一种x光机系统集成发生器耐压测试方法
【专利摘要】本发明公开一种X光机系统集成发生器耐压测试方法，包括以下步骤：保证发生器系统已断电半小时以上；闭合千伏控制板上的跳线检测电路；进行耐压检测，在10s内将KVP值调整到180kV，并维持3min。本发明使得调试人员在装配场地就能进行耐压测试，从而大大方便了调试人员的调试流程，提高了生产效率。同时也不再需要为该耐压测试专门制作测试设备，从而节约了成本。
【专利说明】一种X光机系统集成发生器耐压测试方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及上耐压测试方法，更确切地说是一种X光机系统集成发生器耐压测试 方法。
【背景技术】
[0002] 一套完成的X光机系统一般包括球管、高压发生器、机架、图像系统等四个部分。 外部交流电源从高压发生器接入系统，在高压发生器内首先经滤波后转换成直流电源，接 下来直流电源将通过逆变模块成为高频的交流，该高频交流输入油箱，油箱内部的高压变 压器会将该高频交流变压成为高频高压的交流，最后经整流滤波后输入到球管。球管接受 高压并加载到阴极和阳极，同时加热灯丝，使灯丝发射出点子流轰击阳极靶面，从而产生X 射线。X射线穿透人体组织，到达接收器，接收器接收X射线，并将接收的X线光子转换成 电荷，再由薄膜晶体管阵列将电信号读出并经AD转换成数字信号后将数据通过光纤传送 至电脑，电脑读取数据并处理后将图像显示在显示器上。机架则用来承载球管、接收器和病 人，医生可控制球管和接收器以及床面的转动来获取最佳的拍摄位置。
[0003]X光机的成像效果一般受3个主要因素控制：电压kV、电流mA、曝光时间t，其中电 压kV决定了X射线的能量大小，即穿透力的强弱，电流mA和曝光时间的乘积即mAs决定了 X射线数量的多少，即感光力的强弱。
[0004] 对于X光机系统中使用的发生器，根据GB9706. 3-2000医用电气设备第2部分： 诊断X射线发生装置的高压发生器安全专用要求20. 3试验电压值增补要求：试验时不接 X射线管，试验电压应为高压发生器标称X射线管电压的1. 2倍。即对于一个输出电压范 围40kV?150kV的发生器来说，根据标准要求应能以90kV的试验电压开始，在IOs内升到 180kV，并维持 3min。
[0005] 对于该标准要求，大部分发生器的做法是为该测试专门定制一套测试设备，在需 要进行测试的时候将装置连接于测试设备，对测试设备进行操作来进行测试。
[0006] 但由于测试设备一般数量较少，当发生器订单较多时往往满足不了测试需要，并 且由于测试装置往往与发生器装配、调试不在一个调试间，需要测试人员运载装置至测试 点进行测试，需要多耗费人力和时间。
【发明内容】
[0007] 本发明的目的是提供一种X光机系统集成发生器耐压测试方法，其可以解决现有 技术中费时费力的缺点。
[0008] 本发明采用以下技术方案：
[0009] 一种X光机系统集成发生器耐压测试方法，包括以下步骤：
[0010] (1)、发生器系统已断电半小时以上；
[0011] (2)、闭合千伏控制板上的跳线检测电路；
[0012] (3)、进行耐压检测，在IOs内将KVP值调整到180kV，并维持3min。
[0013] 所述检测电路包括一正极检测电路及一负极检测电路，所述正极检测电路一端与 X光机系统正极电路连接，另一端接地；所述负极检测电路一端与X光机系统负极电路连 接，另一端接地。
[0014] 所述正极检测电路包括一第五电阻。
[0015] 所述负极检测电路包括一第十电阻。
[0016] 所述X光机系统正极电路包括一第十A电阻，所述第十A电阻的一端连接一高 压反馈输出端，所述第十A电阻的另一端连接一第十五电阻，且所述第十五电阻另一端接 地，所述第十A电阻的另一端串联一第二电阻，所述第二电阻的另一端连接一第一正极运 算放大器的一反相输入端，且所述第十A电阻的另一端串联一第一电容及一第一电阻后连 接第一正极运算放大器的同相输入端，第一正极运算放大器的电源负串联一第五电容及一 第十一电阻后连接一第二正极运算放大器的同相输入端，第一正极运算放大器的电源正极 连接一第六电容后接地，所述第一正极运算放大器的输出端并联一第十二电阻后连接一第 二正极运算放大器的反相输入端，所述第二正极运算放大器的电源负极连接一第七电阻后 接地，所述第二正极运算放大器的电源正极连接一第八电容后接地；还包括一第十三电阻， 其两端连接于所述第二正极运算放大器的同相输入端及其输出端；还包括一第一电容，其 两端连接于所述第十A电阻及所述第一电阻之间；还包括一第三电阻，所述第三电阻的一 端连接于第一正极运算放大器的反相输入端，另一端接地；还包括第三双向触发二极管，所 述三双向触发二极管一端连接一所述第一电容及第一电阻之间，另一端接地；还包括一第 五二极管，其负极连接于所述第二电阻及所述第一运算放器之间；还包括一第四电阻及第 三电容，所述第四电阻及所述第三电容两端均连接于所述第二正极运算放大器的反相输入 端及其输出端；还包括一第六二极管，其正极端连接于所述第二电阻及所述第一运算放器 之间。
