一种自动插拔线测试装置的制作方法

本发明涉及测试设备领域，特别涉及一种自动插拔线测试装置。

背景技术：

在进行投影仪信号的测试过程中，通过测试设备与待测设备连接，测试信号一般通过测试设备上的探针以对应的探针焊垫上的接点的接触传递，所以为达到信号的稳定性及准确性，在测试过程中需要将探针与探针焊垫上的接点位置准确对准。

在现有技术中，是通过人工的方式，将探针与探针焊垫上的接点进行对准。但是通过现有技术方式，由于探针与接点的接触面积小，若有接触不准确或位移有偏差均会造成信号传递不佳，且现有技术依赖于人工的方式进行插线对准，无法实现测试的自动化，效率低；同时，对于特殊信号如hdmi信号的测试是通过转接线转接测试，通过转接线转接容易造成信号的衰减，使得hdmi信号测试效果差及效率低。

技术实现要素：

为了能够实现插拔线测试装置的自动调节对准，提高测试效率及测试效果，本发明实施例提供了一种自动插拔线测试装置。所述技术方案如下：

第一方面，提供了一种自动插拔线测试装置，包括第一基板组件、第二基板组件及方向调整组件，所述方向调整组件与所述第二基板组件连接；

所述第一基板组件与待测端设备电性连接，在所述第一基板组件上设置有探针焊垫；

所述第二基板组件与测试端设备电性连接，在所述第二基板组件上设置有探针座；

所述探针焊垫上设置有多个用于传递测试信号的接点，所述探针座上设置有多个与所述接点对应的探针，所述探针通过与所述接点接触传递测试信号；

在所述探针与所述接点接触过程中，所述方向调整组件调节所述探针座上的探针与所述探针焊垫上的接点对准。

结合第一方面，在第一种可能实现的方式中，所述方向调整组件包括定位结构和连动结构，所述定位结构与所述连动结构连接，所述定位结构能够相对所述连动结构移动；

所述定位结构与所述第二基板组件连接，随着所述定位结构的移动带动所述第二基板组件上的所述探针座移动定位；

所述第一基板组件还包括与所述定位结构相对应的配合结构。

结合第一方面的第一种可能实现的方式，在第二种可能实现的方式中，所述定位结构包括定位销；

所述定位销位于所述探针座的两侧；

与所述定位结构相对应的所述配合结构包括插孔；

所述插孔位于所述探针焊垫的两侧，所述插孔在所述探针焊垫两侧的位置与所述定位销在所述探针座两侧的位置对应；

其中，所述定位销在插入所述插孔的过程中通过带动所述连动结构，以对所述探针座上的探针与所述探针焊垫上的接点的接触进行对准调整。

结合第一方面的第二种可能实现的方式，在第三种可能实现的方式中，所述定位销的下端部为锥形，所述插孔为与所述定位销的形状对应的直径上宽下窄的喇叭状结构。

结合第一方面的第一种或第三种可能实现的方式，在第四种可能实现的方式中，所述连动结构包括能够随着所述定位结构沿前后、左右及上下方向移动的轴结构。

结合第一方面至第一方面的第四种任意一种可能实现的方式，在第五种可能实现的方式中，在所述方向调整组件的侧面横向伸出一固定板，所述固定板与所述连动结构连接；

所述第二基板组件位于所述固定板上面，所述固定板中间部位为空缺，所述空缺处用于容纳所述探针座；

所述定位销位于所述固定板的所述空缺两侧的板下方对应位置。

结合第一方面的第五种可能实现的方式，在第六种可能实现的方式中，所述探针座及所述探针焊垫在测试信号时，对特殊信号的测试为对一个测试信号通过两个探针与对应接点的对准进行测试。

结合第一方面的第六种可能实现的方式，在第七种可能实现的方式中，所述双针双接点结构包括在所述探针焊垫上增设至少一个接点，以及在所述探针座上增加设置对应数量的探针。

结合第一方面或第一方面的第七种可能实现的方式，在第八种可能实现的方式中，在所述探针座上设置用于特定接收hdmi信号的探针；以及，

在所述探针焊垫上设置与所述用于接收hdmi信号的探针对应的特定接点，用以实现测试hdmi信号时所述第一基板组件与所述待测端设备为直接连接。

结合第一方面的第八种可能实现的方式，在第九种可能实现的方式中，

所述用于特定接收所述hdmi信号的探针包括爪型探针，以及与所述用于接收hdmi信号的探针对应的特定接点包括经过20z厚度铜箔及化金表面处理的接点。

本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是：通过增加方向调整组件，且方向调整组件与第二基板组件连接，因为探针座设置在第二基板组件上，而在信号测试过程中，是通过探针座上的探针与探针焊垫上的接点接触并对准以保证测试信号的稳定及准确传输的，所以在探针与接点接触过程中，通过方向调整组件调整探针座上的探针与探针焊垫上的接点对准，以实现探针与接点对准的调整，从而保证了测试信号能够稳定且准确的传递，且方向调整组件能够自动调整，实现了测试中定位的自动化，从而提高了测试的效率及效果；另外与传统技术相比，该过程无需通过人工手动进行对准调节，节省了人力，进一步提高了测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的第一基板组件的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的第二基板组件的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的第二基板组件使用中的整体结构示意图；

