一种测量超快过程的方法
【专利摘要】本发明涉及一种测量超快过程的方法，该方法包括如下步骤：泵浦脉冲制备相干叠加态原子或分子；探测脉冲与处于相干叠加态的原子或分子气体相互作用，产生阈上电离谱；td为探测脉冲与泵浦脉冲之间的延时，当td变化时，阈上电离谱的强度将会产生显著的变化，变化的周期与电子波包振动频率(ωe-ωg)相同，即通过观察阈上电离谱的强度可测量电子的运动；所述阈上电离谱的测量可通过冷靶反冲离子动量谱仪来测量；所述泵浦脉冲与探测脉冲可用飞秒激光器来实现，泵浦脉冲的中心频率为(ωe-ωg)，探测脉冲频率在近红外波段。
【专利说明】一种测量超快过程的方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测量超快过程的方法，属于测量领域。
【背景技术】
[0002]超快过程指发生在很短时间尺度内(小于10-15秒)的动力学行为。阈上电离指原子或分子吸收多于所需最少数目的光子而电离。
【发明内容】
[0003]本发明涉及一种测量超快过程的方法，
[0004](I)泵浦脉冲用于制备相干叠加态原子或分子。
[0005](2)探测脉冲与处于相干叠加态的原子或分子气体相互作用，产生阈上电离谱。
[0006](3) td为探测脉冲与泵浦脉冲之间的延时，当td变化时，阈上电离谱的强度将会产生显著的变化，变化的周期与电子波包振动频率(ωε-ω8)相同，即通过观察阈上电离谱的强度可测量电子的运动。
[0007]所述阈上电离谱的测量可通过冷靶反冲离子动量谱仪来测量。
[0008]所述泵浦脉冲与探测脉冲可用飞秒激光器来实现。泵浦脉冲的中心频率为(ω6-ω8),探测脉冲频率在近红外波段。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]通过参照附图更详细地描述本发明的示例性实施例，本发明的以上和其它方面及优点将变得更加易于清楚，在附图中:
[0010]图1为本发明的一种测量超快过程的方法的测量电子运动原理示意图。
【具体实施方式】
[0011]在下文中，现在将参照附图更充分地描述本发明，在附图中示出了各种实施例。然而，本发明可以以许多不同的形式来实施，且不应该解释为局限于在此阐述的实施例。相反，提供这些实施例使得本公开将是彻底和完全的，并将本发明的范围充分地传达给本领域技术人员。
[0012]在下文中，将参照附图更详细地描述本发明的示例性实施例。
[0013]一个处于二能级相干态的原子或类原子的系统中，电子的波函数Ψ (r, t)表示为
【权利要求】
1.一种测量超快过程的方法，其特征在于该方法包括如下步骤: (1)泵浦脉冲制备相干叠加态原子或分子； (2)探测脉冲与处于相干叠加态的原子或分子气体相互作用，产生阈上电离谱； (3)td为探测脉冲与泵浦脉冲之间的延时，当^变化时，阈上电离谱的强度将会产生显著的变化，变化的周期与电子波包振动频率(ωε-ω8)相同，即通过观察阈上电离谱的强度可测量电子的运动； 所述阈上电离谱的测量可通过冷靶反冲离子动量谱仪来测量； 所述泵浦脉冲与探测脉 冲可用飞秒激光器来实现，泵浦脉冲的中心频率为(ω^ω8)，探测脉冲频率在近红外波段。
【文档编号】G01N27/64GK103776894SQ201410037503
【公开日】2014年5月7日 申请日期:2014年1月26日 优先权日:2014年1月26日
【发明者】向阳, 郭辉, 冯红梅, 陈玮, 李亚, 王利红, 许媛 申请人:河南理工大学