驱动控制装置及测试设备的制作方法

本发明涉及电子设备领域，尤其涉及一种驱动控制装置及测试设备。

背景技术：

目前，电子产品的测试机架是通过机架动作(上升或下降)带动机架上的测试装置与电子产品接触来实现对电子产品的测试。其中，对于机架动作的控制均是由控制器来完成，该控制器大多采用交流电磁阀、继电器及按键等元器件组成，通过按键来控制继电器驱动交流电磁阀的开启或关闭，从而实现对测试机架的控制，以进行测试。

但是，由于继电器和交流电磁阀都是通过磁场控制触点的接触/断开来实现开/关作用，在电子产品的测试过程时，继电器和交流电磁阀在开/关过程中产生的电磁会使得测试机架上产生很强的瞬变脉冲干扰，导致测试机架无法顺利完成对电子产品的测试，严重时甚至会损坏被测试的电子产品，导致产品质量存在严重的隐患。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种驱动控制装置及测试设备，旨在解决继电器及直流电磁阀对电子产品的脉冲干扰问题。

为实现上述目的，本发明提供一种驱动控制装置，用于驱动测试机架，以测试电子产品，所述驱动控制装置包括：

主控制模块；

电源模块，用于分别提供电源给所述主控制模块、测试机架及待测电子产品；

机架驱动模块，所述机架驱动模块包括电子开关电路及用于控制所述测试机架气路启/停的直流电磁阀，所述电子开关电路的输入端与所述电源模块电连接，所述电子开关电路的输出端与所述直流电磁阀电连接，所述电子开关电路的受控端与所述主控制模块连接。

优选地，所述电源模块包括：

电源输入端，用于输入外部直流电源；

第一直流转换器，用于将输入的所述外部直流电源转换为供所述主控制模块工作的主控电源电压；

机架电源供电端，用于将所述电源输入端输入的所述外部直流电源输出至所述机架驱动模块；以及

电子产品供电单元，所述电子产品供电单元包括：

第一供电单元，用于为所述电子产品提供第一电源电压和第二电源电压；

第二供电单元，用于为所述电子产品提供第三电源电压；

第三供电单元，用于为所述电子产品提供第四电源电压；

所述第一电源电压小于所述第二电源电压，所述第二电源电压小于所述第三电源电压，所述第三电源电压小于所述第四电源电压。

优选地，所述第一供电单元包括第二直流转换器、第三直流转换器、第一电源开关及第一过流保护电路，所述第一电源开关包括第一电阻、第一三极管及第一CMOS管；所述第一过流保护电路包括第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第二三极管、第三三极管、第四三极管及第一二极管；所述第二直流转换器的输入端用于输入所述外部直流电源；所述第二直流转换器的输出端与所述第三直流转换器的输入端及所述第一CMOS管的输入端互连，所述第三直流转换器的输出端用于输出所述第一电源电压；所述第一CMOS管的输出端与所述第二电阻的第一端及所述第二三极管的发射极互连，所述第一CMOS管的受控端与所述第一三极管的集电极连接；所述第一三极管的基极用于经所述第一电阻输入第一电源开关信号，所述第一三极管的发射极接地；所述第二电阻的第二端与所述第二三极管的基极连接，并用于输出所述第二电源电压；所述第二三极管的基极经所述第三电阻与所述第四电阻接地；所述第三电阻和所述第四电阻的公共端与所述第三三极管的集电极及所述第四三极管的基极互连；所述第三三极管的发射极与所述第五电阻的第一端及所述电源输入端互连，所述第三三极管的基极与所述第五电阻的第二端及所述第六电阻的第一端互连；第六电阻的第二端与所述第四三极管的集电极及所述第一二极管的阴极互连；所述第四三极管的发射极接地；所述第一二极管的阳极与所述第二直流转换器的第一检测端连接。

