键帽检测用顶KEY模组及其装置、激光线束检KEY机的制作方法

文档序号:11914526阅读:512来源:国知局
键帽检测用顶KEY模组及其装置、激光线束检KEY机的制作方法

本实用新型涉及一种检测设备,特别是涉及一种键帽检测用顶KEY模组及其装置、激光线束检KEY机,属于键盘生产过程中的检测设备技术领域。



背景技术:

键盘一般是由铝板、线路板、剪刀脚和键帽组装而成的,目前已知的造成键盘键帽组装不良的主要原因有:1、来料不良,例如铝板卡勾变形、剪刀脚中轴断裂或内外剪刀配装键帽结构处缺料和崩塌、键帽的四角与内外剪刀配装处(即书面名为水滴孔和滑槽结构)存在不良;2、装配不良,例如在组装的过程中由于人为或组装的机械设备不良损坏了键盘或键帽结构。

以上两点是造成键盘键帽组装不良的主要原因,将直接导致键盘做成成品后会严重影响键盘的使用寿命和使用的机械手感。所以在键盘生产过程中,为了确保后续使用的可靠性,需要对键盘键帽组装进行检测。

目前,常规检测装键不良的方法是:借助工具刷或手指逐个刷键、撬键或抠键,由于手法、力度及作业强度的问题,易造成不良漏检或者良品损坏,并且这种人工检测方法效率底下,成本高,无法满足自动化生产要求。



技术实现要素:

本实用新型的主要目的在于,克服现有技术中的不足,提供一种新型结构的键帽检测用顶KEY模组及其装置、激光线束检KEY机,可直接快速判断出不良键帽的位置,自动化程度高,检出率高、误判率低,对良品不会造成损伤,而且检测成本低,安全可靠、实用性强,具有产业上的利用价值。

为了达到上述目的,本实用新型所采用的技术方案是:

一种键帽检测用顶KEY模组,包括相互平行分布的第一顶板和第二顶板,驱动第一顶板移动的第一顶板驱动器,驱动第二顶板移动的第二顶板驱动器,以及分别安装于第一顶板和第二顶板上的第一顶针和第二顶针。

其中,所述第一顶针和第二顶针均为若干根,并均同向分布;所述第一顶板和第二顶板通过第一顶板驱动器和/或第二顶板驱动器的驱动相靠近直至叠加状或相远离直至分离状;第一顶板和第二顶板相靠近直至叠加状的过程中,第二顶针贯穿出第一顶板,直至第二顶针的针头与第一顶针的针头相平齐后超出交错距离,使得第一顶针和第二顶针交替顶KEY进行键帽检测。

进一步的:所述第一顶板包括第一板体,开设于第一板体板面并用于第二顶针贯穿的贯通孔,以及开设于第一板体板面并用于安装第一顶针的第一顶针安装孔。

进一步的:所述第二顶板包括第二板体,开设于第二板体板面并用于安装第二顶针的第二顶针安装孔。

进一步的:所述第二板体的板面开设有用于调节第一顶针的调节通孔。

进一步的:所述第二板体的板面设置有凸台,所述第二顶针安装孔开设在凸台上;所述贯通孔的孔壁设置有插装环,所述凸台匹配内嵌式贯穿入插装环。

进一步的:所述第一板体开设有定位孔,所述第二板体安装有定位导柱,所述定位导柱匹配贯穿入定位孔;所述第一板体和第二板体之间设置有限位柱。

本实用新型还提供一种键帽检测用顶KEY装置,包括工作台、键盘放置板和压板,以及权利要求1~6所述的键帽检测用顶KEY模组。

其中,所述工作台,水平分布,并开设有顶KEY操作区;所述键帽检测用顶KEY模组,位于工作台的顶KEY操作区正下方;所述键盘放置板,设置在工作台的台面上,用于放置键盘,并通过开设顶针穿行孔供键帽检测用顶KEY模组中的第一顶针和第二顶针穿行后顶触到键盘中待测键帽的检测位;所述压板,位于工作台上方,用于自上而下压合键盘放置板中的键盘、并通过压板开孔使得键盘中待测键帽裸露。

