一种米质糊化温度的测定装置制造方法
【专利摘要】本实用新型属于食品检测【技术领域】，尤其是涉及一种米质糊化温度的测定装置。该测定装置包括带格栅的待测盒，待测盒由格栅分割成若干个放置米粒的空腔，待测盒上方设有米粒分离架，米粒分离架上设有若干个允许米粒穿过的米粒过孔，米粒过孔的数量及位置与所述空腔一一对应，米粒分离架上设有使米粒过孔隔断的隔离腔，隔离腔内设有能够抽出的抽板，抽板的一端连接有剩米槽。本实用新型的有益效果是：在待测盒上方设置米粒分离架和抽板，洒落精米后，抽离抽板，米粒将落入相对应的待测盒的空腔中，不需要搅动米粒，米粒不会粘合及损伤，后续测定结果准确可靠。
【专利说明】一种米质糊化温度的测定装置
【技术领域】
[0001]本实用新型属于食品检测【技术领域】，尤其是涉及一种米质糊化温度的测定装置。【背景技术】
[0002]米质的糊化温度直接影响煮饭时的吸水率、膨胀容积和伸长程度。高糊化温度的大米，蒸煮时需较高的温度，添加较多的水分和较长的蒸煮时间。低糊化温度的大米蒸煮时所需的温度、需添加的水分都较低，容易煮烂。人们喜爱有较好食味的中等糊化温度的大米。因此，要通过米质糊化温度或碱消值测定，判断米质的糊化温度或碱消值的高低。目前，现有米质的糊化温度或碱消值测定装置，是通过一个方盒，在盒内放入完整精米，加入氢氧化钾溶液，氢氧化钾溶液容易使米粒粘合在一起，要用玻璃棒将盒内米粒排布均匀，这又会损伤米粒，影响测定结果的准确度。
实用新型内容
[0003]本实用新型主要是针对现有米质的糊化温度测定装置所存在的容易损伤米粒，影响测定结果的准确度的问题，提供一种使用简便，防止米粒粘合、损伤，测定准确可靠的米质糊化温度的测定装置。
[0004]本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的:一种米质糊化温度的测定装置，其包括带格栅的待测盒，待测盒由格栅分割成若干个放置米粒的空腔，待测盒上方设有米粒分离架，米粒分离架上设有若干个允许米粒穿过的米粒过孔，米粒过孔的数量及位置与所述空腔一一对应，米粒分离架上设有使米粒过孔隔断的隔离腔，隔离腔内设有能够抽出的抽板，抽板的一端连接有剩米槽。将精米洒在米粒分离架上，每个米粒过孔中将存放一粒米粒，使用刮板沿同一方向刮除多余的米粒，使多余米粒放置于剩米槽中，将抽板及剩米槽一同抽出，则每个米粒过孔中的米粒将自由落下，落入相对应的待测盒的空腔中，向待测盒内注入一定浓度的氢氧化钾溶液，将待测盒平稳移至恒温培养箱内，逐粒观察米胚乳的分解情况，进行分级检测。
[0005]作为优选，所述的抽板与米粒分离架为间隙配合连接。抽板能够从米粒分离架上抽出。
[0006]作为优选，所述的米粒分离架的两侧均设有挡板。使用刮板刮除米粒时，挡板可用于阻挡米粒飞溅。
[0007]作为优选，所述的米粒过孔为圆孔，米粒过孔的直径为5.5?7.5mm。普通中等大米的长度约为6.5mm,故设定米粒过孔的直径为5.5?7.5mm,能够对大部分米粒进行糊化温度的测定。
[0008]作为优选，所述的格栅上设有溶液流孔。格栅带有多个溶液流孔，有利于氢氧化钾溶液液体能够在方格内均匀流动，简化操作，便于快速测定。
[0009]作为优选，所述的待测盒上设有盒盖。
[0010]因此，本实用新型的有益效果是:在待测盒上方设置米粒分离架和抽板，洒落精米后，抽离抽板，米粒将落入相对应的待测盒的空腔中，不需要搅动米粒，米粒不会粘合及损伤，后续测定结果准确可靠。
【专利附图】
【附图说明】
[0011]附图1是本实用新型的一种结构示意图；
[0012]附图2是本实用新型中格栅的一种结构示意图。
