1.一种光学相干层析变形场降噪方法,其特征在于,包括:
计算干涉光谱的原始幅值Am(y,z)和原始相位差Δφm(y,z);
根据所述干涉光谱的原始幅值Am(y,z)和原始相位差Δφm(y,z)计算特征参数C1、C2、C3和C4,其中C1为附近区域的幅值之和、C2为单一方向的幅值之和、C3为相邻区域内相位差的连续程度、C4为相邻区域内相位差拟合的误差;
对所述特征参数C1、C2、C3和C4进行模糊化处理得到模糊化特征参数Cn1、Cn2、Cn3和Cn4;
对所述模糊化特征参数进行判断,输出O1和O2,其中O1为该点是样件内部一点的可能性,O2为该点是噪声点的可能性;
计算降噪后的输出幅值Ae(y,z)和输出相位差Δφe(y,z);
根据所述输出幅值Ae(y,z)和输出相位差Δφe(y,z)解调出降噪后的变形场。
2.根据权利要求1所述的光学相干层析变形场降噪方法,其特征在于,
步骤所述计算干涉光谱的原始幅值Am(y,z)和原始相位差Δφm(y,z)包括:
将成像在CCD相机上的干涉光谱用光强表示为
其中,k表示波数,I0表示直流分量,IR表示参考面,Ii表示被测样件的反射光强,M表示被测样件的表面个数,φi表示干涉光强的相位,φi=φi0+2kz,φi0表示初始相位;
将光强信号沿波数k轴进行傅里叶变换得到幅值Am(y,z)和相位差Δφm(y,z);
通过公式计算被测样件变形前后的位移,其中深度方向的坐标z=π·fk。
3.根据权利要求1所述的光学相干层析变形场降噪方法,其特征在于,
步骤所述根据所述干涉光谱的原始幅值Am(y,z)和原始相位差Δφm(y,z)计算特征参数C1、C2、C3和C4包括:
选取以(y,z)为中心的一个区域为特征参数C1的取值范围;
通过公式计算C1。
4.根据权利要求3所述的光学相干层析变形场降噪方法,其特征在于,
步骤所述根据所述干涉光谱的原始幅值Am(y,z)和原始相位差Δφm(y,z)计算特征参数C1、C2、C3和C4包括:
以(y,z)为中心分别沿y方向、z方向和yz轴之间45度夹角方向为特征参数C2取值;
通过公式
计算C2。
5.根据权利要求4所述的光学相干层析变形场降噪方法,其特征在于,
步骤所述根据所述干涉光谱的原始幅值Am(y,z)和原始相位差Δφm(y,z)计算特征参数C1、C2、C3和C4包括:
选取以(y,z)为中心的一个区域为特征参数C3的取值范围;
对区域内的相位差进行三阶曲面拟合得到Δφf(y,z);
通过公式C3(y,z)=|Δφm(y,z)-Δφf(y,z)|计算C3。
6.根据权利要求5所述的光学相干层析变形场降噪方法,其特征在于,
步骤所述根据所述干涉光谱的原始幅值Am(y,z)和原始相位差Δφm(y,z)计算特征参数C1、C2、C3和C4包括:
选取以(y,z)为中心的一个区域为特征参数C4的取值范围;
对区域内的相位进行三阶曲面拟合;
通过公式计算C4。
7.根据权利要求6所述的光学相干层析变形场降噪方法,其特征在于,
步骤所述对所述特征参数C1、C2、C3和C4进行模糊化处理得到模糊化特征参数Cn1、Cn2、Cn3和Cn4包括:
通过公式分别计算得到模糊化特征参数Cn1、Cn2、Cn3和Cn4,其中,Cmax表示相应特征参数的最大值,Cmin表示相应特征参数的最小值;
选取3个模糊状态,分别标记为B、M和S;
绘制模糊集隶属度函数。
8.根据权利要求7所述的光学相干层析变形场降噪方法,其特征在于,
步骤所述对所述模糊化特征参数进行判断,并输出O1和O2包括:
参照所述模糊集隶属度函数进行判断;
若满足条件1,则输出O1是B;
否则,输出O1是S;
所述条件1为参数C1是B、参数C2是B、参数C4是S、参数C1与C4均是M和参数C2与C4均是M中的任意一种。
9.根据权利要求8所述的光学相干层析变形场降噪方法,其特征在于,
步骤所述对所述模糊化特征参数进行判断,并输出O1和O2还包括:
若满足条件2,则输出O2是B;
否则,输出O2是S;
所述条件2为参数C1是S、参数C2是S、参数C3是B、参数C4是和参数C4是S且参数C3是M中的任意一种。
10.根据权利要求9所述的光学相干层析变形场降噪方法,其特征在于,
步骤所述计算降噪后的输出幅值Ae(y,z)和输出相位差Δφe(y,z)包括:
通过公式
计算降噪后的幅值Ae(y,z)和相位差Δφe(y,z)。