本发明涉及测量领域，具体为一种可用于稀土浓度测定的浓度分析仪。
背景技术：
我国有大中型稀土分离厂几十家，都依靠实验室大型仪器分析和中间控制分析指导生产。由于分析结果之后，不能及时掌握槽体情况来调整工艺，使得产品质量和产量得不到保证，因而急需能在线分析和自动控制的分析仪来稳定工艺流程。
技术实现要素：
本发明所解决的技术问题在于提供一种浓度分析仪，以解决上述背景技术中的缺点。
本发明所解决的技术问题采用以下技术方案来实现：
浓度分析仪，包含Ba-133放射源、铅皮、半导体探测器和工控机，所述半导体探测器包括半导体晶体、阴极、阳极和至少一个阶梯电极，所述半导体晶体包括顶面、底面和至少一个侧面，所述阴极设于所述底面上，所述阳极设于所述顶面上，所述阶梯电极设于至少一个所述侧面上，所述Ba-133放射源置于所述铅皮中，并与所述半导体探测器一起置于萃取槽的同侧，所述铅皮上留有放射孔并正对萃取槽，所述半导体探测器通过电缆与所述工控机连接。
本发明中，所述Ba-133放射源与所述半导体探测器轴线的夹角调整范围是0°～90°，所述Ba-133放射源和所述半导体探测器距萃取槽的距离调整范围均为30～300mm。所述工控机采用能谱分析法对所述半导体探测器的信号进行分析处理。
有益效果
本发明采用在线分析，给工艺人员提供了及时的槽体信息，减小了槽体的波动幅度，在稳定的槽体下生产，可以加大进料流量和出口流量，充分发挥萃取槽对稀土分离能力，提高产品产量和合格率。
附图说明
图1为浓度分析仪的原理框图。
具体实施方式
为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本发明。
参加图1，浓度分析仪的原理框图，浓度分析仪，包含Ba-133放射源6、铅皮5、半导体探测器2和工控机4，所述半导体探测器包括半导体晶体、阴极、阳极和至少一个阶梯电极，所述半导体晶体包括顶面、底面和至少一个侧面，所述阴极设于所述底面上，所述阳极设于所述顶面上，所述阶梯电极设于至少一个所述侧面上，所述Ba-133放射源6置于所述铅皮5中，并与所述半导体探测器2一起置于萃取槽1的同侧，所述铅皮5上留有放射孔并正对萃取槽1，所述半导体探测器2通过电缆3与所述工控机连4接。
所述Ba-133放射源6与所述半导体探测器2轴线夹角调整范围是0°～90°，所述Ba-133放射源6和所述半导体探测器2距萃取槽1的距离调整范围均为30～300mm。所述工控机4采用能谱分析法对所述半导体探测器2的信号进行分析处理。
以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征及本发明的优点，本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各 种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内，本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。