进一步的:所述压板通过压板驱动器自上而下压合键盘,所述工作台的底面挂设有与工作台相平行分布的固定板;所述压板驱动器安装于固定板的底面,所述第一顶板驱动器安装于固定板的顶面,所述第二顶板驱动器通过连接柱安装于固定板的顶面并位于第一顶板驱动器的上方;所述第一顶板驱动器通过与第一顶板相连的驱动件驱动第一顶板上下运动,所述第二顶板驱动器的驱动端通过直接顶触第二顶板来驱动第二顶板上下运动;所述固定板贯穿设置有固定板导柱,所述工作台贯穿设置有压板导柱,所述固定板导柱与压板导柱相连,所述压板驱动器通过驱动固定板导柱和压板导柱带动压板上下运动。

本实用新型还提供一种激光线束检KEY机,包括前述的键帽检测用顶KEY装置,以及激光发生器、采集器和控制器;所述采集器与控制器相连。

其中,所述激光发生器,位于工作台上方,用于对键盘放置板上键盘中的被顶起的待测键帽提供照射用激光束;所述采集器,位于工作台上方,用于捕获待测键帽上的激光束图像并将激光束图像传输给控制器;所述控制器,用于接收采集器捕获的激光束图像、对激光束图像进行图像处理后判断出或判断并显示出键帽是否不良的检测结果。

进一步的:还包括整体驱动激光发生器和采集器一起在水平方向进行位移调节的一个水平调节驱动器,或者,单独驱动激光发生器和采集器独立在水平方向进行位移调节的至少两个水平调节驱动器;所述激光发生器包括第一激光发生器和第二激光发生器,所述第二激光发生器通过竖直调节驱动器驱动在垂直方向进行位移调节。

与现有技术相比,本实用新型具有的有益效果是:

1、本实用新型提供的一种键帽检测用顶KEY模组,整体结构紧凑、拆装方便、制作容易,应用于键盘检测环节中的顶KEY工序,实现交替顶KEY,大幅提高检测效率。

2、本实用新型提供的一种键帽检测用顶KEY装置,不仅实现交替顶KEY,而且涉及的驱动器以层叠状同轴设置在工作台的底下,重心稳定,驱动到位,互不干涉,实现顺畅的动力驱动,大幅提高检测可靠性。

3、本实用新型提供的一种激光线束检KEY机,通过键帽检测用顶KEY装置实现交替顶KEY,使得待测键帽的同侧两角受顶针顶力作用呈现出受力状态,通过激光发生器对待测键帽的受力状态提供照射用激光束,通过采集器捕获待测键帽上的激光束图像,最后通过控制器根据键帽受力后所呈现的受力状态来判断键帽是否不良;可直接快速判断出不良键帽的位置,自动化程度高,检出率高、误判率低,对良品不会造成损伤,而且检测成本低,安全可靠、实用性强。

上述内容仅是本实用新型技术方案的概述,为了更清楚的了解本实用新型的技术手段,下面结合附图对本实用新型作进一步的描述。

附图说明

图1为本实用新型一种激光线束检KEY机的立体结构示意图;

图2为本实用新型一种激光线束检KEY机的正视结构示意图;

图3为本实用新型一种激光线束检KEY机的侧视结构示意图;

图4为本实用新型一种激光线束检KEY机中键盘放置板、第一顶板和第二顶板的立体结构分解示意图;

图5为本实用新型一种激光线束检KEY机中键盘放置板、第一顶板和第二顶板的正视结构分解剖示图。

具体实施方式

下面结合说明书附图,对本实用新型作进一步的说明。

如图1、图2及图3所示,一种激光线束检KEY机,包括工作台1、键盘放置板2、压板3、键帽检测用顶KEY模组4、激光发生器5、采集器6和控制器(图中未示出),所述采集器6与控制器相连;其工作原理是利用键盘自身结构中存在从铝板底部向上到键帽下表面四个角位置的贯通空间,采用顶针自下而上从贯通空间贯穿后顶触到键帽四角,通过施加固定顶力使得键帽受力,然后根据键帽受力后所呈现的受力状态来判断键帽是否不良。

所述工作台1,水平分布,并开设有顶KEY操作区;所述键帽检测用顶KEY模组4,位于工作台1的顶KEY操作区正下方。

所述键盘放置板2,设置在工作台1的台面上,用于放置键盘,并通过开设顶针穿行孔20供键帽检测用顶KEY模组4中的顶针穿行后顶触到键盘中待测键帽的检测位。工作台1通过顶KEY操作区的设置确保工作台1至少不遮挡键盘放置板2的顶针穿行孔20。

