专利名称：一种智能红外探伤检测系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种红外设备，具体涉及一种智能红外探伤检测系统，属于红外传输及智能检测设备技术领域。
背景技术：
物理中，光谱中波长自0.76至400微米的一段称为红外线，红外线是不可见光线。所有高于绝对零度(一 273°C)的物质都可以产生红外线。加热源对试件的一面进行加热，在同一面采用红外摄像仪接收红外热图像。如果试件中有缺陷，将阻碍热能的传播，造成能量积累，使缺陷部位对应的工件表面 形成一个“高温区”，在热图像中将是一个“亮区”。因此，为了采用上述技术检测，确有必要提供一种新型的智能红外探伤检测系统。
发明内容
为解决上述问题，本发明的目的在于提供一种使用方便，精确性高的智能红外探伤检测系统。为实现上述目的，本发明采取的技术方案为:一种智能红外探伤检测系统，其包括试件加热模块、红外热像仪模块、带采集卡的PC主机、ARM处理器、IXD检测显示器以及移动存储模块；其中，所述试件加热模块、红外热像仪模块、带采集卡的PC主机、ARM处理器和IXD检测显示器依次连接；所述移动存储模块和ARM处理器双向连接。本发明的智能红外探伤检测系统进一步设置为:所述移动存储模块为120G容量的移动存储模块。与现有技术相比，本发明具有如下有益效果:
1.试件加热主动式易形成热流传播，试件中有缺陷和没有缺陷的地方因热传导率不同，造成对应表面的温度不同，使对应的红外辐射强度也不同，只要采用红外热像仪记录试件红外热图像就可以检测出试件中是否有裂纹，剥离、夹层等缺陷；
2.反射法红外线接受率高、误差小，加热源对工件的一面进行加热，在同一面采用红外摄像仪接收红外热图像。如果工件中有缺陷，将阻碍热能的传播，造成能量积累(反射)，使缺陷部位对应的工件表面形成一个“高温区”，在热图像中将是一个“亮区”；
3.计算较简便。在检测工件缺陷的同时，可以非常容易地计算出缺陷的位置、形状、大小等，从而全面检测工件的参数。
图1是本发明的智能红外探伤检测系统的原理图。
具体实施例方式请参阅说明书附图1所示，本发明为一种智能红外探伤检测系统，其由试件加热模块1、红外热像仪模块2、带采集卡的PC主机3、ARM处理器4、IXD检测显示器5以及移动存储模块6等几部分组成。其中，所述试件加热模块1、红外热像仪模块2、带采集卡的PC主机3、ARM处理器4和LCD检测显示器5依次连接，从而构成智能红外探伤检测系统。所述试件加热模块I的加热方法为放射法主动式。所述红外热像仪模块2用反射法采集试件表面温度场。所述带采集卡的PC主机3为16路图像采集，所述采集卡采集温度场图像信息。所述ARM处理器4分析、处理视频图像信息。所述IXD检测显示器5显示处理后图像信息。整个系统采用ARM处理技术，处理速度更快，且编程语言接近C更灵活，控制功能升级更强大。所述移动存储模块6和ARM处理器4双向连接，其为120G容量的移动存储模块6。所述移动存储模块6存储图像文件。进一步的，所述试件加热模块1、红外热像仪模块2构成了试件表面温度场采集单元，所述ARM处理器4、带采集卡的PC主机3构成视频信号的采集、处理单元，所述的LCD检测显示器5、移动存储模块6构成瑕疵处位置显示、视频图像存储单元。以上的具体实施方式
仅为本创作的较佳实施例，并不用以限制本创作，凡在本创作的精神及原则之内所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本创作的保护范围之内 。
权利要求
1.一种智能红外探伤检测系统，其特征在于:包括试件加热模块、红外热像仪模块、带采集卡的PC主机、ARM处理器、LCD检测显示器以及移动存储模块；其中，所述试件加热模块、红外热像仪模块、带采集卡的PC主机、ARM处理器和IXD检测显示器依次连接；所述移动存储模块和ARM处理器双向连接。
2.如权利要求1所述的智能红外探伤检测系统，其特征在于:所述移动存储模块为120G容量的移动 存储模块。
全文摘要
本发明涉及一种智能红外探伤检测系统，其包括试件加热模块、红外热像仪模块、带采集卡的PC主机、ARM处理器、LCD检测显示器以及移动存储模块；其中，所述试件加热模块、红外热像仪模块、带采集卡的PC主机、ARM处理器和LCD检测显示器依次连接；所述移动存储模块和ARM处理器双向连接。本发明的智能红外探伤检测系统依托ARM处理器高速率运行的优点，使试件缺陷的位置、形状清晰显示于LCD检测显示器上，能够容易计算出试件缺陷的大小，从而全面检测试件的参数。
文档编号G01N21/88GK103245673SQ201310182970
公开日2013年8月14日 申请日期2013年5月15日 优先权日2013年5月15日
发明者陈冰海 申请人:江苏翔盟精密铸造有限公司