技术总结
本发明公开了一种浓度分析仪，包含Ba-133放射源、铅皮、半导体探测器和工控机，所述半导体探测器包括半导体晶体、阴极、阳极和至少一个阶梯电极，所述半导体晶体包括顶面、底面和至少一个侧面，所述阴极设于所述底面上，所述阳极设于所述顶面上，所述阶梯电极设于至少一个所述侧面上。本发明采用在线分析，给工艺人员提供了及时的槽体信息，充分发挥萃取槽对稀土分离能力，提高产品产量和合格率。
技术研发人员：不公告发明人
受保护的技术使用者：王彩云
文档号码：201510861196
技术研发日：2015.11.29
技术公布日：2017.06.09