[0013]图中所示:1-待测盒、2-格栅、3-米粒分离架、4-米粒过孔、5-抽板、6_剩米槽、7-挡板、8-溶液流孔。
【具体实施方式】
[0014]下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。
[0015]实施例:
[0016]如说明书附图1、2所示，一种米质糊化温度的测定装置，其包括带格栅2的待测盒1，格栅2由四块直板以一行三列排列，每个直板上都设有溶液流孔8，待测盒I由格栅2分割成六个放置米粒的空腔，待测盒I上方设有米粒分离架3，米粒分离架3的两侧均设有挡板7,米粒分离架3上设有允许米粒穿过的米粒过孔4,米粒过孔4为圆孔,米粒过孔4的直径为5.5?7.5mm,作为优选方案，本实施例优选米粒过孔4的直径为6.5mm,米粒过孔4的数量及位置与空腔一一对应，即米粒过孔4也有六个，米粒分离架3上设有使米粒过孔4隔断的隔离腔，隔离腔内设有能够抽出的抽板5，抽板5与米粒分离架3为间隙配合连接，抽板5的一端连接有剩米槽6，待测盒I上设有盒盖。
[0017]本装置用于对米质糊化温度或碱消值测定，具体方法如下:从同批次样品中随机选取一些成熟饱满的完整精米，将这些精米洒在米粒分离架上，由于米粒过孔与米粒大小相近，则每个米粒过孔中将落入一粒米粒，然后使用刮板沿同一方向刮除多余的米粒，使多余米粒放置于剩米槽中，将抽板及剩米槽一同抽出，则每个米粒过孔中的米粒将自由落下，落入相对应的待测盒的空腔中，向待测盒内注入10.0mL,0.304mol/L的氢氧化钾溶液，力口盖，将待测盒平稳移至30°C ±2°C恒温培养箱内，保温23h，再平稳地取出。逐粒观察米胚乳的分解情况，进行分级检测。重复上述步骤，可测定其他类别米的米质糊化温度或碱消值。
[0018]应理解，该实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。此外应理解，在阅读了本实用新型讲授的内容之后，本领域技术人员可以对本实用新型作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。
【权利要求】
1.一种米质糊化温度的测定装置，其特征在于，其包括带格栅(2)的待测盒(1)，待测盒(I)由格栅(2)分割成若干个放置米粒的空腔，待测盒(I)上方设有米粒分离架(3)，米粒分离架(3)上设有若干个允许米粒穿过的米粒过孔(4)，米粒过孔(4)的数量及位置与所述空腔一一对应，米粒分离架(3)上设有使米粒过孔(4)隔断的隔离腔，隔离腔内设有能够抽出的抽板(5)，抽板(5)的一端连接有剩米槽(6)。
2.根据权利要求1所述的一种米质糊化温度的测定装置，其特征在于，所述的抽板(5)与米粒分离架(3)为间隙配合连接。
3.根据权利要求1或2所述的一种米质糊化温度的测定装置，其特征在于，所述的米粒分离架(3)的两侧均设有挡板(7)。
4.根据权利要求1或2所述的一种米质糊化温度的测定装置，其特征在于，所述的米粒过孔(4)为圆孔，米粒过孔(4)的直径为5.5?7.5mm。
5.根据权利要求1或2所述的一种米质糊化温度的测定装置，其特征在于，所述的格栅上设有溶液流孔(8)。
6.根据权利要求1或2所述的一种米质糊化温度的测定装置，其特征在于，所述的待测盒(I)上设有盒盖。
【文档编号】G01N25/12GK203479732SQ201320617039
【公开日】2014年3月12日 申请日期:2013年9月30日 优先权日:2013年9月30日
【发明者】何小嫣, 段彬五, 孙成效, 方长云, 朱智伟 申请人:中国水稻研究所