图4是本发明实施例提供的方向调整组件的结构示意图；

图5是本发明实施例提供的固定架、方向调整组件、第二基板组件连接在一起的结构示意图；

图6是本发明实施例提供的自动测试系统结构示意图。

附图标记：

自动插拔线测试装置1；第一基板组件10；第二基板组件20；方向调整组件30；探针焊垫11；探针座21；接点111；探针211；定位结构31；连动结构32；定位销311；插孔112；沿前后方向移动的轴结构321；沿左右方向移动的轴结构322；固定板312；固定架40；保护罩50；线体2；栈板3；载板4。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一

本发明实施例提供了一种自动插拔线测试装置1，参照图1-图6所示，该装置包括第一基板组件10、第二基板组件20及方向调整组件30，方向调整组件30与第二基板组件20连接；

第一基板组件10与待测端设备电性连接，在第一基板组件10上设置有探针焊垫11；

第二基板组件20与测试端设备电性连接，在第二基板组件20上设置有探针座21；

探针焊垫11上设置有多个用于传递测试信号的接点111，探针座21上设置有多个与接点对应的探针211，探针211通过与接点111接触传递测试信号；其中，第一基板组件参照图1所示，第二基板组件参照2所示；

在探针211与接点111接触过程中，方向调整组件30调节探针座21上的探针211与探针焊垫11上的接点111对准。

具体的，该第一基板组件10和第二基板组件20分别还包括多个连接端口，通过该多个连接端口实现不同测试信号的连接；该多个连接端口可以包括如d-sub(vga，videographicsadapter)端口、rs232(异步传输标准接口)端口、hdmi端口或usb端口等；其中，d-sub端口测试的信号可以包括r(red，红色)、g(green，绿色)、b(blue，蓝色)三原色信号，sda信号(数据信号线)，scl信号(时钟信号线)等，rs232端口测试的信号可以包括rxd信号(发送信号)或txd信号(接收信号)等；在本发明实施例中，对于第一基板组件及第二基板组件上端口的数量不加以限定，可以为一个也可以为多个，对于第一基板组件及第二基板组件所配置的端口类型也不加以限定，在实际应用中根据待测端设备所需测试信号的不同进行设置，同时本发明实施例与第一基板组件电性连接的待测端设备可以是投影仪，也可以是其他待测设备，对此不加以限定。

具体的，参照图3中所示，第二基板组件20还包括支撑板结构22，该支撑板结构22位于第二基板组件的上板与探针座21相连的板之间的位置，用于支撑及保护该第二基板，需要说明的是，图3中示出的是在第二基板组件的端口上插接有端口线，图中未示出探针座上的全部探针。

进一步地，参照图4所示，图4为方向调整组件30的整体结构示意图，方向调整组件30包括定位结构31和连动结构32，定位结构31与连动结构32连接，定位结构31能够相对连动结构32移动；

定位结构31与第二基板组件20连接，随着定位结构31的移动带动第二基板组件20上的探针座21移动定位；

第一基板组件10还包括与定位结构31相对应的配合结构。

进一步地，定位结构31包括定位销311；

定位销311位于探针座21的两侧；

与定位机构31相对应的配合结构包括插孔112；

插孔112位于探针焊垫的两侧，插孔112在探针焊垫两侧的位置与定位销在探针座两侧的位置对应；

其中，定位销311在插入插孔112的过程中通过带动连动结构32，以对探针座上的探针与探针焊垫上的接点的接触进行对准调整。

本发明中的自动插拔线测试装置通过增加方向调整组件，通过该方向调整组件与第二基板的连接，在测试过程中，能够首先对第二基板与第一基板之间的位置进行大致调整，因为第一基板组件是与待测设备连接的，所以通过该调整方便了后续通过定位结构对探针与接点的对准进行精确调整，从而进一步提高了测试效率。

具体的，参照图4所示，定位销311的下端部为锥形，参照图1所示，插孔112为与定位销的形状对应的直径上宽下窄的孔状结构；其中，该插孔112的形状可以类似喇叭孔形状，该插口112的开口最大直径与该定位销311的下端部上面的柱体的直径相适应，该插口112直径由上向下逐渐变小，其减小的程度与定位销311下端部的锥形的大小相适应。

