三维自动对中系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供一种用于激光粒度分析仪的三维自动对中系统，包括动力装置、机械传动组件，机械传动组件包括一水平设置的对中平台，其上方设有一Y向滑轨、Y向滑轨上设有一Y向移动支架，所述动力装置的Y向步进电机通过Y向电机固定支架与对中平台连接，并与Y向移动支架传动连接，构成三维自动对中系统的前后移动系统；所述前后移动系统的上方设有一X向滑轨，X向滑轨上设有一X向移动支架，所述动力装置的X向步进电机通过X向电机固定支架与Y向移动支架连接，并与X向移动支架传动连接，构成三维自动对中系统的左右移动系统；所述X向移动支架连接一Z向滑轨，Z向滑轨上设有一大探头固定支架，所述动力装置的Z向步进电机通过Z向电机固定支架与X向移动支架连接，并与大探头支架传动连接，构成三维自动对中系统的上下移动系统。本实用新型的三维自动对中系统应用与激光粒度分析仪中，与光路系统一起使用，能够保证快速地实现激光的对中。
【专利说明】三维自动对中系统
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种激光粒度分析仪光路对中的专用器件，尤其涉及一种集机械传动、光电探测为一体的三维自动对中系统。
【背景技术】
[0002]对中是指激光束的焦点通过光电探测阵列的圆心，激光粒度仪在测试前首先要保证激光束的焦点通过光电探测阵列的圆心，并且在测试过程中不偏移，才能得到正确的结果。目前粒度仪采用的都是两维对中系统，采用步进电机通过轴套来带动移动尺来提供动力，步进电机和轴套、轴套和移动尺之间都是通过顶丝连接，导致三个器件的中心不在一条直线上，且移动尺正转和反转的之间的空转间隙较大，导致对中系统不稳定，不能快速而准确地完成对中，现有对中系统都没有限位系统，如果光路本身出现问题，对中系统就会出现误判断，一直朝着一个方向运动损坏机械传动组件。
【发明内容】
[0003]本实用新型的技术任务是针对现有技术的不足，提供一种可实现三维对中的设计合理、结构简单紧凑、使用方便的自动对中系统。
[0004]为克服现有技术的上述不足，本实用新型提供下面的技术方案。
[0005]三维自动对中系统，包括动力装置和机械传动组件:
[0006]所述机械传动组件包括一水平设置的对中平台，其上方设有一 Y向滑轨、Y向滑轨上设有一 Y向移动支架，所述动力装置的Y向步进电机通过Y向电机固定支架与对中平台连接，并与Y向移动支架传动连接，构成三维自动对中系统的前后移动系统；
[0007]所述前后移动系统的上方设有一 X向滑轨，X向滑轨上设有一 X向移动支架，所述动力装置的X向步进电机通过X向电机固定支架与Y向移动支架连接，并与X向移动支架传动连接，构成三维自动对中系统的左右移动系统；
[0008]所述X向移动支架连接一 Z向滑轨，Z向滑轨上设有一安装大探头的大探头固定支架，所述动力装置的Z向步进电机通过Z向电机固定支架与X向移动支架连接，并与大探头支架传动连接，构成三维自动对中系统的上下移动系统。
[0009]为了提高对中系统的精准度，减小空转长度，上述三维自动对中系统，所述Y向步进电机与Y向移动支架、X向步进电机与X向移动支架、Z向步进电机与大探头支架的三个传动连接均为通过丝杠连接。
[0010]为了提高对中系统的稳定性，采用消隙的滑轨作为机械传动组件的核心部件，上述三维自动对中系统，所述Y向滑轨、X向滑轨、Z向滑轨均为消隙的滑轨。
[0011]为了提高对中速度和防止出现误操作，采用光电传感器与限位片结合的方式来限位，上述三维自动对中系统，所述对中平台上设有二个Y向光电传感器，所述Y向移动支架上设有Y向限位片；所述X向电机固定支架上设有X向光电传感器，所述Z向移动支架上设有X向限位片；所述Z向电机固定支架上设有Z向光电传感器，所述大探头支架上设有Z向限位片。
[0012]进一步的，上述三维自动对中系统，所述Y向光电传感器、X向光电传感器、Z向光电传感器均采用半圆型光电探测阵列。
[0013]进一步的，上述三维自动对中系统，所述Y向限位片、X向限位片、Z向限位片均为光电传感器限位。
[0014]本实用新型的三维自动对中系统与现有技术相比，具有如下优越的特点:
[0015]1、本实用新型实现了三维自动对中。
[0016]2、本实用新型设计合理、结构简单紧凑。方便实用，可用于各型号激光粒度分析仪。
[0017]3、本实用新型采用自带丝杠的步进电机和消隙滑轨结合的方式能够稳定、快速、准确地实现三维对中需求。
[0018]4、本实用新型采用光电传感器与限位片结合的方式来限位，能够防止因光路问题引起的传动系统损坏。
【专利附图】
【附图说明】
[0019]附图1为本实用新型的主视结构示意图；
[0020]附图2为本实用新型的左视剖面结构示意图；
[0021]附图3为本实用新型的俯视结构示意图。
