位；再旋转垂直微分测杆的微分筒，调整到相应齿高要求的尺寸并锁死微分筒；最后把该垂直微分测杆的测头的测量面与被测轮齿的齿顶面贴合接触，调整千分尺两水平测量头的测量面与轮齿齿面接触；读出水平微分测杆上的读数就是被测轮齿的齿厚值。有益效果是，上述测量齿轮齿厚的精确度为0.01，能满足较高精度的齿轮轮齿齿厚的精度测量要求，且操作方便。
文档编号G01B3/18GK103162591SQ20131007918
公开日2013年6月19日 申请日期2013年3月12日 优先权日2013年3月12日
发明者罗太景 申请人:徐州工业职业技术学院