一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法
【专利摘要】本发明提供了一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法，用于判断气体绝缘电器用盆式绝缘子的微观缺陷，以筛选不合格的产品以及优化产品设计。所述盆式绝缘子微观缺陷判断方法，其特征在于，在进行盆式绝缘子水压破坏试验或耐受试验时，观察分析试验过程中的声发射信号，若盆式绝缘子被施加负荷在小于70％破坏负荷的时间段内出现了明显的大量的声发射事件，则说明盆式绝缘子存在微观缺陷，反之，则说明盆式绝缘子不存在微观缺陷。
【专利说明】一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法
【【技术领域】】
[0001]本发明属于绝缘子产品检测领域，特别涉及用于气体绝缘电器用盆式绝缘子的微观缺陷检测。本发明所提供的盆式绝缘子微观缺陷判断方法，适用于电压高于1000V的高压领域的盆式绝缘子。
【【背景技术】】
[0002]气体绝缘电器设备自20世纪60年代实用化以来，已广泛运行于世界各地。作为关键部件，盆式绝缘子的运行可靠性十分重要。盆式绝缘子的性能指标有电气性能指标、机械性能指标等，其中水压试验指标是机械性能的一个重要指标。水压试验指标表征盆式绝缘子机械强度的同时也能够反映盆式绝缘子的结构和工艺的一致性。
[0003]目前的盆式绝缘子水压破坏试验方法只能观察到绝缘子的最终水压破坏值，而水压耐受试验也只能根据明显的裂纹或泄漏判断盆式绝缘子是否存在缺陷。由于试验结果具有一定的分散性且试验过程不能直接观测，因此不能保证所有通过水压耐受试验的盆式绝缘子内部没有微观缺陷，对于水压破坏试验结果异常的盆式绝缘子也没有解释其异常破坏值的有力依据。总体来说，现在的试验方法缺乏对于盆式绝缘子微观缺陷的有效判断。
[0004]鉴于以上技术问题，实有必要提供一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法。
【
【发明内容】
】
[0005]本发明的目的是提供一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法，以检测盆式绝缘子是否具有微观缺陷。
[0006]为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案:
[0007]一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法，适用于电压高于1000V的高压领域的盆式绝缘子，将盆式绝缘子连接在水压试验工装上，然后在盆式绝缘子表面安装声发射传感器，进行水压试验的过程中，捕捉声发射信号；若盆式绝缘子被施加负荷在小于70%破坏负荷的时间段内出现上述声发射信号，则说明盆式绝缘子存在微观缺陷，否则不存在微观缺陷。
[0008]上述声发射信号指:幅度大于50dB、持续时间大于350us、振铃计数大于20、发生能量大于800mV.us的信号。
[0009]在进行水压试验之前，首先在空载状态下，检测环境噪声对声发射传感器的影响，以对传感器进行调试，滤除环境噪音。
[0010]检测环境噪声对声发射传感器的影响时，设置的参数为:波形门限45dB、参数门限45dB、前放增益40dB。
[0011]所述声发射传感器和盆式绝缘子的接触部位涂覆有耦合剂。
[0012]所述声发射传感器的谐振频率为150kHz，测量频率范围为22kHz?220kHz。
[0013]将盆式绝缘子与水压试验工装连接好后，首先检查试验工装有无漏水，确保水压试验运行正常。
[0014]所述盆式绝缘子声发射信号频率为10kHz — 200kHz。
[0015]与现有技术相比，本发明在盆式绝缘子表面安装声发射传感器，进行水压试验的过程中，捕捉声发射信号；若盆式绝缘子被施加负荷在小于70%破坏负荷的时间段内出现上述声发射信号，则说明盆式绝缘子存在微观缺陷，否则不存在微观缺陷。本发明可灵敏判断盆式绝缘子是否存在微观缺陷，提高了盆式绝缘子水压试验的质量，帮助筛选不合格产品，帮助确定水压破坏试验值异常的原因，保证了通过水压试验的产品的可靠性。
【【具体实施方式】】
[0016]本发明提供一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法，具体的步骤包括以下内容:
[0017]1、装配盆式绝缘子与水压试验工装，将水压试验设备与工装用管路连接，开启水压试验设备检查工装连接有无漏水，确保水压设备运行正常；
