技术总结
本发明公开了一种用于快中子通量的测量装置及其测量方法，其中测量方法包括以下步骤：利用高密度聚乙烯层和钛层将快中子转换成次级光子；采集包含钛能量为4.51keV的特征X射线的次级光子；分析处理采集的信号；分析并显示出入射快中子通量。本发明利用多道分析器接收中子与高密度聚乙烯层和钛层反应生成的次级光子，通过分析所获取次级光子中钛的能量为4.51keV的特征X射线全能峰的计数来测量快中子通量。该方法具有中子通量测量精度高的优点。
技术研发人员：单卿;孔智灵;贾文宝;凌永生;黑大千
受保护的技术使用者：南京航空航天大学
文档号码：201610646311
技术研发日：2016.08.08
技术公布日：2016.12.07