优选地，所述第二供电单元包括第四直流转换器、第二电源开关及第二过流保护电路，所述第二电源开关包括第七电阻、第五三极管及第二CMOS管；所述第一过流保护电路包括第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十二电阻、第六三极管、第七三极管、第八三极管及第二二极管；所述第四直流转换器的输入端用于输入所述外部直流电源；所述第四直流转换器的输出端与所述第二CMOS管的输入端连接，所述第二CMOS管的输出端与所述第八电阻的第一端及所述第六三极管的发射极互连，所述第二CMOS管的受控端与所述第五三极管的集电极连接；所述第五三极管的基极用于经所述第七电阻输入第二电源开关信号，所述第五三极管的发射极接地；所述第八电阻的第二端与所述第六三极管的基极连接，并用于输出所述第三电源电压；所述第六三极管的基极经所述第九电阻与所述第十电阻接地；所述第九电阻和所述第十电阻的公共端与所述第七三极管的集电极及所述第八三极管的基极互连；所述第七三极管的发射极与所述第十一电阻的第一端及所述电源输入端互连，所述第七三极管的基极与所述第十一电阻的第二端及所述第十二电阻的第一端互连；第十二电阻的第二端与所述第八三极管的集电极及所述第一二极管的阴极互连；所述第八三极管的发射极接地；所述第二二极管的阳极与所述第四直流转换器的第二检测端连接。

优选地，所述第三供电单元包括第三电源开关，所述第三电源开关包括第十三电阻、第三CMOS管及第九三极管，所述第三CMOS管的输入端用于输入所述外部直流电源，所述第三CMOS管的输出端用于输出所述第四电源电压，所述第三CMOS管的受控端与所述第九三极管的集电极连接；所述第九三极管的基极用于经所述第十三电阻输入第三电源开关信号，所述第九三极管的发射极接地。

优选地，所述主控制模块包括主控芯片、开关按键单元及传感信号输入单元；所述主控芯片包括电源脚、第一电源控制脚、第二电源控制脚、第三电源控制脚、传感信号输入脚、按键信号输入脚及驱动控制脚，其中，

所述主控芯片的电源脚用于输入所述主控电源电压，所述主控芯片的按键信号输入脚与所述开关按键单元的按键接口连接，所述主控芯片的传感信号输入脚与所述传感信号输入单元的信号反馈端连接，所述驱动控制脚与所述电子开关电路的受控端连接，所述主控芯片通过所述第一电源控制脚输出所述第一电源开关信号；所述主控芯片通过所述第二电源控制脚输出所述第二电源开关信号；所述主控芯片通过所述第三电源控制脚输出所述第三电源开关信号。

优选地，所述主控芯片具有多个所述按键信号输入脚，所述开关按键单元包括与不同所述按键信号输入脚电连接的启动按键及停止按键。

优选地，所述传感信号输入单元包括第二十一电阻、第二十二电阻、第二十三电阻及第十三极管；所述第二十一电阻的第一端用于输入位置检测信号，所述第二十一电阻的第二端经所述第二十二电阻接地，所述第二十二电阻和所述第二十一电阻的公共端与所述第十一极管的基极连接；所述第十一三极管的集电极为所述传感信号输入单元的信号反馈端，并与所述第二十三电阻的第一端连接，所述第十三极管的发射极接地；所述第二十三电阻的第二端与所述主控芯片的电源脚连接。

优选地，所述电子开关电路包括第三十一电阻、第十二三极管及第四CMOS管，所述第三十一电阻的第一端与所述主控制模块连接，所述第三十一电阻的第二端与所述第十二三极管的基极连接；所述第十二三极管的集电极与所述第四CMOS管的受控端连接，所述第十二三极管的发射极接地；所述第四CMOS管的输入端与所述机架电源供电端连接，所述第四CMOS管的输出端与所述直流电磁阀连接。

