用于测量锥齿轮的高精度定位测量仪的制作方法

文档序号:6188319阅读:245来源:国知局
用于测量锥齿轮的高精度定位测量仪的制作方法
【专利摘要】提供一种用于测量锥齿轮的高精度定位测量仪,具有基座,所述基座上端面平行设有两个支架,V型块下端与固定在支架上端的滑块适配并锁紧,测量杆两端均置于V型块的V型槽内且其一端设有分度环,所述分度环固定在V型块外端面且与调整手柄连接,所述V型块上端面两侧均制有螺孔,压板压在测量杆上且压板两端通过压紧螺钉与螺孔旋合压紧,待测零件通过定位心轴固定在测量杆上,将基座安装在万能工具显微镜或大型工具显微镜上。采用本发明在同一测量仪上一次装夹即可完成锥齿轮零件多项参数的准确测量,具有很高的实用价值。
【专利说明】用于测量锥齿轮的高精度定位测量仪
【技术领域】
[0001]本发明属检测设备【技术领域】,具体涉及一种用于测量锥齿轮的高精度定位测量仪。
【背景技术】
[0002]实现小模数锥齿轮零件各参数的准确测量是目前的“瓶颈”问题。机械加工行业中许多企业在生产现场采用传统的检验方式,各参数(齿形、齿厚、齿向、顶圆锥角)检验通常采用不同的测量仪和方法(投影仪、放大图、万能工具显微镜、大型工具显微镜等)进行测量,由于需要用到多个测量设备,反复装夹定位误差很大,而且多种设备的购置成本很高,增加企业负担,在比较测量时完全是靠个人的视觉和感觉来控制,因人而异,误差较大,因此有必要进行改进。

【发明内容】

[0003]本发明解决的技术问题:提供一种用于测量锥齿轮的高精度定位测量仪,在同一测量仪上一次装夹即可完成锥齿轮零件多项参数的准确测量。
[0004]本发明采用的技术方案:用于测量锥齿轮的高精度定位测量仪,具有基座,所述基座上端面平行设有两个支架,V型块下端与固定在支架上端的滑块适配并锁紧,测量杆两端均置于V型块的V型槽内且其一端设有分度环,所述分度环固定在V型块外端面且与调整手柄连接,所述V型块上端面两侧均制有螺孔,压板压在测量杆上且压板两端通过压紧螺钉与螺孔旋合压紧,待测零件通过定位心轴固定在测量杆上,将基座安装在万能工具显微镜或大型工具显微镜上。
[0005]进一步地,所述基座呈圆形,其上端面制有四条两两平行的T型槽且相邻的T型槽之间贯通。
[0006]进一步地,所述V型块下端制有燕尾槽,所述燕尾槽与滑块适配并通过锁紧螺钉锁紧。
[0007]进一步地,所述调整手柄圆周面上制有刻度线。
[0008]进一步地,所述测量杆中部制有小平面,所述小平面上制有定位孔,所述定位心轴与待测零件固定连接后插入定位孔内待测。
[0009]进一步地,所述支架两端制有平台,锁紧螺杆穿过平台纳入T型槽内且与其下端设有的与T型槽15相适配的T形块进行锁紧。
[0010]本发明与现有技术相比的优点:
[0011]1、不仅适用于小模数锥齿轮零件多项参数的准确测量,也适用于中模数锥齿轮多项参数的准确测量;
[0012]2、在同一测量设备上一次完成装夹,同时测量多个参数,测量准确,效率高;
[0013]3、通用性好,可在万能工具显微镜和大型工具显微镜上使用,节省成本;
[0014]4、体积小,在生产现场可任意搬动,原理简单,使用和操作方便;[0015]5、测量精度高,测量精度取决于测量设备精度,在满足条件的情况下,对零件的测量精度一般可达到0.001?0.003mm。
【专利附图】

