本发明涉及一种电子通讯领域的边界扫描测试装置，尤其是涉及一种高效边界扫描测试系统。
背景技术：
随着电路技术进入超大规模集成时代，超大规模集成电路的高度复杂性，以及多层印制板、表面贴装、圆片规模集成和多芯片模块技术在电路系统中的应用，都使得电路节点的物理可访问性正逐步削弱以至于消失，电路板体积减小、元器件引脚增多和板上功能密度增加使得能够留给探针的测试点大幅度缩小，传统的在线测试系统测试已无法很好地满足这类产品的测试，一种新的测试技术产生了，联合测试行为组织定义这种新的测试方法为边界扫描测试。但目前许多边界扫描测试仪测试效率不高，无法同时对不同的电路板进行测试，从而也带来了测试成本的上升。
技术实现要素：
本发明的主要目的是提供一种具有高测试效率的边界扫描测试系统。
为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种高效边界扫描测试系统，包括pc机和边界扫描测试仪，所述边界扫描测试仪包括第一信号收发模块，所述第一信号收发模块连接有jtag控制器，所述jtag控制器通过jtag总线并行连接有若干个测试用工位，每个测试工位包括tap控制器，多个测试工位可以实现同时对电路板的测试。所述pc机包括第二信号收发模块。所述第一信号收发模块和第二信号收发模块通过局域网相互通信，从而使得不再受线长的控制，测试位置灵活可调，并且无布线的耗费成本。
进一步，所述jtag总线由tdi、tdo、tms、tck、trst构成，主要完成测试矢量输入、测试响应输出和测试控制。
进一步，所述tap控制器的核心是16个工作状态转换机制，状态转换由tck采样tms的值来实施，主要接收来自jatg总线的命令，控制所要测试的边界扫描单元的行为，实现对待测定器件管脚的设定、读取和隔离。
进一步，所述测试工位还包括边界扫描寄存器、旁路寄存器和指令寄存器。
本发明具有的优点和积极效果是：测试效率高，测试成本低，使用方便。
附图说明
图1是所述高效边界扫描测试系统的结构示意图。
具体实施方式
为了更好的理解本发明，下面结合具体实施例和附图对本发明进行进一步的描述。
如图所示，本发明提供一种高效边界扫描测试系统，包括pc机和边界扫描测试仪，所述边界扫描测试仪包括第一信号收发模块，所述第一信号收发模块连接有jtag控制器，所述jtag控制器通过jtag总线并行连接有若干个测试用工位，具体地，所述jtag总线由tdi、tdo、tms、tck、trst构成，主要完成测试矢量输入、测试响应输出和测试控制。每个测试工位包括tap控制器，所述tap控制器的核心是16个工作状态转换机制，状态转换由tck采样tms的值来实施，主要接收来自jatg总线的命令，控制所要测试的边界扫描单元的行为，实现对待测定器件管脚的设定、读取和隔离。所述测试工位还包括边界扫描寄存器、旁路寄存器和指令寄存器。所述tms、tck、trst并行地与各个工位的tap控制器相连接，而tdi并行地与各个工位的扫描寄存器、旁路寄存器和指令寄存器相连接，所述tdo与各个工位的扫描链的末端并行相连。所述pc机包括第二信号收发模块。所述第一信号收发模块和第二信号收发模块通过局域网相互通信。进一步，所述jtag控制器接收第一信号收发器发出的指令并控制相应的工位进行测试，所述pc机采用并行计算方式对测试结果进行分析并存储，监测效率高，无需多台测试仪，测试成本低。
以上对本发明的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本发明的较佳实施例，不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本专利涵盖范围之内。