本发明还提供一种测试设备，包括：

测试机架，该测试机架包括：

安装板，所述安装板上设有用于测试电子产品的测试针；

气缸；

运动杆，连接所述安装板与气缸，用于在所述气缸的驱动下带动所述安装板沿上下方向来回运动；

位移传感器，用于检测所述运动杆的当前位置；

所述测试设备还包括如上所述的驱动控制装置，所述驱动控制装置的机架驱动模块与所述气缸连接，用于控制所述气缸开启或关闭；所述驱动控制装置的主控制模块与所述传感器连接，用于接收所述传感器检测的位置信号。

本发明测试机架中的驱动控制装置通过设置主控制模块来控制机架驱动模块实现对电子产品的测试，同时主控制模块还驱动电源模块来给被测试的电子产品供电，由于本发明驱动控制装置采用电子式的电子开关电路以及直流电磁阀组成的机架驱动模块，这样避免了驱动控制装置在工作过程中，产生的脉冲干扰对被测试的电子产品的损坏。

附图说明

图1是本发明驱动控制装置中应用于测试机架的一实施例的功能模块示意图；

图2为图1所示驱动控制装置的电源模块的电路结构示意图；

图3为图1所示驱动控制装置的主控制模块的结构示意图；

图4为图1所示驱动控制装置的机架驱动模块的电路结构示意图。

附图说明

本发明的目的、功能特点及优点的实现，将结合实施例，并参照附图作进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

本发明提出一种驱动控制装置。

参照图1，该驱动控制装置包括电源模块10、主控制模块20及机架驱动模块30。

本实施例中，电源模块10用于为主控制模块20及机架驱动模块提供工作电压，主控制模块20控制所述机架驱动模块30工作，以实现对电子产品的测试，以及在所述驱动测试机架对所述电子产品进行测试时，给所述电子产品供电。所述机架驱动模块30包括电子开关电路31及用于控制所述测试机架气路31启/停的直流电磁阀32，所述电子开关电路31的输入端与所述电源模块10电连接，所述电子开关电路31的输出端与所述直流电磁阀32电连接，所述电子开关电路31的受控端与所述主控制模块20连接。

本实施例中，需要说明的是，电子开关电路31包括三路电子开关电路及三个分别基于各电子开关电路31控制的直流电磁阀32，从而相应控制测试机架气路启动或停止。由于直流电磁阀32的驱动电流较小，在导通或者关闭的过程中，产生的脉冲干扰也相对较小，因此通过无触点的电子开关电路31来控制直流电磁阀32工作，产生的脉冲并不足以对被测试的电子产品造成干扰，这样，也避免了电子产品被驱动装置自身产生的脉冲干扰而损坏。

具体地，主控制模块20的电源端从电源模块10的输出端获得工作电压，当主控制模块20接收到外部启动信号时，主控制模块20输出驱动控制信号来控制机架驱动模块30中相应的电子开关电路31开启从而驱动对应的直流电磁阀32，以使机架驱动模块30驱动所述测试机架做出相应动作，同时，所述主控制模块20发出控制信号控制所述电源模块10为所述电子产品提供电源电压，以实现对所述电子产品的测试。

当主控制模块20接收到外部结束信号时，所述主控制模块20输出驱动控制信号来控制机架驱动模块30中相应的电子开关电路31开启从而驱动对应的直流电磁阀32，以使机架驱动模块30驱动所述测试机架做出相应动作，同时，所述主控制模块20发出控制信号控制所述电源模块10停止为所述电子产品供电，从而结束对所述电子产品的测试。

本发明驱动控制装置通过设置主控制模块20来控制机架驱动模块30的电子开关电路31以驱动直流电磁阀32实现对测试机架气路启/停进行控制，同时还通过主控制模块20驱动电源模块10为被测试的电子产品提供测试所需的电源电压，以实现对待测试的电子产品进行测试。由于本发明驱动控制装置中机架驱动模块30采用电子式的开关电路来驱动直流电磁阀32工作，从而避免了在测试机架工作时，测试机架自身对被测试的电子产品产生干扰而无法完成测试工作，同时，还避免了驱动控制装置产生的脉冲干扰对被测试的电子产品的损坏。

