1.一种光纤陀螺温场零偏性能的检测方法,其特征在于,包括步骤:
步骤S1.测量出一连续时间段内光纤材料的分布式布里渊频移变化量Δνb和分布式瑞利频移变化量Δνr;
步骤S2.根据上一步测量得到的分布式布里渊频移变化量Δνb和分布式瑞利频移变化量Δνr,计算出连续时间段内光纤材料的分布式温度变化量ΔT及分布式周向应变变化量Δεz;
步骤S3.根据光纤材料各组成成分的材料参量及几何参量,以及上一步计算得到的分布式周向应变变化量Δεz,计算出连续时间段内光纤材料的分布式径向应变变化量Δεr;
步骤S4.根据步骤S2中计算得到的分布式温度变化量ΔT,分布式周向应变变化量Δεz,以及步骤S3中计算得到的分布式径向应变变化量Δεr,解算出连续时间段内光纤陀螺的温变零偏变化量ΔΩ;
步骤S5.获取起始时刻对应的零偏值Ω0,根据步骤S1~S4得到得到连续时间段内的温变零偏变化量,获得在经过上述连续时间段后的零偏值Ω0+ΔΩ;
步骤S6.重复步骤S1-S5,计算经过多个连续时间段的零偏值的标准差,将标准差作为光纤陀螺的检测指标,以检测光纤陀螺温场零偏性能。
2.根据权利要求书1所述的光纤陀螺温场零偏性能的检测方法,其特征在于,步骤S1中所述分布式布里渊频移变化量Δνb采用基于BOTDA原理的设备测量得到。
3.根据权利要求书1所述的光纤陀螺温场零偏性能的检测方法,其特征在于,步骤S1中所述分布式瑞利频移变化量Δνr采用基于COTDR原理的设备测量得到。
4.根据权利要求书1所述的光纤陀螺温场零偏性能的检测方法,其特征在于,所述步骤S2中光纤材料的分布式温度变化量ΔT及分布式周向应变变化量Δεz采用以下公式计算:Δνb=B11Δεz+B12ΔT;
Δνr=R11Δεz+R12ΔT;
其中,B11、B12、R11、R12为常数。
5.根据权利要求书1所述的光纤陀螺温场零偏性能的检测方法,其特征在于,步骤S3中所述分布式周向应变变化量Δεz和分布式径向应变变化量Δεr采用有限元分析方法进行计算。
6.根据权利要求书1或5所述的光纤陀螺温场零偏性能的检测方法,其特征在于,
步骤S3中所述材料参数包括杨氏模量、泊松比和线性热膨胀系数;几何参量包括包层直径、内涂覆层直径和外涂覆层直径。
7.根据权利要求书1所述的光纤陀螺温场零偏性能的检测方法,其特征在于,所述步骤S4中温变零偏变化量ΔΩ的解算公式为:
其中,n代表光纤材料有效折射率,L代表光纤环长度,R代表光纤环平均半径,代表光纤材料有效折射率的温度系数,A、B代表光弹系数,z代表光纤环上每一微元段光纤材料的周向坐标。
8.根据权利要求书1所述的光纤陀螺温场零偏性能的检测方法,其特征在于,将检测指标低于0.01°/h的光纤陀螺标记为性能稳定的光纤陀螺。