1.一种光模块的老化测试装置，包括多个测试板，每个测试板与至少一个光模块电连接，其特征在于，所述老化测试装置还包括上位机及分布式电源，所述分布式电源包括至少两个电源模块，而且，每个电源模块与至少一个测试板电连接，其中，
所述电源模块包括：
控制单元；
电压变换电路，用于将交流市电转换成3.3V的直流电压；
监控保护单元，用于对本电源模块进行一级保护，并将本电源模块的保护状态上报给所述控制单元；
输出单元，用于在所述控制单元的控制下，输出电源模块的保护状态；
所述测试板包括：
MCU，与至少一个光模块连接，且用于对所述至少一个光模块的运行状态进行监控；
与光模块一一对应的电子保险丝，连接在相应电源模块的相应输出端和相应光模块之间，用于对相应电源模块进行二级保护，并将相应电源模块的保护状态上报给MCU；
接口单元，用于在所述MCU的控制下，将所述至少一个光模块的运行状态及相应电源模块的保护状态发送至所述上位机，以在所述上位机上进行显示。
2.根据权利要求1所述的光模块的老化测试装置，其特征在于，所述输出单元包括声光报警电路和/或显示屏。
3.根据权利要求1所述的光模块的老化测试装置，其特征在于，所述接口单元为USB接口。
4.根据权利要求1所述的光模块的老化测试装置，其特征在于，所述MCU与所述至少一个光模块通过I2C连接。
5.根据权利要求1所述的光模块的老化测试装置，其特征在于，所述监控保护单元通过PMBUS与控制单元相连。
6.根据权利要求1所述的光模块的老化测试装置，其特征在于，所述一级保护包括输入过压保护、输出过压保护、过流保护、过温保护、欠压保护。
7.根据权利要求1所述的光模块的老化测试装置，其特征在于，所述二级保护包括过压保护、过流保护、过温保护。
8.根据权利要求1所述的光模块的老化测试装置，其特征在于，所述电压变换电路包括相连接的整流电路及DC/DC变换电路。