[0022]图中，1、X向光电传感器，2、X向限位片，3、X向电机固定支架，4、大探头，5、Y向移动支架，6、Υ向步进电机，7、Ζ向电机固定支架，8、对中平台，9、Ζ向限位片，10、Ζ向光电传感器，11、大探头固定钉，12、Χ向移动支架，13、Χ向滑轨，14、Ζ向移动支架，15、Ζ向电机连接板，16、对中探头，17、对中探头支架，18、X向移动滑块，19、Y向电机轴套，20、Y向光电传感器1，21、Υ向滑轨，22、Υ向光电传感器2，23、大探头支架，24、Ζ向滑轨，25、大探头固定支架，26、Z向步进电机，27、Χ向步进电机，28、大探头连接块，29、Y向滑块，30、Y向移动传感器1，31、Υ向限位片，32、Y向移动传感器2，33、Y向步进电机固定支架，34、Y向步进电机。
【具体实施方式】
[0023]下面结合附图1、2、3对本实用新型的三维自动对中系统作以下详细地说明。
[0024]如附图1、2、3所示，本实用新型的三维自动对中系统，其结构包括动力装置、机械传动组件、光学探头组件、光电限位装置。机械传动组件的对中平台水平放置，在对中平台的上方装有一个Y向滑轨(21)、一个Y向移动支架(5)、动力装置的Y向步进电机(6)通过Y向电机固定支架(33)与对中平台(8)相连，并通过丝杠与Y向移动支架(5)相连，与安装在对中平台(8)上的光电限位装置的Y向光电传感器I (30)、Υ向光电传感器2 (32)和安装在Y向移动支架(5)的的Y向限位片(31)，构成三维自动对中系统的前后移动系统，在前后移动系统的上方装有一个X向滑轨(13)，滑轨上方装有X向移动支架(12)，动力装置的X向步进电机(27)通过X向电机固定支架(3)与Y向移动支架(5)相连，并通过丝杠与X向移动支架(12)相连，与安装在X向电机固定支架(3)上的光电限位装置的X向光电传感器
(I)和安装在Z向移动支架(14)的的X向限位片(2)，构成三维自动对中系统的左右移动系统，光学探测组件的大探头(4)安装在大探头固定支架上(25)，通过Z向滑轨(24)与X向移动支架(12)相连，动力装置的Z向步进电机(26)通过Z向电机固定支架(7)与X向移动支架(12)相连，并通过丝杠与大探头支架(23)相连，与安装在Z向电机固定支架上(7)的光电限位装置的Z向光电传感器(10)和安装在大探头支架上(23)的Z向限位片(9)，构成三维自动对中系统的上下移动系统。
[0025]本发明的三维自动对中系统其加工、安装方便，能够满足各型号激光粒度分析仪器的对中需求。
[0026]除说明书所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。
[0027]以上所述的具体实施例，对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.三维自动对中系统，包括动力装置和机械传动组件，其特征在于: 所述机械传动组件包括一水平设置的对中平台(8)，其上方设有一 Y向滑轨(21)、Y向滑轨(21)上设有一 Y向移动支架(5)，所述动力装置的Y向步进电机(6)通过Y向电机固定支架(33)与对中平台(8)连接，并与Y向移动支架(5)传动连接，构成三维自动对中系统的前后移动系统； 所述前后移动系统的上方设有一 X向滑轨(13)，X向滑轨(13)上设有一 X向移动支架(12)，所述动力装置的X向步进电机(27)通过X向电机固定支架⑶与Y向移动支架(5)连接，并与X向移动支架(12)传动连接，构成三维自动对中系统的左右移动系统； 所述X向移动支架(12)连接一 Z向滑轨(24)，Z向滑轨(24)上设有一安装大探头(4)的大探头固定支架(25)，所述动力装置的Z向步进电机(26)通过Z向电机固定支架(7)与X向移动支架(12)连接，并与大探头支架(23)传动连接，构成三维自动对中系统的上下移动系统。
2.根据权利要求1所述的三维自动对中系统，其特征在于:所述Y向步进电机(6)与Y向移动支架(5)、X向步进电机(27)与X向移动支架(12)、Z向步进电机(26)与大探头支架(23)的三个传动连接均为通过丝杠连接。
3.根据权利要求1所述的三维自动对中系统，其特征在于:所述Y向滑轨(21)、Χ向滑轨(13)、Z向滑轨(24)均为消隙的滑轨。
4.根据权利要求2所述的三维自动对中系统，其特征在于:所述Y向滑轨(21)、Χ向滑轨(13)、Z向滑轨(24)均为消隙的滑轨。
5.根据权利要求1一4任一权利要求所述的三维自动对中系统，其特征在于: 所述对中平台上设有二个Y向光电传感器(30，32)，所述Y向移动支架(5)上设有Y向限位片(31)； 所述X向电机固定支架(3)上设有X向光电传感器(I)，所述Z向移动支架(14)上设有X向限位片⑵； 所述Z向电机固定支架(7)上设有Z向光电传感器(10)，所述大探头支架(23)上设有Z向限位片(9)。
6.根据权利要求5所述的三维自动对中系统，其特征在于:所述Y向光电传感器(30，32)、X向光电传感器(I)、Z向光电传感器(10)均采用半圆型光电探测阵列。
7.根据权利要求5所述的三维自动对中系统，其特征在于:所述Y向限位片(31)、Χ向限位片(2)、Z向限位片(9)均为光电传感器限位。
8.根据权利要求6所述的三维自动对中系统，其特征在于:所述Y向限位片(31)、Χ向限位片(2)、Z向限位片(9)均为光电传感器限位。
【文档编号】G01N15/02GK203606256SQ201320835882
【公开日】2014年5月21日 申请日期:2013年12月18日 优先权日:2013年12月18日
【发明者】李文涛 申请人:济南微纳颗粒仪器股份有限公司