专利名称：设有密布孔的转接盘的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量仪器的部件，特别涉及线路板专用测试机包括测量探针部分的测量机构，尤其涉及与测量探针相接触的转接器。
背景技术：
一般地，电路板在焊接电子零件前必须经过测试方能得知上的电路有无开路或短路，目前行业间所采用的测试方法是用一台线路板测试机，从测试机内引出数组连线，每根连线都转接到一根在测试治具上的探针。测试治具是一个和线路板上待测点一一对应的装有探针的装置，探针接触线路板的待测点，这样信号就通过探针和连接线接到测试机内进行测试分析。
现行的线路板测试机主要有两种类型，一种是专用测试机，一种是万用测试机。专用测试机是一种相对老式的测试机，在国内有十几年的历史，是行业内的主流机型。万用测试机是2000年后才进入到国内的测试机，技术相对专用机先进，但由于其售价昂贵，市场的普及率不是很高。
专用测试机可以结合专用测试治具和复合式测试治具进行线路板测试。
万用测试机结合万用测试治具使用。
专用测试治具的信号转接部分是用弹簧探针和一个套管组成的转接体进行测试的测试治具，将套管嵌入到几块组合在一起的绝缘板上的孔中，绝缘板上的孔和待测板上的点一一对应。弹簧探针装入到套管中，这样测试探针的针头就可以在测试时和每个待测试的点接触。连接线一头接到套管的底部，另一头通过牛角插头座和排线连接到测试机内。专用测试治具的优点是结构简单，但是由于探针本身内部结构复杂，小规格的探针成本昂贵。只适合一些结构简单的单双面扳的测试治具。
复合式测试治具是近两年发展起来的一种由装有复合式探针的针盘和一个装有弹性元件的转接盘组成的新型测试治具。复合式测试治具由于使用的探针结构简单，成本低廉，而且探针可以做到十分细小，因而测试能力相对专用测试治具有很大的提高，同时该治具的成本相对专用测试治具有较大的降低。但是治具的结构相对复杂，制作时间也比较长，其最大的缺陷是每套治具是针对每块电路板制作的，不能重复使用，造成浪费。
例如ZL99119636号中国发明专利公开的一种名为“复合式治具探针”的技术方案就是这样，其技术方案摘要如下“一种复合式治具探针，配合治具的针板表面对应待测电路板的各接脚钻设插孔，治具上叠置有夹板，夹板钻设与针板插孔相对应的穿孔；针板的插孔内套探针套筒，夹板的穿孔内插探针，探针头端凸出夹板上表面；探针头端设为多种规格；尾端设有可插入针板插孔里的插接部；电线头端连接一可套在针板插孔里的弹簧，电线末端设为可直接插入电路测试机的排线上的铜棒。该探针结构易于制造，可以大幅降低治具的制造成本。”分析上述发明专利整体技术方案，由“配合治具的针板表面对应待测电路板的各接脚钻设插孔”和“电线头端连接一可套在针板插孔里的弹簧”可知，其缺陷就是每个转接盘是针对每块电路板制作的，不能重复使用。
发明内容
本实用新型的目的在于避免现有技术的不足，而提出一种设有密布孔的转接盘。本实用新型转接盘上的插孔不是针对待单独待测电路板的各接点钻设的，而是按照各种标准间距在转接盘上均匀成行成列钻设，用到哪一个插孔，就在那个插孔上方设置探针；同时，连接线与弹性元件之间也采取了保证可靠接触、方便拆卸的结构措施，使得本实用新型的转接盘可以应用于不同的电路板的测试，大大节省了线路板制造成本。
本实用新型通过以下的技术方案来实现设计制造设有密布孔的转接盘，包括上盖板、下盖板和基板，尤其是在转接盘上间距均匀地成行成列分布插孔。
所述插孔中设置弹性元件。
所述插孔在上盖板、下盖板和基板上的孔直径不同，基板上孔直径大于上盖板、下盖板的孔直径0.1mm以上，弹性元件的外径略大于上、下盖板孔的直径，同时又略小于基板孔的直径，这样弹性元件置于插孔中就不会脱出。
还有一种孔直径的设置方案
所述插孔在上盖板和基板上的孔径相同，而下盖板的孔直径小于基板上的孔直径0.2mm以下。因为转接盘始终是下盖板位于下方，这样弹性元件置于插孔中也不会脱出。
与现有技术相比较，本实用新型按照线路板测试的各种标准间距在转接盘上均匀成行成列钻设插孔，用到哪一个插孔，就在那个插孔上方设置探针；同时，连接线与弹性元件之间也采取了保证可靠接触、方便拆卸的结构措施，使得本实用新型的转接盘可以重复应用于不同的电路板测试，因而大大节省了线路板制造成本。
图1、图2是现有技术专用测试治具中弹簧探针和套管的示意图；图3是现有技术专用测试治具的应用示意图；图4是复合测试治具应用示意图；图5是复合测试治具中转接盘的示意图；图6是包括本实用新型转接盘的万用测试治具应用示意图；图7是本实用新型转接盘的示意图。
具体实施方式
以下结合附图及最佳实施例对本实用新型做进一步详尽的描述。
