继电器寿命测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提出一种继电器寿命测试装置，其中，待测继电器为N个，每个继电器均包括驱动线圈和触点，N个继电器的触点串联连接且均处于闭合状态，其中，第N继电器的触点的一端与预设电源的第一端连接，N为正整数，测试装置包括：负载，负载的一端与N个继电器中的第一继电器的触点的一端连接，负载的另一端与预设电源的第二端连接；控制器，控制器与每个继电器的驱动线圈分别相连，控制器以预设控制逻辑时序控制N个继电器的触点依次断开和闭合以对N个继电器的寿命进行测试。本实用新型的继电器寿命测试装置，可以减少测试负载，降低成本，降低配电要求以及降低测试场地的散热要求。
【专利说明】继电器寿命测试装置
【技术领域】
[0001 ] 本实用新型涉及电器【技术领域】，特别涉及一种继电器寿命测试装置。
【背景技术】
[0002]继电器是电器设备中常用的元件，对于继电器在工作中要进行多次的通断，所以需要对继电器的寿命进行测试。继电器寿命测试要求继电器在带负载的情况下进行通断操作，进而检测继电器的电气寿命。如图1所示，现有的继电器寿命测试装置采用每个继电器单独带负载进行测试，即一个继电器带有一路负载，例如继电器ΚΓ配置负载LI’，继电器KN’配置负载LN’，通过施加同一个驱动信号P’使被测试继电器触点同时吸合和断开，达到自动测试继电器电气寿命的目的。其中，对于大功率继电器寿命测试，因为负载功率受限，一般工位为3-5个，不能满足多样本测试需求。
[0003]可见，目前的继电器寿命测试方案中需要每个继电器均带有一组负载，负载数量多则成本高，如果减少继电器测试数量，又不能满足测试数量的要求，总体功率大则配电要求高，发热量大则测试场地散热要求高。
实用新型内容
[0004]本实用新型旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。
[0005]为此，本实用新型需要提出一种继电器寿命测试装置，该继电器寿命测试装置，可以减少测试负载，降低成本，降低配电要求以及降低测试场地散热要求。
[0006]为达到上述目的，本实用新型提出一种继电器寿命测试装置，其中，待测继电器为N个，每个继电器均包括驱动线圈和触点，N个继电器的触点串联连接且均处于闭合状态，其中，第N继电器的触点的一端与预设电源的第一端连接，N为正整数，所述测试装置包括:负载，所述负载的一端与所述N个继电器中的第一继电器的触点的一端连接，所述负载的另一端与所述预设电源的第二端连接；控制器，所述控制器与所述每个继电器的驱动线圈分别相连，所述控制器以预设控制逻辑时序控制所述N个继电器的触点依次断开和闭合以对所述N个继电器的寿命进行测试。
[0007]根据本实用新型的继电器寿命测试装置，待测的N个继电器的触点采用串联的结构，N个继电器连接同一个负载，进而控制器通过预设逻辑控制时序控制N个继电器的触点依次断开和闭合，从而实现对N个继电器的寿命进行测试，与现有方案相比，同时测试N个继电器，负载数量仅为现有方案的1/N，负载成本有效降低；另外，同时测试N个继电器，对电网配电容量的要求仅为现有方案的1/N，大大降低了对电网配电的要求，可以在低功率负载条件下满足多工位测试需求；另外，测试同样数量的继电器，对负载散热空间的要求远小于现有方案，降低了对负载散热场地的要求。
[0008]具体地，所述控制器为PLC(Programmable Logic Controller,可编程逻辑控制器)。
[0009]另外，上述测试装置还可以包括逻辑判断装置，所述逻辑判断装置与所述控制器和所述负载分别连接，用于检测所述负载的电流波形，并判断所述负载的电流波形是否与所述控制器输出的逻辑时序信号一致。
[0010]其中，具体地，所述逻辑判断装置包括或非门电路或与非门电路。
[0011]进一步地，所述控制器包括:计数模块，所述计数模块用于记录所述每个继电器的测试次数。
[0012]本实用新型附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。
【专利附图】
【附图说明】
[0013]本实用新型上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中:
[0014]图1为现有技术中继电器寿命测试装置的示意图；
[0015]图2为根据本实用新型的一个实施例的继电器寿命测试装置的示意图；
[0016]图3为根据本实用新型的一个具体实施例的继电器寿命测试装置的控制逻辑时序不意图；以及
[0017]图4为根据本实用新型的另一个实施例的继电器寿命测试装置的示意图。
[0018]附图标记
[0019]测试装置100，负载10和控制器20，逻辑判断装置30，计数模块201。
【具体实施方式】
[0020]下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能解释为对本实用新型的限制。
[0021]下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本实用新型的不同结构。为了简化本实用新型的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本实用新型。此外，本实用新型可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。此外，本实用新型提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的可应用于性和/或其他材料的使用。
[0022]参照下面的描述和附图，将清楚本实用新型的实施例的这些和其他方面。在这些描述和附图中，具体公开了本实用新型的实施例中的一些特定实施方式，来表示实施本实用新型的实施例的原理的一些方式，但是应当理解，本实用新型的实施例的范围不受此限制。相反，本实用新型的实施例包括落入所附加权利要求书的精神和内涵范围内的所有变化、修改和等同物。
[0023]下面参照附图描述根据本实用新型实施例的继电器寿命测试装置。