[0017] 所述X光机系统负极电路包括一第十B电阻，所述第十B电阻的一端连接一高压 反馈输入端，所述第十B电阻另一端连接一第十五电阻，且所述第十五电阻另一端接地，所 述第十A电阻的另一端串联一第二电容及一第六电阻后连接一第一负极运算放大器的一 同相输入端，且所述第十B电阻的另一端串联及一第七电阻后连接第一负极运算放大器的 反相输入端，所述第一负极运算放大器的输出端并联一第十四电阻；还包括一第七二极管， 其负极连接于所述第七电阻及所述第一负极运算放器反相输入端之间；还包括一第九电阻 及第四电容，第九电阻及第四电容两端均连接于所述第二运算放大器的反相输入端及其输 出端；还包括一第八二极管，其正极端连接于所述第七电阻及所述第一负极运算放器之间。
[0018] 本发明的优点是：本发明使得调试人员在装配场地就能进行耐压测试，从而大大 方便了调试人员的调试流程，提高了生产效率。同时也不再需要为该耐压测试专门制作测 试设备,从而节约了成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0019] 下面结合实施例和附图对本发明进行详细说明，其中：
[0020] 图1是本发明X光机系统正极电路的结构示意图。
[0021] 图2是本发明X光机系统负极电路的结构示意图。
【具体实施方式】
[0022] 下面结合附图进一步阐述本发明的【具体实施方式】：
[0023] -种X光机系统集成发生器耐压测试方法，包括以下步骤：
[0024] (1)、保证发生器系统已断电半小时以上，拔掉油箱上与球管连接的阳/阴极高压 电缆；
[0025] (2)、闭合千伏控制板上的跳线检测电路；
[0026] (3)、进行耐压检测，在IOs内将KVP值调整到180kV，并维持3min。
[0027] 所述检测电路包括一正极检测电路及一负极检测电路，所述正极检测电路一端与 X光机系统正极电路连接，另一端接地；所述负极检测电路一端与X光机系统负极电路连 接，另一端接地。
[0028] 所述正极检测电路包括一第五电阻。
[0029] 所述负极检测电路包括一第十电阻。
[0030] 所述X光机系统正极电路包括一第十A电阻R10A，所述第十A电阻的一端连接一 高压反馈输出端(该处的电压为VIN)，所述第十A电阻的另一端连接一第十五电阻R15,且 所述第十五电阻另一端接地，所述第十A电阻的另一端串联一第二电阻R2,所述第二电阻 的另一端连接一第一正极运算放大器UlA的一反相输入端，且所述第十A电阻的另一端串 联一第一电容Cl及一第一电阻Rl后连接第一正极运算放大器的同相输入端，第一正极运 算放大器的电源负极串联一第五电容及一第十一电阻Rll后连接一第二正极运算放大器 U2A的同相输入端，第一正极运算放大器的电源正极连接一第六电容C6后接地，所述第一 正极运算放大器的输出端并联一第十二电阻后R12连接一第二正极运算放大器的反相输 入端，所述第二正极运算放大器的电源负极连接一第七电阻R7后接地，所述第二正极运算 放大器的电源正极连接一第八电容C8后接地；还包括一第十三电阻R13,其两端连接于所 述第二正极运算放大器的同相输入端及其输出端；还包括一第一电容C1，其两端连接于所 述第十A电阻及所述第一电阻Rl之间；还包括一第三电阻R3,所述第三电阻的一端连接于 第一正极运算放大器的反相输入端，另一端接地；还包括第三双向触发二极管D3,所述三 双向触发二极管一端连接一所述第一电容及第一电阻之间，另一端接地；还包括一第五二 极管D2,其负极连接于所述第二电阻及所述第一运算放器之间；还包括一第四电阻R4及第 三电容C3,所述第四电阻及所述第三电容两端均连接于所述第二正极运算放大器的反相输 入端及其输出端；还包括一第六二极管D6,其正极端连接于所述第二电阻及所述第一运 算放器之间。