参照图2，在一优选实施例中，所述电源模块10包括电源输入端，用于输入外部直流电源DC；第一直流转换器DC/DC1，用于将输入的所述外部直流电源DC转换为供所述主控制模块20工作的主控电源电压VCC1；机架电源供电端DC1，用于将所述电源输入端输入的所述外部直流电源DC输出至所述机架驱动模块30；以及电子产品供电单元，所述电子产品供电单元包括：第一供电单元111，用于为所述电子产品提供第一电源电压Vout1和第二电源电压Vout2；第二供电单元112，用于为所述电子产品提供第三电源电压Vout3；第三供电单元113，用于为所述电子产品提供第四电源电压Vout4；所述第一电源电压Vout1小于所述第二电源电压Vout2，所述第二电源电压Vout2小于所述第三电源电压Vout3，所述第三电源电压Vout3小于所述第四电源电压Vout4。

第一直流转换器DC/DC1优选采用型号为ANSY8291的直流转换器，第一直流转换器DC/DC1将24V的电源电压转换为特定的主控电源电压VCC1，输出至主控制模块20以供主控制模块20工作，该主控电源电压VCC1具体为3.3V。

需要说明的是，第一供电单元111输出的第二电源电压Vout2、第二供电单元112输出的第三电源电压Vout3及第三供电单元113输出的第四电源电压Vout4，均基于主控制模块20控制，从而将输入的外部直流电源DC输出至待测电子产品，以对待测电子产品进行测试，其中第一电源电压为3.3V，第二电源电压为5V，第三电源电压为12V，第四电源电压为24V。

上述实施例中，优选地，所述第一供电单元111包括第二直流转换器DC/DC2、第三直流转换器DC/DC3、第一电源开关S1及第一过流保护电路G1，所述第一电源开关S1包括第一电阻R1、第一三极管QD1及第一CMOS管QW 1；所述第一过流保护电路G1包括第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第二三极管QD2、第三三极管QD3、第四三极管QD4及第一二极管D1；所述第二直流转换器DC/DC2的输入端用于输入所述外部直流电源DC；所述第二直流转换器DC/DC2的输出端与所述第三直流转换器DC/DC3的输入端及所述第一CMOS管QW 1的输入端互连，所述第三直流转换器DC/DC3的输出端用于输出所述第一电源电压Vout1；所述第一CMOS管QW 1的输出端与所述第二电阻R2的第一端及所述第二三极管QD2的发射极互连，所述第一CMOS管QW 1的受控端与所述第一三极管QD1的集电极连接；所述第一三极管QD1的基极用于经所述第一电阻R1输入第一电源开关信号，所述第一三极管QD1的发射极接地；所述第二电阻R2的第二端与所述第二三极管QD2的基极连接，并用于输出所述第二电源电压Vout2；所述第二三极管QD2的基极经所述第三电阻R3与所述第四电阻R4接地；所述第三电阻R3和所述第四电阻R4的公共端与所述第三三极管QD3的集电极及所述第四三极管QD4的基极互连；所述第三三极管QD3的发射极与所述第五电阻R5的第一端及所述电源输入端互连，所述第三三极管QD3的基极与所述第五电阻R5的第二端及所述第六电阻R6的第一端互连；第六电阻R6的第二端与所述第四三极管QD4的集电极及所述第一二极管D1的阴极互连；所述第四三极管QD4的发射极接地；所述第一二极管D1的阳极与所述第二直流转换器DC/DC2的第一检测端A连接。

