一种小台阶深度的快速测量装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种小台阶深度的快速测量装置，包括底座、活动支架、千分表、基准块及挡块，所述底座包括水平部和垂直连接在水平部的一端的竖直部而呈直尺状；所述活动支架可上下摆动地安装在所述底座的竖直部上；所述基准块通过一个插管平行地连接在所述活动支架的下方；所述千分表安装在所述活动支架的上端面上，该千分表的表杆依次穿过所述活动支架上的穿孔和插管而使表头位于基准块的下端面；所述挡块放置在所述底座的水平部和竖直部的连接部位，该挡块的厚度与被测产品的总厚度相等。本实用新型的小台阶深度的快速测量装置它具有测量速度快，效率高、操作简单、测量数据直观、制造成本低的特点，使得产品质量好管控。
【专利说明】 -种小台阶深度的快速测量装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种小台阶深度的快速测量装置。
【背景技术】
[0002]随着社会的发展，目前，平面的产品已无法满足现有需求，从而出现大量特殊性的产品规格，比如异形、台阶等等的产品。而在加工具有台阶的产品的时候，台阶深度的测量方式通常是通过测量产品的总厚度减去台阶的厚度，得出台阶的深度。这样的测量方式误差值比较大，手段繁琐，且速度慢，使产品质量不易管控，造成有超差产品流出。
实用新型内容
[0003]本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷而提供一种小台阶深度的快速测量装置，它具有测量速度快，效率高、操作简单、测量数据直观、制造成本低的特点，使得产品质量好管控。
[0004]本实用新型的目的是这样实现的:一种小台阶深度的快速测量装置，包括底座、活动支架、千分表、基准块及挡块，其中，
[0005]所述底座包括水平部和垂直连接在水平部的一端的竖直部而呈直尺状；
[0006]所述活动支架可上下摆动地安装在所述底座的竖直部上；
[0007]所述基准块通过一个插管平行地连接在所述活动支架的下方；
[0008]所述千分表安装在所述活动支架的上端面上，该千分表的表杆依次穿过所述活动支架上的穿孔和插管而使表头位于基准块的下端面；
[0009]所述挡块放置在所述底座的水平部和竖直部的连接部位，该挡块的厚度与被测产品的总厚度相等。
[0010]上述的小台阶深度的快速测量装置，其中，所述活动支架还可根据被测产品的总厚度沿所述底座的竖直部调节高低位置。
[0011]本实用新型的小台阶深度的快速测量装置的技术方案，具有结构简单、操作简单、测量速度快，效率高、测量数据直观、制造成本低的特点，使得产品质量好管控。
【专利附图】
【附图说明】
[0012]图1是本实用新型的小台阶深度的快速测量装置的结构示意图。
[0013]图2是本实用新型的小台阶深度的快速测量装置的测量状态图；
[0014]图3是本实用新型的小台阶深度的快速测量装置的测量状态图；
[0015]图4是本实用新型的小台阶深度的快速测量装置的测量状态图。
【具体实施方式】
[0016]下面将结合附图对本实用新型作进一步说明。
[0017]请参阅图1，本实用新型的一种小台阶深度的快速测量装置，包括底座1、活动支架2、千分表3、基准块4及挡块5，其中:
[0018]底座I包括水平部11和垂直连接在水平部11的一端的竖直部12而呈直尺状；
[0019]活动支架2可上下摆动地安装在底座I的竖直部12上；基准块4通过一个插管40平行地连接在活动支架2的下方；
[0020]千分表3安装在活动支架2的上端面上，该千分表3的表杆依次穿过活动支架2的穿孔和插管40而使表头30位于基准块4的下端面；
[0021]挡块5放置在底座I的水平部11和竖直部12的连接部位，该挡块5的厚度与被测广品的总厚度相等。
[0022]底座I的水平部11的上端面为平整的平面，此平面是高精度加工而成；挡块5也是高精度加工而成，是当被测产品在测量时作为靠山，也就是基准边，上方的基准块4的下端面也是通过高精度加工的；千分表3主要是将测量的数值直观地显示出来；活动支架2主要是利用了杠杆的原理。
[0023]本实用新型的小台阶深度的快速测量装置在工作包括以下步骤:
[0024]1、将活动支架2翘起(如图2所示)，同时将被测产品6有台阶的一端面放在与底座I的水平部11的上端面，再被测产品6的任意一侧面紧靠挡块5，然后放下活动支架2，让基准块4的下端面和千分表3的表头均与被测产品6的无台阶的一端面接触，将千分表置零，此时为零点(如图3所示)；
[0025]2、将活动支架2翘起，同时将被测产品6进行翻面安装，即将被测产品6无台阶的一端面放在与底座I的水平部11的上端面，再将被测产品6的具有台阶的一侧面紧靠挡块5，然后放下活动支架2，此时基准块4的下端面与被测产品6有台阶的一端面接触，而千分表3的表头30则与被测产品6的台阶底面接触，此时千分表3上有数据显示(如图4所示)，此数据即为被测工件6的小台阶深度的数值。
[0026]本实用新型的小台阶深度的快速测量装置中，该活动支架2还可沿底座I的竖直部12调节高低位置，该高低位置是根据被测产品6的总厚度来调节的，使基准块4的下端面与挡块5的上端面接触。
[0027]本实用新型的小台阶深度的快速测量装置的技术方案，具有结构简单、操作简单、测量速度快，效率高、测量数据直观、制造成本低的特点，使得产品质量好管控。
[0028]以上实施例仅供说明本实用新型之用，而非对本实用新型的限制，有关【技术领域】的技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，还可以作出各种变换或变型，因此所有等同的技术方案也应该属于本实用新型的范畴，应由各权利要求所限定。
【权利要求】
1.一种小台阶深度的快速测量装置，包括底座、活动支架、千分表、基准块及挡块，其特征在于， 所述底座包括水平部和垂直连接在水平部的一端的竖直部而呈直尺状； 所述活动支架可上下摆动地安装在所述底座的竖直部上； 所述基准块通过一个插管平行地连接在所述活动支架的下方； 所述千分表安装在所述活动支架的上端面上，该千分表的表杆依次穿过所述活动支架上的穿孔和插管而使表头位于基准块的下端面； 所述挡块放置在所述底座的水平部和竖直部的连接部位，该挡块的厚度与被测产品的总厚度相等。
2.根据权利要求1所述的小台阶深度的快速测量装置，其特征在于，所述活动支架还可根据被测产品的总厚度沿所述底座的竖直部调节高低位置。
【文档编号】G01B5/18GK204255257SQ201420754083
【公开日】2015年4月8日 申请日期:2014年12月4日 优先权日:2014年12月4日
【发明者】吴金锋 申请人:上海光和光学制造股份有限公司