[0031] 所述X光机系统负极电路包括一第十B电阻R10B，所述第十B电阻的一端连接一 高压反馈输入端（-VIN)，所述第十B电阻另一端连接一第十五电阻R15,且所述第十五电阻 另一端接地，所述第十A电阻的另一端串联一第二电容C2及一第六电阻R6后连接一第一 负极运算放大器的UlB-同相输入端，且所述第十B电阻的另一端串联及一第七电阻R7后 连接第一负极运算放大器的反相输入端，所述第一负极运算放大器的输出端并联一第十四 电阻R14 ;还包括一第七二极管D7,其负极连接于所述第七电阻R7及所述第一负极运算放 器之间；还包括一第九电阻R9及第三电容C4,所述第九电阻R9及第三电容C4两端均连接 于所述第一负极运算放大器的UlB的反相输入端及其输出端；还包括一第八二极管D8,其 正极端连接于所述第七电阻及所述第一负极运算放器反相输入端之间；还包括一第十六 电阻R16,其一端连接于所述第一负极运算放器之间同向输入端，另一端接地。
[0032] 阳极反馈电路的工作原理如下：
[0033] 在一般模式(非180KV)时JPl没有连接上，所以反馈比例为：
[0034]
【权利要求】
1. 一种X光机系统集成发生器耐压测试方法，其特征在于，包括w下步骤： (1) 、发生器系统已断电半小时W上； (2) 、闭合千伏控制板上的跳线检测电路； (3) 、进行耐压检测，在10s内将KVP值调整到180kV，并维持3min。
2. 根据权利要求1所述的X光机系统集成发生器耐压测试方法，其特征在于，所述检测 电路包括一正极检测电路及一负极检测电路，所述正极检测电路一端与X光机系统正极电 路连接，另一端接地；所述负极检测电路一端与X光机系统负极电路连接，另一端接地。
3. 根据权利要求2所述的X光机系统集成发生器耐压测试方法，其特征在于，所述正极 检测电路包括一第五电阻。
4. 根据权利要求2所述的X光机系统集成发生器耐压测试方法，其特征在于，所述负极 检测电路包括一第十电阻。
5. 根据权利要求3或4所述的X光机系统集成发生器耐压测试方法，其特征在于，所述 X光机系统正极电路包括一第十A电阻，所述第十A电阻的一端连接一高压反馈输出端，所 述第十A电阻的另一端连接一第十五电阻，且所述第十五电阻另一端接地，所述第十A电阻 的另一端串联一第二电阻，所述第二电阻的另一端连接一第一正极运算放大器的一反相输 入端，且所述第十A电阻的另一端串联一第一电容及一第一电阻后连接第一正极运算放大 器的同相输入端，第一正极运算放大器的电源负串联一第五电容及一第^ 电阻后连接一 第二正极运算放大器的同相输入端，第一正极运算放大器的电源正极连接一第六电容后接 地，所述第一正极运算放大器的输出端并联一第十二电阻后连接一第二正极运算放大器的 反相输入端，所述第二正极运算放大器的电源负极连接一第走电阻后接地，所述第二正极 运算放大器的电源正极连接一第八电容后接地；还包括一第十H电阻，其两端连接于所述 第二正极运算放大器的同相输入端及其输出端；还包括一第一电容，其两端连接于所述第 十A电阻及所述第一电阻之间；还包括一第H电阻，所述第H电阻的一端连接于第一正极 运算放大器的反相输入端，另一端接地；还包括第H双向触发二极管，所述H双向触发二极 管一端连接一所述第一电容及第一电阻之间，另一端接地；还包括一第五二极管，其负极连 接于所述第二电阻及所述第一运算放器之间；还包括一第四电阻及第H电容，所述第四电 阻及所述第H电容两端均连接于所述第二正极运算放大器的反相输入端及其输出端；还包 括一第六二极管，其正极端连接于所述第二电阻及所述第一运算放器之间。
6. 根据权利要求3或4所述的X光机系统集成发生器耐压测试方法，其特征在于，所述 X光机系统负极电路包括一第十B电阻，所述第十B电阻的一端连接一高压反馈输入端，所 述第十B电阻另一端连接一第十五电阻，且所述第十五电阻另一端接地，所述第十A电阻的 另一端串联一第二电容及一第六电阻后连接一第一负极运算放大器的一同相输入端，且所 述第十B电阻的另一端串联及一第走电阻后连接第一负极运算放大器的反相输入端，所述 第一负极运算放大器的输出端并联一第十四电阻；还包括一第走二极管，其负极连接于所 述第走电阻及所述第一负极运算放器反相输入端之间；还包括一第九电阻及第四电容，第 九电阻及第四电容两端均连接于所述第二运算放大器的反相输入端及其输出端；还包括一 第八二极管，其正极端连接于所述第走电阻及所述第一负极运算放器之间。
【文档编号】G01R31/12GK104345251SQ201310312312
【公开日】2015年2月11日 申请日期:2013年7月23日 优先权日:2013年7月23日
【发明者】不公告发明人 申请人:上海康达医学科技有限公司