因为方向调整组件包括定位结构和连动结构，以及第一基板包括与定位结构相对应的配合结构，在测试过程中，首先通过该定位结构和连动结构对于待测设备的位置进行粗略的位置调整，粗略调整后，使得定位销与插孔能够对应插入，而定位销的下端部为锥形，插孔为对应的喇叭状结构，从而在定位销向插孔导入过程中，因为插孔为上宽下窄的喇叭状结构，所以从插孔大口导入时，随着定位销的下压，进入插孔小孔，位置越来越精准，位于探针座上的探针与探针焊垫上的垫点相对位置自动校正，定位销下压完成，探针座上的探针与探针焊垫上的接点对准，从而提高了信号的对准效果，提高了测试效率及效果。

本发明利用第一基板组件上的配合结构与第二基板组件上的定位机构的设计，具体地，配合结构为锥形的定位销，定位机构为喇叭状的插孔，当移动第一基板组件与第二基板组件对时，探针与接点有细微的位置偏移时，定位销下端的锥形可自插孔上端的喇叭开口插入插孔，当定位销由喇叭开口逐渐导入插孔的下端圆柱状的孔体时，此时定位销便完成了偏差校正过程，第一基板组件以正确的位置下压使探针座上的探针与探针焊垫上的接点精确对准而接通。

需要说明的是，该定位结构可以是定位销，也可以是其他具有类似功能的结构，本发明实施例对定位结构不加以限定，且定位销可以是下端部为锥形的结构，也可以为整体为锥形的结构，还可以为其他结构，定位销结构变化时与其配合的插孔的结构也作适应变化，本发明实施例对此不加以限定。

进一步地，连动结构32包括能够随着定位结构31沿前后、左右及上下方向移动的轴结构，参照图4中所示，沿前后方向移动的轴结构标记为321，沿左右方向移动的轴结构标记为322，沿上下方向移动的轴结构位于中间位置，图中未示出。

进一步地，参照图4中所示，在方向调整组件30的侧面横向伸出一固定板312，固定板312与连动结构31连接；

第二基板组件20位于固定板312上面，固定板312中间部位为空缺，空缺处用于容纳探针座21；

定位销311位于固定板312的空缺两侧的板下方对应位置。

其中，定位销311可以通过与固定板312的连接以实现调整第二基板组件位置的功能，也可以通过其他方式实现调整第二基板组件位置的功能，本发明实施例对定位销的具体设置方式不加以限定，只要能够实现其功能均在本发明保护范围内。

进一步地，在实际应用中，本发明实施例所提供的该自动插拔线测试装置还可以包括固定架40，方向调整组件30固定于固定架40，通过固定架方便了方向调整组件及第二基板组件的固定及放置，具体的，参照图5所示，为固定架40、方向调整组件30、第二基板组件20连接在一起的整体结构图，参照图中所示，方向调整组件30通过上方的连接板与固定架40连接，第二基板组件20位于固定板312上面，通过固定板312上表面连接孔相连接，固定板312的中间位置为空缺，用于容纳第二基板组件上的探针座21，定位销311位于固定板312的空缺两侧的板下方对应位置；其中，该空缺的大小及位置与探针座21的大小及位置相适应。因为空缺为一个具有三个侧面的结构，所以通过该空缺容纳探针座，使得三个侧面分别与探针座侧面相抵，这样在定位销定位时更便于带动探针座移动，从而进一步方面了探针与接点的对准，进一步提高了测试效率。

同时，因为第二基板组件位于方向调整结构的该固定板上方，固定板与定位销及连动结构连接，从而通过定位销向插孔插入的过程中带动固定板以带动连动结构进行定位，因为定位结构与连动结构连接，连动结构包括沿前后、左右及上下方向移动的轴结构，从而使得定位结构能够沿前后、左右及上下方向移动以进行定位，满足了探针座与探针焊垫定位过程中需要在x轴、y轴及z轴各个方向上进行定位的需求，从而通过该方向调整组件能够自动对探针座上的探针及探针焊垫上的接点进行精确定位，满足了准确对准调节的需求。

进一步地，探针座21及探针焊垫11在测试信号时，对特殊信号的测试为对一个测试信号通过两个探针与对应接点的对准进行测试。

探针座21及探针焊垫11为对一个测试信号通过两个探针与对应接点的对准的双针双接点结构，该双针双接点结构即对于一个测试信号通过两个探针与对应接点的对准进行测试；在测试过程中，对于特殊信号通过双针双接点结构进行测试；该特殊信号可以是相对待测设备所需测试的信号中相对重要的信号，或者容易衰变或易受干扰的信号，或其他信号预设的信号，比如待测设备是投影仪时，对三原色信号或hdmi信号采用该双针双接点结构进行测试，对于不同的待测设备，特殊信号可以不同，此处只是示例性的。

