热电阻开路检测方法
【专利摘要】本发明涉及一种用于控制系统的热电阻开路检测方法，属于工业检测方法的【技术领域】。通过比较器比较获取的热电阻形成的电压与参考电压进行比较，并输出信号给处理器，从而处理器可以根据获取的信号判断热电阻是否开路。本发明解决了现有技术中通过热电阻方式来实现检测的仪表不具备热电阻开路检测方法的问题，也解决了控制系统判断现场采样的RTD是否开路的问题。本发明通过比较器比较热电阻产生的电压与参考电压，并输出信号给处理器实现热电阻开路的检测。
【专利说明】热电阻开路检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种工业检测方法，尤其涉及一种用于控制系统的热电阻开路检测方法。
【背景技术】
[0002]热电阻(thermal resistor)是中低温区最常用的一种温度检测器。热电阻测温是基于金属导体的电阻值随温度的增加而增加这一特性来进行温度测量的。它的主要特点是测量精度高，性能稳定。其中钼热电阻的测量精确度是最高的，它不仅广泛应用于工业测温，而且被制成标准的基准仪。
[0003]现有技术中通过热电阻方式来实现检测的仪表不具备热电阻开路检测方法。
【发明内容】
[0004]本发明公开了一种热电阻开路检测方法，用以解决现有技术中通过热电阻方式来实现检测的仪表不具备热电阻开路检测方法的问题。
[0005]本发明的上述目的是通过以下技术方案实现的:
一种热电阻开路检测方法，其中，包括:一比较器获取热电阻形成的电压，所述比较器将获取的热电阻输出电压与一参考电压进行比较，如果热电阻形成的电压大于参考电压，则比较器输出高电平给处理器；如果热电阻形成的电压为0，则比较器输出低电平给处理器。
[0006]如上所述的热电阻开路检测方法，其中，处理器获取比较器输出的信号，如果处理器获取高电平，将开路状态位置0，表示热电阻未开路；如果处理器获取低电平，则控制器将开路状态位置1，表示热电阻开路。
[0007]如上所述的热电阻开路检测方法，其中，处理器将开路状态位发送给控制系统，在控制系统的监控画面上显示热电阻是否开路，如果开路状态为0，则在控制系统的监控画面上将开路状态的灯熄灭；如果开路状态为1，则在控制系统的监控画面上将开路状态的灯点売。
[0008]综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明解决了现有技术中通过热电阻方式来实现检测的仪表不具备热电阻开路检测方法的问题；本发明也解决了控制系统判断现场采样的RTD是否开路的问题。本发明通过比较器比较热电阻产生的电压与参考电压，并输出信号给处理器实现热电阻开路的检测，本发明结构简单，可以用于检测仪表中。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1是本发明热电阻开路检测方法的原理图。
【具体实施方式】
[0010]下面结合附图和实施例对本发明做进一步描述: 图1是本发明热电阻开路检测方法的原理图，请参见图1，一种热电阻开路检测方法，其中，包括:电流流过热电阻，在热电阻上形成一定的电压，一比较器获取热电阻形成的电压，比较器将获取的热电阻输出电压与一参考电压进行比较，如果热电阻形成的电压大于参考电压，则比较器输出高电平给处理器；如果热电阻形成的电压为O，则比较器输出低电平给处理器，处理器可以通过获取的信号判断热电阻是否开路。
[0011]本发明的处理器获取比较器输出的信号，如果处理器获取高电平，将开路状态位置0，表示热电阻未开路；如果处理器获取低电平，则控制器将开路状态位置1，表示热电阻开路。
[0012]本发明的处理器将开路状态位发送给控制系统，在控制系统的监控画面上显示热电阻是否开路，如果开路状态为0，则在控制系统的监控画面上将开路状态的灯熄灭；如果开路状态为1，则在控制系统的监控画面上将开路状态的灯点亮。
[0013]综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明解决了现有技术中通过热电阻方式来实现检测的仪表不具备热电阻开路检测方法的问题，本发明通过比较器比较热电阻产生的电压与参考电压，并输出信号给处理器实现热电阻开路的检测，本发明的结构简单，安装方便，可以用于仪表检测仪表中。
【权利要求】
1.一种热电阻开路检测方法，其特征在于，包括:一比较器获取热电阻形成的电压，所述比较器将获取的热电阻输出电压与一参考电压进行比较，如果热电阻形成的电压大于参考电压，则比较器输出高电平给处理器；如果热电阻形成的电压为O，则比较器输出低电平给处理器。
2.根据权利要求1所述的热电阻开路检测方法，其特征在于，处理器获取比较器输出的信号，如果处理器获取高电平，将开路状态位置O，表示热电阻未开路；如果处理器获取低电平，则控制器将开路状态位置1，表示热电阻开路。
3.根据权利要求1所述的热电阻开路检测方法，其特征在于，处理器将开路状态位发送给控制系统，在控制系统的监控画面上显示热电阻是否开路，如果开路状态为O，则在控制系统的监控画面上将开路状态的灯熄灭；如果开路状态为1，则在控制系统的监控画面上将开路状态的灯点壳。
【文档编号】G01R31/02GK103698652SQ201310741680
【公开日】2014年4月2日 申请日期:2013年12月30日 优先权日:2013年12月30日
【发明者】姜铁梅, 孙旭华, 熊磊, 杜圆芝 申请人:上海自动化仪表股份有限公司