所述压板3,位于工作台1上方,用于自上而下压合键盘放置板2中的键盘、并通过压板开孔30使得键盘中待测键帽裸露。

所述键帽检测用顶KEY模组4,包括相互平行分布的第一顶板41和第二顶板42,驱动第一顶板41移动的第一顶板驱动器43,驱动第二顶板42移动的第二顶板驱动器44,以及分别安装于第一顶板41和第二顶板42上的第一顶针45和第二顶针46(如图4和图5所示);所述第一顶针45和第二顶针46均为若干根,并均同向分布,图中仅绘制少量顶针省略了其他以使其他部件更明晰;所述第一顶板41和第二顶板42通过第一顶板驱动器43和第二顶板驱动器44的驱动相靠近直至叠加状或相远离直至分离状;第一顶板41和第二顶板42相靠近直至叠加状的过程中,第二顶针46贯穿出第一顶板41,直至第二顶针46的针头与第一顶针45的针头相平齐后超出交错距离,使得第一顶针45和第二顶针46交替顶KEY用于进行键帽检测。

所述激光发生器5,位于工作台1上方,用于对键盘放置板2上键盘中的被顶起的待测键帽提供照射用激光束50。

所述采集器6,位于工作台1上方,用于捕获待测键帽上的激光束图像并将激光束图像传输给控制器。

所述控制器,用于接收采集器6捕获的激光束图像、对激光束图像进行图像处理后判断出或判断并显示出键帽是否不良的检测结果。

所述激光发生器5和采集器6的位置调节,可以采用整体驱动方式,也可以采用单独驱动方式;本实施例中的采用一个水平调节驱动器7整体驱动激光发生器5和采集器6一起在水平方向进行位移调节。

对于,激光发生器5的数量使用,可以根据实际清楚进行选择,优选采用的激光发生器5包括均至少为一个的第一激光发生器51和第二激光发生器52,使得第一激光发生器51和第二激光发生器52分别照射任意一排待测键帽的的两条侧边边缘,即在键帽检测用顶KEY模组4进行交替顶KEY操作时对应完成相应侧边边缘的照射。其中,所述第二激光发生器52通过竖直调节驱动器53驱动在垂直方向进行位移调节,使得第一激光发生器51和第二激光发生器52对准径向宽度已变的待测键帽进行匹配照射。

如图1、图2及图3所示,所述压板3通过压板驱动器31自上而下压合键盘,所述工作台1的底面挂设有与工作台1相平行分布的固定板11;所述压板驱动器31安装于固定板11的底面,所述固定板11贯穿设置有固定板导柱12,所述工作台1贯穿设置有压板导柱13,所述固定板导柱12与压板导柱13相连,所述压板驱动器31通过驱动固定板导柱12和压板导柱13带动压板3上下运动。

所述第一顶板驱动器43安装于固定板11的顶面,所述第二顶板驱动器44通过连接柱440安装于固定板11的顶面并位于第一顶板驱动器43的上方;所述第一顶板驱动器43通过与第一顶板41相连的驱动件430驱动第一顶板41上下运动,所述第二顶板驱动器44的驱动端通过直接顶触第二顶板42来驱动第二顶板42上下运动。

如图4和图5所示,所述第一顶板41包括第一板体411,开设于第一板体411板面并用于第二顶针45贯穿的贯通孔412,以及开设于第一板体411板面并用于安装第一顶针45的第一顶针安装孔413。

所述第二顶板42包括第二板体421,开设于第二板体421板面并用于安装第二顶针46的第二顶针安装孔422,以及开设于第二板体421的板面并用于调节第一顶针45的调节通孔423。

所述第二板体42的板面设置有凸台424,所述第二顶针46安装孔开设在凸台424上;所述贯通孔412的孔壁设置有插装环414,所述凸台424匹配内嵌式贯穿入插装环414。

所述第一板体411开设有定位孔415,所述第二板体42安装有定位导柱425,所述定位导柱425匹配贯穿入定位孔415;所述第一板体41和第二板体42之间设置有限位柱47。

本实用新型的创新点在于,实现交替顶KEY,稳定顺畅驱动,激光快速检测,可直接快速判断出不良键帽的位置,自动化程度高,检出率高、误判率低,对良品不会造成损伤,而且检测成本低,安全可靠、实用性强。

以上所述,仅是本实用新型的较佳实施例而已,并非对本实用新型作任何形式上的限制,虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上,然而并非用以限定本实用新型,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本实用新型技术方案范围内,当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本实用新型技术方案的内容,依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何的简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本实用新型技术方案的范围内。

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