具体的，双针双接点结构包括在探针焊垫上增设至少一个接点，以及在探针座上增加设置对应数量的探针。示例性的，如原探针焊垫11上为四排，每排10接点，而本发明实施例通过曾加设置一排接点，以及在探针座上对应增加一排探针，用于满足双针双接点结构测试的需要；除此之外，还可以增加其他数量的接点及探针，本发明实施例对此不加以限定。

本发明实施例中，通过对于特殊信号或重要信号采用双针双接点结构进行测试，与现有技术中的一个测试信号通过一个探针与接点的连接进行测试相比，采用两个探针与对应接点的对准进行测试同一个信号，只需要有一个探针与接点相连即可实现该测试信号的相连，提高了测试信号连接成功的概率，从而进一步提高了测试效率及测试效果。

进一步地，第一基板组件10与待测端设备为直接连接，用以实现hdmi信号的转接。

具体的，在探针座上设置用于特定接收hdmi信号的探针；以及

在探针焊垫上设置与所述用于接收hdmi信号的探针对应的特定接点，用于用以实现测试hdmi信号时所述第一基板组件与所述待测端设备直接连接；

优选的，用于特定接收hdmi信号的探针包括爪型探针；以及与用于接收hdmi信号的探针对应的特定接点包括经过20z厚度铜箔及化金表面处理的接点。其中，该爪型针可以为7个，在探针座21最外一排依次设置，在探针焊垫11的对应位置对应设置经过铜箔及化金表面处理的接点，具体可以为20z厚度铜箔及化金表面处理，该用于特定接收hdmi信号的爪型针及对应的接点也可以设置于其他位置及设置为其他数量，本发明实施例对此不加以限定。

该爪型针具体为将探针的端点设置为爪型，与对应接点接触时，通过该爪型结构与接点接触。通过该爪型探针与接点的接触，能够满足hdmi信号的精确传递和测试，且提高了hdmi信号的测试效率。

通过在探针座上设置用于特定接收hdmi信号的探针，以及在探针焊垫上设置与用于接收hdmi信号的探针对应的特定接点，用以实现hdmi信号的直接连接测试，从而无需通过转接线的转接进行hdmi信号的测试，避免了由于转接线转接造成的信号衰减，使得hdmi信号测试效果差及效率低等的问题，从而进一步提高了测试效率及准确性。

为了进一步说明本发明的自动插拔线测试装置的效果，下面将结合该自动插拔线测试装置1应用的自动测试系统进行说明，参照图6所示，该自动测试系统包括还包括线体2、栈板3、载板4，该自动插拔线测试装置1还可以包括保护罩50，在使用过程中，该保护罩50罩在第二基板组件20、方向调整组件30及固定架40整体外侧，以保护该第二基板组件20、方向调整组件30及固定架40不被损坏或以及在测试过程中减少测试信号受到的干扰等；其中，在使用中，该自动插拔线测试装置为两部分，包括与测试端设备连接的部分，以及与待测端设备连接的部分，该与待测端设备连接的部分即为第一基板组件，与测试端设备连接的部分即为第二基板组件、方向调整组件、固定架及保护罩，该部分也可以称作测试站；在该自动测试系统中，第一基板组件10位于栈板3上面，与载板4之间通过端口线连接，栈板3与线体2滑动连接，在测试过程中，栈板3自动流线至测试站处，因为栈板与线体之间有一定间隙，且栈板停在线体2上的位置会有偏差，所以使得栈板到达测试站的位置每次都不一致，使得探针座上探针与探针焊垫上接点不能一次对准，所以需要对位置进行调节，通过本发明实施例所提供的该自动插拔线测试装置，当第二基板组件20下压时，定位销311向下导入插孔112，在定位销311向下导入过程中，因为插孔112为之间上宽下窄的结构，所以从插孔112大口导入时，随着定位销311的下压，进入插孔小孔，位置越来越精准，位于栈板3上的第一基板组件10与第二基板组件20相对位置自动校正，定位销311下压完成，探针座上的探针与探针焊垫上的接点对准，校正完成，信号接通。

本发明实施例提供了一种自动插拔线测试装置，通过增加方向调整组件，且方向调整组件与第二基板组件连接，因为探针座设置在第二基板组件上，而在信号测试过程中，是通过探针座上的探针与探针焊垫上的接点接触并对准以保证测试信号的稳定及准确传输的，所以在探针与接点接触过程中，通过方向调整组件调整探针座上的探针与探针焊垫上的接点对准，以实现探针与接点对准的调整，从而保证了测试信号能够稳定且准确的传递，且方向调整组件能够自动调整，实现了测试中定位的自动化，从而提高了测试的效率及效果；另外与传统技术相比，该过程无需通过人工手动进行对准调节，节省了人力，进一步提高了测试效率。

需要说明的是，本发明中涉及的“第一”“第二”描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。

上述所有可选技术方案，可以采用任意结合形成本发明的可选实施例，在此不再一一赘述。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。