【附图说明】
[0016]图1为本发明立体结构示意图。
【具体实施方式】
[0017]下面结合附图1描述本发明的一种实施例。
[0018]用于测量锥齿轮的高精度定位测量仪,具有基座1,所述基座I呈圆形,其上端面制有四条两两平行的T型槽15且相邻的T型槽15之间贯通,通过基座I与万能工具显微镜或大型工具显微镜连接。所述基座I上端面平行设有两个支架3,具体说,所述支架3两端制有平台20,锁紧螺杆2穿过平台20纳入T型槽15内且与其下端设有的与T型槽15相适配的T形块进行锁紧。V型块4下端与固定在支架3上端的滑块12适配并锁紧,具体说,所述V型块4下端制有燕尾槽16,所述燕尾槽16与滑块12适配并通过锁紧螺钉17锁紧。测量杆5两端均置于V型块4的V型槽13内且其一端设有分度环10,所述分度环10固定在V型块4外端面且与调整手柄11连接,所述调整手柄11圆周面上制有刻度线18。所述V型块4上端面两侧均制有螺孔14,压板9压在测量杆5上且压板9两端通过压紧螺钉8与螺孔14旋合压紧,待测零件7通过定位心轴6固定在测量杆5上。具体说,所述测量杆5中部制有小平面19,所述小平面19上制有定位孔,所述定位心轴6与待测零件7固定连接后插入定位孔内待测。
[0019]本发明是采用接触测量法,运用机械原理设计的一种简易方便的高精度定位测量仪,以万能工具显微镜或大型工具显微镜作为测量设备。将测量仪安装在万能或大型工具显微镜上,用调整手柄11将待测零件7,即锥齿轮背锥面的母线之一调整在水平平面内,并转动锥齿轮,使被测锥齿轮轮齿对称地位于垂直平面内齿轮轴线的两侧,以齿顶圆为测量起始点,采用接触法测量相应于弦齿高、弦齿厚、齿形的座标尺寸Yx及Xx、顶圆锥角、齿向的实际误差,在同一侧量仪上一次装夹完成零件多项参数的准确测量。
[0020]在测量零件时,通过目镜调整测量杆5与万能工具显微镜或大型工具显微镜Y轴平行,测量定位心轴6与X轴轴线重合,完成测量仪的初调。将待测零件7,即锥齿轮装入定位心轴6上,将锥齿轮背锥面的母线之一调整在水平平面内,使被测锥轮齿的背锥面与万能工具显微镜或大型工具显微镜的光轴相垂直,旋转调整手柄11至分度环10的对应角度(齿顶锥角),使被测锥齿轮的轮齿相邻两齿的顶边与显微镜十字线的水平线相切,以锥齿轮的齿顶圆为测量起始点,采用接触法测量相应于弦齿高、弦齿厚、齿形的座标尺寸Yx及Xx、顶圆锥角、齿向的实际误差。
[0021]本发明的测量范围模数为0.15?1.25mm,若需测量更大模数尺寸的锥齿轮,更换测量杆5和定位心轴6即可。
[0022]上述实施例,只是本发明的较佳实施例,并非用来限制本发明实施范围,故凡以本发明权利要求所述内容所做的等效变化,均应包括在本发明权利要求范围之内。
【权利要求】
1.用于测量锥齿轮的高精度定位测量仪,具有基座(1),其特征在于:所述基座(I)上端面平行设有两个支架(3),v型块(4)下端与固定在支架(3)上端的滑块(12)适配并锁紧,测量杆(5)两端均置于V型块(4)的V型槽(13)内且其一端设有分度环(10),所述分度环(10)固定在V型块(4)外端面且与调整手柄(11)连接,所述V型块(4)上端面两侧均制有螺孔(14),压板(9)压在测量杆(5)上且压板(9)两端通过压紧螺钉(8)与螺孔(14)旋合压紧,待测零件(7)通过定位心轴(6)固定在测量杆(5)上,将基座(I)安装在万能工具显微镜或大型工具显微镜上。
2.根据权利要求1所述的用于测量锥齿轮的高精度定位测量仪,其特征在于:所述基座(I)呈圆形,其上端面制有四条两两平行的T型槽(15)且相邻的T型槽(15)之间贯通。
3.根据权利要求1或2所述的用于测量锥齿轮的高精度定位测量仪,其特征在于:所述V型块(4)下端制有燕尾槽(16),所述燕尾槽(16)与滑块(12)适配并通过锁紧螺钉(17)锁紧。
4.根据权利要求3所述的用于测量锥齿轮的高精度定位测量仪,其特征在于:所述调整手柄(11)圆周面上制有刻度线(18)。
5.根据权利要求4所述的用于测量锥齿轮的高精度定位测量仪,其特征在于:所述测量杆(5)中部制有小平面(19),所述小平面(19)上制有定位孔,所述定位心轴(6)与待测零件(7)固定连接后插入定位孔内待测。
6.根据权利要求5所述的用于测量锥齿轮的高精度定位测量仪,其特征在于:所述支架(3)两端制有平台(20),锁紧螺杆(2)穿过平台(20)纳入T型槽(15)内且与其下端设有的与T型槽(15)相适配的T形块进行锁紧。
【文档编号】G01B3/12GK103673804SQ201310684266
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年12月13日 优先权日:2013年12月13日
【发明者】曹海瑛, 贺彪, 何丽, 张高昌 申请人:陕西宝成航空仪表有限责任公司
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