1.一种信号源综合参数现场测量装置，其特征在于，该装置包括：射频前端模块、频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块、频谱纯度测量模块和显示控制模块；
射频前端模块的输入端作为信号源综合参数现场测量装置的待测信号输入端，射频前端模块的输出端分别连接频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输入端，频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输出端均连接显示控制模块的输入端。
2.根据权利要求1所述的信号源综合参数现场测量装置，其特征在于，所述射频前端模块进一步包括：YIG滤波器、第一SPDT射频同轴开关、第一SP3T射频同轴开关、第二SP3T射频同轴开关、8GHz～40GHz微波放大器、第一微波衰减器、第三SP3T射频同轴开关、8GHz～40GHz混频器、第二SPDT射频同轴开关、10MHz～8GHz微波放大器、第二微波衰减器、第四SP3T射频同轴开关、10MHz～8GHz混频器、本振信号源和第三SPDT射频同轴开关；
YIG滤波器，输入端作为射频前端模块的待测信号输入端，输出端连接第一SPDT射频同轴开关的输入端；
第一SPDT射频同轴开关的第一输出端连接第一SP3T射频同轴开关的输入端、第二输出端连接第二SP3T射频同轴开关的输入端；
第一SP3T射频同轴开关的第一输出端连接8GHz～40GHz微波放大器的输入端、第二输出端连接第一微波衰减器的输入端、第三输出端连接第三SP3T射频同轴开关的第三输入端；
8GHz～40GHz微波放大器的输出端连接第三SP3T射频同轴开关的第一输入端，第一微波衰减器的输出端连接第三SP3T射频同轴开关的第二输入端；
第三SP3T射频同轴开关的输出端连接8GHz～40GHz混频器的输入端；
第二SP3T射频同轴开关104的第一输出端连接10MHz～8GHz微波放大器的输入端、第二输出端连接第二微波衰减器的输入端、第三输出端连接第四SP3T射频同轴开关的第三输入端；
10MHz～8GHz微波放大器的输出端连接第四SP3T射频同轴开关的第一输入端，第二微波衰减器的输出端连接第四SP3T射频同轴开关的第二输入端；
第四SP3T射频同轴开关的输出端连接10MHz～8GHz混频器的输入端；
本振信号源的输出端连接第三SPDT射频同轴开关的输入端；
第三SPDT射频同轴开关的第一输出端连接8GHz～40GHz混频器的本振端、第二输出端连接10MHz～8GHz混频器的本振端；
8GHz～40GHz混频器的输出端连接第二SPDT射频同轴开关的第一输入端，10MHz～8GHz混频器的输出端连接第二SPDT射频同轴开关的第二输入端；
第二SPDT射频同轴开关的输出端作为射频前端模块的中频信号输出端。
3.根据权利要求1所述的信号源综合参数现场测量装置，其特征在于，所述衰减测量模块包括依次连接的低噪声预放、带通滤波器、程控步进标准衰减器和锁相放大器，低噪声预放的输入端作为衰减测量模块的输入端，锁相放大器的输出端作为衰减测量模块的输出端。
4.根据权利要求1所述的信号源综合参数现场测量装置，其特征在于，所述调制度测量模块进一步包括：AD数据采集器、AM解调器、FM解调器、选择开关、FIR低通滤波器和DSP数据处理器；
AD数据采集器，输入端作为调制度测量模块的输入端、输出端分别连接AM解调器和FM解调器的输入端；
AM解调器的输出端连接选择开关的第一输入端，FM解调器的输出端连接选择开关的第二输入端；
选择开关的输出端连接FIR低通滤波器的输入端，FIR低通滤波器的输出端连接DSP数据处理器的输入端；
DSP数据处理器的控制端连接选择开关的控制端，DSP数据处理器的输出端作为调制度测量模块的输出端。