具体地，第二直流转换器DC/DC2优选采用型号为TPS54532的直流转换器及第三直流转换器DC/DC3优选采用型号为AME1085V33的直流转换器，其中，第二直流转换器DC/DC2用于将外部直流电源DC转换成5V的直流电压后输出至待测电子产品及第三直流转换器DC/DC3，第三直流转换器DC/DC3将5V的直流电压转换为3.3V的直流电压并输出至待测电子产品。

当第一三极管QD1的基极经所述第一电阻R1接收到第一电源开关信号时，第一三极管QD1导通并触发第一CMOS管QW 1导通，从而输出第二电源电压Vout2。当待测电子产品的电路异常而出现短路现象，或经第一COMS管输出的电流过大而超过预设值时，第二电阻R2两端的电压会增大而触发第二三极管QD2导通，进而第四三极管QD4也导通而输出一低电平至第二直流转换器DC/DC2的第一检测端A，第二直流转换器DC/DC2检测到该低电平后，停止第二电源电压Vout2的输出，第四三极管QD4的导通同时也触发第三三极管QD3以保证第四三极管QD4持续导通而输出低电平。这样，就可以在第二输出支路232电流异常时，防止流经被测试的电子产品的电流过大而损坏电子产品。

上述实施例中，优选地，所述第二供电单元112包括第四直流转换器DC/DC4、第二电源开关S2及第二过流保护电路G2，所述第二电源开关S2包括第七电阻R7、第五三极管QD5及第二CMOS管QW2；所述第二过流保护电路G2包括第八电阻R8、第九电阻R9、第十电阻R10、第十一电阻R11、第十二电阻R12、第六三极管QD6、第七三极管QD7、第八三极管QD8及第二二极管D2；所述第四直流转换器DC/DC4的输入端用于输入所述外部直流电源DC；所述第四直流转换器DC/DC4的输出端与所述第二CMOS管QW 2的输入端连接，所述第二CMOS管QW 2的输出端与所述第八电阻R8的第一端及所述第六三极管QD6的发射极互连，所述第二CMOS管QW 2的受控端与所述第五三极管QD5的集电极连接；所述第五三极管QD5的基极用于经所述第七电阻R7输入第二电源开关信号，所述第五三极管QD5的发射极接地；所述第八电阻R8的第二端与所述第六三极管QD6的基极连接，并用于输出所述第三电源电压Vout3；所述第六三极管QD6的基极经所述第九电阻R9与所述第十电阻R10接地；所述第九电阻R9和所述第十电阻R10的公共端与所述第七三极管QD7的集电极及所述第八三极管QD8的基极互连；所述第七三极管QD7的发射极与所述第十一电阻R11的第一端及所述电源输入端互连，所述第七三极管QD7的基极与所述第十一电阻R11的第二端及所述第十二电阻R12的第一端互连；第十二电阻R12的第二端与所述第八三极管QD8的集电极及所述第二二极管D2的阴极互连；所述第八三极管QD8的发射极接地；所述第二二极管D2与所述第四直流转换器DC/DC4的第二检测端B连接。

本实施例中，第四直流转换器DC/DC4优选采用型号为TPS54532的直流转换器，第四直流转换器DC/DC4将外部直流电源DC转换为12V的直流电压并输出至待测电子产品。

当第五三极管QD5的基极经所述第一电阻R1接收到第一电源开关信号时，第一三极管QD1导通并触发第一CMOS管QW 1导通，从而输出第三电源电压Vout3。当待测电子产品的电路异常而出现短路现象，或经第二COMS管输出的电流过大而超过预设值时，第八电阻R8两端的电压会增大而触发第六三极管QD6导通，进而第八三极管QD8也导通而输出一低电平至第三直流转换器DC/DC3的第二检测端B，第三直流转换器DC/DC3检测到该低电平后，停止第三电源电压的输出，第八三极管QD8的导通同时也触发第七三极管QD7以保证第八三极管QD8持续导通而输出低电平。这样，防止流经被测试的电子产品的电流过大而损坏电子产品。