[0024]图2为根据本实用新型的一个实施例的继电器寿命测试装置的示意图。如图2所示，其中，待测继电器为N个例如继电器K1、继电器K2至继电器KN，N为正整数，也就是说，本实用新型实施例的继电器寿命测试装置100可以包括N个测试工位，换句话说，该测试装置100可以同时测试N个继电器。每个继电器均包括驱动线圈和触点，N个继电器的触点串联连接且均处于闭合状态，其中，第N继电器KN的触点的一端a与预设电源的第一端连接。
[0025]本实用新型实施例的继电器寿命测试装置100包括负载10和控制器20。其中，负载10的一端I与N个继电器中的第一继电器例如Kl的触点的一端b连接,负载10的另一端2与预设电源的第二端连接。可以看出，本实用新型实施例的测试装置100进行测试时，N个待测继电器的触点采取串联结构，N个继电器共用一个负载10，从而可以减少负载数量，降低成本。
[0026]控制器20与每个继电器的驱动线圈分别相连，控制器20以预设逻辑时序控制N个继电器的触点依次断开和闭合以对N个继电器的寿命进行测试。具体地，待测的N个继电器的触点串联之后连接负载10，各个继电器触点常态为闭合状态，通过控制器20例如PLC单独控制各个继电器的驱动信号，即控制器20分别控制各个继电器的驱动线圈的通断，使得各个继电器的触点依次断开、闭合，达到自动测试继电器触点寿命的目的。
[0027]具体地，在本实用新型的一个实施例中，控制器20例如PLC的预设控制逻辑时序如图3所示，在初始状态时N个继电器的驱动信号例如P1、P2至Pn为高电平，即每个继电器均处于闭合状态，每个继电器的触点均流经测试电流。在Tll时刻，继电器Kl的驱动信号Pl变为低电平，即继电器Kl的触点断开，继电器Kl的触点经历从闭合到断开并管段电流的测试过程。进而在T12时刻，继电器Kl的驱动信号Pl变为高电平，继电器Kl的触点闭合，继电器Kl的触点经历从断开到闭合并导通电流的测试过程。此时继电器Kl经历一个完整的测试动作。同理地，控制器20按照如图3所示的控制逻辑时序控制待测的N-1个继电器依次执行继电器Kl上述的动作，直至TN2时刻所有待测继电器经历一次完整的测试动作。进而如此循环，达到测试N个继电器的电气寿命的目的。
[0028]进一步地，在本实用新型的一个实施例中，如图4所示，上述测试装置100还包括逻辑判断装置30，逻辑判断装置30与控制器20和负载10分别连接，用于检测负载10的电流波形，并判断负载10的电流波形是否与控制器20输出的逻辑时序信号一致其中，逻辑判断装置30可以包括或非门电路或与非门电路来实现。具体地，例如控制器20按照预设控制逻辑时序控制继电器Kl经历一次完整的测试动作，在继电器Kl进行动作的同时逻辑判断装置30检测负载10的电流，进而将负载10的电流波形与控制器20输出的对继电器Kl的逻辑时序信号进行比较，如果负载10的电流信号与控制器20输出至继电器Kl的逻辑时序信号一致，则说明继电器Kl的触点的通断是正常的，否则故障。
[0029]另外，对继电器的电气寿命进行测试，可以对继电器的触点正常通断的次数进行记录。在本实用新型的一个实施例中，如图4所示，控制器20包括计数模块201，计数模块201用于记录每个继电器的测试次数。具体地，控制器20输出驱动信号至继电器，控制继电器完成一次完整的测试动作之后，逻辑判断装置30判断负载的电流波形与控制器20的逻辑时序信号一致时，反馈继电器触点通断正常的信息至控制器20，进而控制器20控制计数模块201记录次数。
[0030]综上所述，根据本实用新型实施例的继电器寿命测试装置，采用待测的N个继电器的触点串联的结构，N个继电器连接同一个负载，进而控制器通过预设逻辑控制时序控制N个继电器的触点依次断开和闭合，从而实现对N个继电器的寿命进行测试，与现有方案相比，同时测试N个继电器，负载数量仅为现有方案的1/N，负载成本有效降低；另外，同时测试N个继电器，对电网配电容量的要求仅为现有方案的1/N，大大降低了对电网配电的要求；另外，测试同样数量的继电器，对负载散热空间的要求远小于现有方案，降低了对负载散热场地的要求。
[0031 ] 在本实用新型各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
[0032]上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
[0033]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
[0034]在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
[0035]在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0036]在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
[0037]尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同限定。
【权利要求】
1.一种继电器寿命测试装置，其特征在于，待测继电器为N个，每个继电器均包括驱动线圈和触点，N个继电器的触点串联连接且均处于闭合状态，其中，第N继电器的触点的一端与预设电源的第一端连接，N为正整数，所述测试装置包括: 负载，所述负载的一端与所述N个继电器中的第一继电器的触点的一端连接，所述负载的另一端与所述预设电源的第二端连接； 控制器，所述控制器与所述每个继电器的驱动线圈分别相连，所述控制器以预设控制逻辑时序控制所述N个继电器的触点依次断开和闭合以对所述N个继电器的寿命进行测试。
2.如权利要求1所述的继电器寿命测试装置，其特征在于，所述控制器为PLC。
3.如权利要求1所述的继电器寿命测试装置，其特征在于，还包括: 逻辑判断装置，所述逻辑判断装置与所述控制器和所述负载分别连接，用于检测所述负载的电流波形，并判断所述负载的电流波形是否与所述控制器输出的逻辑时序信号一致。
4.如权利要求3所述的继电器寿命测试装置，其特征在于，所述逻辑判断装置包括或非门电路或与非门电路。
5.如权利要求1所述的继电器寿命测试装置，其特征在于，所述控制器包括: 计数模块，所述计数模块用于记录所述每个继电器的测试次数。
【文档编号】G01R31/327GK204065353SQ201420471851
【公开日】2014年12月31日 申请日期:2014年8月20日 优先权日:2014年8月20日
【发明者】刘贵永, 徐国平 申请人:芜湖美的厨卫电器制造有限公司