一种光谱晶振测量装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种光谱晶振测量装置，包括谐振管和晶振，所述晶振的底部有一晶振杆，所述晶振的中部凹陷，所述晶振的中部凹陷处的顶面为晶振平面，所述谐振管放置在所述晶振平面上，所述谐振管为一圆柱管。本发明的光谱晶振测量装置结构简单，测量光源的光谱方便有效。
【专利说明】一种光谱晶振测量装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种用晶振测量光谱的装置。
【背景技术】
[0002]光源包括激光的利用中需要对光谱进行测量，设计一种简单有效的光谱测量装置是很需要的。
【发明内容】
[0003]本发明主要解决的技术问题是提供一种光谱晶振测量装置，该光谱晶振测量装置结构简单，测量光源的光谱方便有效。
[0004]为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是:提供一种光谱晶振测量装置，包括谐振管和晶振，所述晶振的底部有一晶振杆，所述晶振的中部凹陷，所述晶振的中部凹陷处的顶面为晶振平面，所述谐振管放置在所述晶振平面上。
[0005]在本发明一个较佳实施例中，所述谐振管为一圆柱管。
[0006]在本发明一个较佳实施例中，所述谐振管的内管径在轴线上相同。
[0007]在本发明一个较佳实施例中，所述晶振为音叉式晶振。
[0008]本发明的有益效果是:本发明的光谱晶振测量装置结构简单，测量光源的光谱方便有效。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中:
图1是本发明的光谱晶振测量装置的结构示意图。
[0010]附图中各部件的标记如下:1、谐振管，2、晶振，3、晶振平面，4、晶振杆。
[0011]图中箭头为光源照射方向。
【具体实施方式】
[0012]下面将对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
[0013]请参阅图1，本发明实施例包括:
一种光谱晶振测量装置，包括谐振管I和晶振2，所述晶振2的底部有一晶振杆4，所述晶振2的中部凹陷，所述晶振2的中部凹陷处的顶面为晶振平面3，所述谐振管I放置在所述晶振平面3上。
[0014]优选地，所述谐振管I为一圆柱管。
[0015]优选地，所述谐振管I的内管径在轴线上相同。
[0016]优选地，所述晶振2为音叉式晶振。
[0017]光源或激光照进谐振管I的管内，晶振2对光源进行测量。
[0018]以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的【技术领域】，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
【权利要求】
1.一种光谱晶振测量装置，其特征在于，包括谐振管和晶振，所述晶振的底部有一晶振杆，所述晶振的中部凹陷，所述晶振的中部凹陷处的顶面为晶振平面，所述谐振管放置在所述晶振平面上。
2.根据权利要求1所述的光谱晶振测量装置，其特征在于，所述谐振管为一圆柱管。
3.根据权利要求2所述的光谱晶振测量装置，其特征在于，所述谐振管的内管径在轴线上相同。
4.根据权利要求1所述的光谱晶振测量装置，其特征在于，所述晶振为音叉式晶振。
【文档编号】G01J3/28GK104132731SQ201410395561
【公开日】2014年11月5日 申请日期:2014年8月13日 优先权日:2014年8月13日
【发明者】陈学兵 申请人:苏州普京真空技术有限公司