上述实施例中，优选地，所述第三供电单元113包括第三电源开关S3，所述第三电源开关S3包括第十三电阻R13、第三CMOS管QW 3及第九三极管QD9，所述第三CMOS管QW 3的输入端用于输入所述外部直流电源DC，所述第三CMOS管QW 3的输出端用于输出所述第四电源电压Vout4，所述第三CMOS管QW 3的受控端与所述第九三极管QD9的集电极连接；所述第九三极管QD9的基极用于经所述第十三电阻R13输入第三电源开关信号，所述第九三极管QD9的发射极接地。

当第九三极管QD9的基极经所述第十三电阻R13接收到第三电源开关信号时，经第九三极管QD9导通触发后第三CMOS管QW 3导通，从而输出第四电源电压Vout4。

可以理解的是，电子产品供电单元还可以设置多个由直流转换器、电源开关电路及过流保护电路等组成的供电单元，以为不同的电子产品及其各电路部分提供相应的驱动电压，数量不限。

参照图3，优选地，所述主控制模块20包括主控芯片IC1、开关按键单元21及传感信号输入单元22；所述主控芯片IC1包括电源脚、第一电源控制脚、第二电源控制脚、第三电源控制脚、传感信号输入脚、按键信号输入脚及多个驱动控制脚，其中，

所述主控芯片IC1的电源脚用于输入所述主控电源电压VCC1，所述主控芯片IC1的按键信号输入脚与所述开关按键单元21的按键接口连接，所述主控芯片IC1的传感信号输入脚与所述传感信号输入单元22的信号反馈端连接，所述驱动控制脚与所述电子开关电路31的输入端连接，所述主控芯片IC1通过所述第一电源控制脚输出所述第一电源开关信号；所述主控芯片IC1通过所述第二电源控制脚输出所述第二电源开关信号；所述主控芯片IC1通过所述第三电源控制脚输出所述第三电源开关信号。

本实施例中，所述主控芯片IC1优选采用嵌入式ARM芯片，如型号为STM32F103的芯片，需要说明的是，如图3所示，主控芯片IC1上的VCC脚为电源脚，主控芯片的1至3脚为驱动控制脚；4脚和5脚用于为按键信号输入脚；6脚和7脚为传感信号输入脚；8至9脚为分别为第一电源控制脚、第二电源控制脚及第三电源控制脚；I/O1脚和I/O2脚用于与存储器EEPROM进行通讯。所述开关按键单元21用于接收启动信号或结束信号，并将按键信号输出至主控芯片IC1的按键信号接收脚，所述传感信号输入单元22用于输入传感器的反馈信号，并将反馈信号输出至主控芯片IC1的传感信号输出脚。

具体地，当开关按键单元21接收到外部启动信号时，开关按键单元21将按键信号输出至主控芯片IC1的按键信号接收脚，主控芯片IC1的驱动控制脚输出第一控制信号，以驱动所述机架驱动模块30做出第一动作，传感信号输入单元22当接收到位置检测信号时，将位置检测信号输出至主控芯片IC1的反馈信号接收脚，主控芯片IC1的驱动控制脚输出第二控制信号，以驱动所述机架驱动模块30做出第二动作；主控芯片IC1的电源控制脚输出电源控制信号至电源模块10的电源受控端，以控制所述电源模块10为所述电子产品供电，从而实现对所述电子产品的测试。

当开关按键单元21接收到外部结束信号时，开关按键单元21将按键信号输出至主控芯片IC1的按键信号接收脚，主控芯片IC1的驱动控制脚输出控制信号，以驱动所述机架驱动模块30做出第三动作，从而结束对所述电子产品的测试。

进一步地，主控制模块20还具有存储器EEPROM，用于在测试机架掉电后，保存主控芯片IC1当前运行过程中的数据，从而保存运行的最后状态，在本实施例中，存储器EEPROM优选采用型号为24C16的芯片。