[0018]2、在盆式绝缘子表面均勾分布I至6个声发射传感器，在声发射传感器和盆式绝缘子接触位置涂抹耦合剂，将声发射传感器平稳固定在盆式绝缘子表面用以检测试验过程中的声发射信号；
[0019]3、在空载状态下测得环境噪音对声发射仪器的影响，设置波形门限45dB、参数门限45dB、前放增益40dB等各项参数，调试仪器，滤除环境噪音；
[0020]4、启动声发射检测系统，启动盆式绝缘子水压试验设备，在进行盆式绝缘子水压破坏试验或耐受试验的同时，记录试验过程中的声发射信号；
[0021]5、使用声发射信号的主要判定参数:声发射信号的幅度大于50dB、持续时间大于350us、参考振铃计数大于20、发生能量大于800mV.us来确定此信号是否来自盆式绝缘子的微观缺陷；
[0022]6、若施加负荷在小于70%破坏负荷的时间段内出现了明显的大量的声发射事件，则说明所检测盆式绝缘子存在微观缺陷；反之，则说明所检测的盆式绝缘子不存在微观缺陷。
[0023]所述破坏负荷是指，盆式绝缘子发生损坏时所被施加的负荷。
[0024]所述盆式绝缘子声发射信号频率为10kHz — 200kHz，本发明选择谐振频率为150kHz，测量频率范围为22kHz-220kHz的声发射传感器。
[0025]本发明在盆式绝缘子表面安装声发射传感器，进行水压试验的过程中，捕捉声发射信号；若盆式绝缘子被施加负荷在小于70%破坏负荷的时间段内出现上述声发射信号，则说明盆式绝缘子存在微观缺陷，否则不存在微观缺陷。本发明可灵敏判断盆式绝缘子是否存在微观缺陷，提高了盆式绝缘子水压试验的质量，帮助筛选不合格产品，帮助确定水压破坏试验值异常的原因，保证了通过水压试验的产品的可靠性。
【权利要求】
1.一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法，适用于电压高于100V的高压领域的盆式绝缘子，其特征在于，将盆式绝缘子连接在水压试验工装上，然后在盆式绝缘子表面安装声发射传感器，进行水压试验的过程中，捕捉声发射信号；若盆式绝缘子被施加负荷在小于70%破坏负荷的时间段内出现上述声发射信号，则说明盆式绝缘子存在微观缺陷，否则不存在微观缺陷。
2.如权利要求1所述的一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法，其特征在于，上述声发射信号指:幅度大于50dB、持续时间大于350us、振铃计数大于20、发生能量大于800mV -us的信号。
3.如权利要求1所述的一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法，其特征在于，在进行水压试验之前，首先在空载状态下，检测环境噪声对声发射传感器的影响，以对传感器进行调试，滤除环境噪音。
4.如权利要求3所述的一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法，其特征在于，检测环境噪声对声发射传感器的影响时，设置的参数为:波形门限45dB、参数门限45dB、前放增益40dBo
5.如权利要求1至4中任意一项所述的一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法，其特征在于，所述声发射传感器和盆式绝缘子的接触部位涂覆有耦合剂。
6.如权利要求1至4中任意一项所述的一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法，其特征在于，所述声发射传感器的谐振频率为150kHz，测量频率范围为22kHz?220kHz。
7.如权利要求1至4中任意一项所述的一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法，其特征在于，将盆式绝缘子与水压试验工装连接好后，首先检查试验工装有无漏水，确保水压试验运行正常。
8.如权利要求1所述的一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法，其特征在于，所述盆式绝缘子声发射信号频率为10kHz — 200kHz。
【文档编号】G01N29/14GK104458917SQ201410735099
【公开日】2015年3月25日 申请日期:2014年12月4日 优先权日:2014年12月4日
【发明者】党镇平, 施毅舟, 李西育, 王贝 申请人:中国西电电气股份有限公司, 西安高压电器研究院有限责任公司