如图1～3所示现有技术中专用测试治具的信号转接部分是用弹簧探针11和一个套管12组成的转接体进行测试的测试治具，将套管12嵌入到几块组合在一起的绝缘板13上的孔中，绝缘板13上的孔和待测板上的点一一对应。弹簧探针11装入到套管12中，这样针头就可以在测试时和每个待测试的点接触。连接线14一头接到套管12的底部，另一头通过牛角插座17、排线18连接到专用测试机200内。专用测试治具的优点是结构简单，但是由于探针本身内部结构复杂，小规格的探针成本昂贵，只适合一些结构简单的单双面线路扳的测试治具。
如图4、5所示，复合式测试治具是近期发展起来的一种由装有复合式探针的针盘30和一个装有弹性元件40的转接盘50组成的新型测试治具。复合测试治具由于使用的探针结构简单，成本低廉，而且探针可以做到十分细小，因而测试能力相对专用测试治具都有很大的提高，同时复合测试治具的成本相对专用测试治具有较大的降低。
复合测试治具针盘30上的探针和待测试板100上的测试点101一一对应，探针尾端又和复合转接盘50上的弹性元件40一一对应，复合式治具的探针很多是倾斜的，这样可以将很密的测试点通过探针的倾斜，使线盘30上的对应点稍微拉开一些。这样可以减小复合转接盘50的钻孔难度，软件在处理洒针时，先根据复合转接盘50的孔密度(四倍密度或八倍密度)来虚拟一个密布小孔的复合转接盘50。软件处理洒针时，每一个针必定有一个唯一的小孔与之对应。现有的复合测试治具的复合转接盘50都是将有探针对应的小孔选出，制做复合转接盘50时只钻出这些有用的孔。如图5所示这样每一个针盘30都比须对应一个唯一的复合转接盘50，并且每一测试治具的复合转接盘50都要进行穿线，打线，锁牛角的工作，这些工作是制做治具环节中最消耗时间的工序。
如图6、7所示设计制造本实用新型设有密布孔的转接盘60，包括上盖板61、下盖板62和基板63，尤其是在转接盘60上间距均匀地成行成列分布插孔41。
所述插孔41中设置有弹性元件40。
所述插孔41在上盖板61、下盖板62和基板63上的孔径不同，基板63上孔直径大于上盖板61、下盖板62的孔直径0.1mm以上。这样弹性元件置于插孔中就不会脱出。
所述插孔41在上盖板61和基板63上的孔径相同，而下盖板62的孔直径小于基板63上的孔直径0.2mm以下。因为转接盘始终是下盖板位于下方，这样弹性元件置于插孔中也不会脱出。
如图7所示，本实用新型是将转接盘60上的所有虚拟的孔全部钻孔，无论任何针盘30上的探针在万用转接盘60上都有一个唯一的孔与之对应。这样每套针盘30都可以共用同一个转接盘60，同时，使用本实用新型的转接盘60可以节省很多的生产时间。
转接盘60上还有装配孔64。
参照图6，本实用新型转接盘60在实际使用中要与弹性布70、引线盘80、探头90等部件配合，以达到预期的效果。
转接盘60下面是弹性布70，弹性布70下面是引线盘80，再下面连接底座85，图3所示的多个牛角插座17设置在其上。图6所示的转接盘60上面连接针盘30，针盘30中的探针尾端与弹性元件40接触，顶部与待测线路板100的测试点101接触，专用测试机200通过一个个的回路检测线路板上引线的通断。
实践证明，本实用新型的转接器上的插孔不是对应待测电路板的各接点钻设的，而是按照各种标准间距在转接盘上均匀成行成列钻设，用到哪一个插孔，就在那个插孔上方设置探针；同时，连接线与弹性元件之间也采取了保证可靠接触、方便拆卸的结构措施，使得本实用新型的转接器可以应用于任何电路板，因而大大节省了测试成本。
权利要求1.一种设有密布孔的转接盘(60)，包括上盖板(61)、下盖板(62)和基板(63)，其特征在于在转接盘(60)上间距均匀地成行成列分布插孔(41)。
2.根据权利要求1所述的设有密布孔的转接盘(60)，其特征在于所述插孔(41)中设置弹性元件(40)。
3.根据权利要求1所述的设有密布孔的转接盘(60)，其特征在于所述插孔(41)在上盖板(61)、下盖板(62)和基板(63)上的孔径不同，基板(63)上孔直径大于上盖板(61)、下盖板(62)的孔直径0.1mm以上。
4.根据权利要求1所述的设有密布孔的转接盘(60)，其特征在于所述插孔(41)在上盖板(61)和基板(63)上的孔径相同，而下盖板(62)的孔直径小于基板(63)上的孔直径0.2mm以下。
专利摘要一种设有密布孔的转接盘(60)，包括上盖板(61)、下盖板(62)和基板(63)，尤其在转接盘(60)上间距均匀地成行成列分布插孔(41)；所述插孔(41)中设置弹性元件(40)；所述插孔(41)在上盖板(61)、下盖板(62)和基板(63)上的孔径不同，基板(63)上孔直径大于上盖板(61)、下盖板(62)的孔直径0.1mm以上；本实用新型的转接器可以重复应用于不同电路板的测试，因而大大节省了线路板制造成本并提高了效率。
文档编号G01R1/06GK2760561SQ20042010300
公开日2006年2月22日 申请日期2004年12月16日 优先权日2004年12月16日
发明者陈涛 申请人:陈涛