参照图3，优选地，所述主控芯片IC1具有多个所述按键信号输入脚，所述开关按键单元21包括与不同所述按键信号输入脚电连接的启动按键K1及停止按键K2。

参照图3，上述实施中，所述传感信号输入单元22设置有结构相同的第一传感信号输入支路221及第二传感信号输入支路222。需要说明的是，所述主控芯片具有多个传感信号输入脚，分别用于接收经第一传感信号输入支路221输出的第一位置信号和第二传感信号输入支路222输出的第二位置信号。

本实施例中，第一传感信号输入支路包括第二十一电阻R21、第二十二电阻R22、第二十三电阻R23及第十三极管QD10；所述第二十一电阻R21的第一端用于输入位置检测信号，所述第二十一电阻R21的第二端经所述第二十二电阻R22接地，所述第二十二电阻R22和所述第二十一电阻R21的公共端与所述第十极管QD10的基极连接；所述第十三极管QD10的集电极为所述传感信号输入单元的信号反馈端，并与所述第二十三电阻R23的第一端连接，所述第十三极管QD10的发射极接地；所述第二十三电阻R23的第二端与所述主控芯片的电源脚VCC连接。

具体的，当第一位置信号经第二十一电阻R21及第二十二电阻R22串联分压后，输出至第十三极管QD10的基极，以触发第一三极管QD1导通，从而使得经第十三极管QD10的集电极输出一低电平至主控芯片IC1的反馈信号接收脚，使得主控芯片IC1的驱动控制脚输出驱动控制信号以控制电子开关电路31驱动相应的直流电磁阀32开启。

本实施例中，所述第二传感信号输入支路222包括第二十四电阻R24、第二十五电阻R25、第二十六电阻R26及第十一三极管QD11；由于第二传感信号输入支路222的结构与上述第一传感信号输入支路221相同，因此在此不再赘述；

具体的，第二位置信号经第二十四电阻R24及第二十五电阻R25串联分压后，输出至第十一三极管QD11的基极，以触发第五三极管QD5导通，从而使得经第十一三极管QD11的集电极输出一低电平至主控芯片IC1的反馈信号接收脚，使得主控芯片IC1的驱动控制脚输出驱动控制信号以控制电子开关电路31驱动相应的直流电磁阀32开启/关闭。

参照图4，上述实施例中，所述直流电磁阀32设有第一直流电磁阀M1、第二直流电磁阀M2及第三直流电磁阀M3，所述电子开关电路31设置有第一电子开关311、第二电子开关312及第三电子开关313。

需要说明的是，主控芯片具有第一驱动控制脚、第二驱动控制脚及第三驱动控制脚，所述第一电子开关311基于主控芯片的第一驱动控制脚控制，并与第一直流电磁阀M1连接，以驱动第一直流电磁阀M1的开启或关闭；所述第二电子开关312基于主控芯片的第二驱动控制脚控制，并与第二直流电磁阀M2连接，以驱动第二直流电磁阀M2的开启或关闭；所述第三电子开关313基于主控芯片的第三驱动控制脚控制，并与第三直流电磁阀M3连接，以驱动第三直流电磁阀M3的开启或关闭。

具体地，第一电子开关包括第三十一电阻R31、第十二三极管及第四CMOS管，第三十一电阻R31的第一端与第一驱动控制脚连接，第三十一电阻R31的第二端与第十二三极管QD12的基极连接；第十二三极管QD12的集电极与第四CMOS管QW4的受控端连接，第十二三极管QD12的发射极接地；第四CMOS管QW4的输入端与所述机架电源供电端DC1连接，第四CMOS管QW4的输出端与所述第一直流电磁阀M1连接。

具体地，第二电子开关312包括第三十二电阻R32、第十三三极管QD13及第五CMOS管QW5，第三十二电阻R32的第一端与所述第二驱动控制脚连接，第三十二电阻R32的第二端与第十三三极管QD13的基极连接，第十三三极管QD13的集电极与第五CMOS管QW5的受控端连接，第十三三极管QD13的发射极接地；第五CMOS管QW5的输入端与所述机架电源供电端DC1连接，第五CMOS管QW5的输出端与所述第二直流电磁阀M2连接。

具体地，第三电子开关313包括第三十三电阻R33、第八三极管QD8及第六CMOS管QW6，第三十三电阻R33的第一端与所述第三驱动控制脚连接，第三十三电阻R33的第二端与第十四三极管QD14的基极连接，第十四三极管QD14的集电极与第六CMOS管QW6的受控端连接，第十四三极管QD14的发射极接地；第六CMOS管QW6的输入端与所述机架电源供电端DC1连接，第六CMOS管QW6的输出端与所述第三直流电磁阀M1连接。

本发明还提出一种测试设备。

该测试设备包括测试机架：气缸40、运动杆50、位移传感器60及安装板70。

安装板70，所述安装板70上设有用于测试电子产品的测试针；

运动杆50，与所述安装板70及气缸40连接，用于在所述气缸40的驱动下带动所述安装板70沿上下方向来回运动；

位移传感器60，用于检测所述运动杆的50当前位置；

所述测试设备还包括如上所述的驱动控制装置，所述驱动控制装置的机架驱动模块30与所述气缸40连接，用于控制所述气缸40开启或关闭，所述驱动控制装置的主控制模块20与所述位移传感器60连接，用于接收所述位移传感器60检测的位置信号。

其中，所述位移传感器60具有用于检测运动杆50的当前位置并将检测信号反馈至主控制模块的第一传感器及第二传感器，第一传感器用于输出第一位置信号，第二传感器用于输出第二位置信号。所述测试针可用于对电子产品中的PCB板等进行测试，以检测被测试的电子产品的质量。

为了更好地说明本发明的思想，以下结合图1至图4对本发明测试设备的具体工作原理进行阐述：

当驱动控制装置连接电源时，主控芯片IC1的电源脚从电源模块10的主控供电单元11的输出端获得工作电压而上电。当主控芯片IC1接收启动按键输出的启动信号时，所述主控芯片IC1的电源控制脚输出电源控制信号，控制所述电子产品供电单元12的第一供电单元、第二供电单元、第三供电单元分别为所述电子产品的各电路部分提供对应的电源电压。

同时，主控芯片IC1的驱动控制脚输出驱动控制信号至第一电子开关311的信号接收端，以控制第一电子开关311开启，从而驱动第一直流电磁阀M1开启并打开气缸40，使得运动杆50以第一速度垂直向下运动。

在第一传感器检测到运动杆50运动到第一位置时，第一传感器将该第一位置信号SEN1反馈至主控芯片IC1的传感信号输入脚，主控芯片IC1的驱动控制脚输出驱动控制信号至第一电子开关311的驱动受控端，以控制第一电子开关311关闭，从而驱动第一直流电磁阀M1关闭；并输出驱动控制信号至第二电子开关312的驱动受控端，以控制第二电子开关312开启，从而驱动第二直流电磁阀M2开启并打开气缸70，使得运动杆50相对于第一速度缓慢垂直向下运动。

在第二传感器检测到运动杆50运动到第二位置时，第二传感器将该第二位置信号SEN2反馈至主控芯片IC1的传感信号输入脚，主控芯片IC1的驱动控制脚输出驱动控制信号至第二电子开关312的驱动受控端，以控制第二电子开关312关闭，从而驱动第二直流电磁阀M2关闭。

当主控芯片IC1接收启动按键K2输出的结束信号时，主控芯片IC1的驱动控制脚输出驱动控制信号至第三电子开关313的信号接收端，以控制第三电子开关313开启，从而驱动第三直流电磁阀M3开启并打开气缸70，使得运动杆50垂直向上运动，直至运动杆50到达预设位置。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。