1.一种高精度显微物镜数值孔径的测量方法及系统,其特征在于,包括:照明光源、分光镜、显微物镜、SPR标准样片,一号透镜、二号透镜、探测器;
其中,所述照明光源和显微物镜共轴,所述一号透镜、二号透镜和探测器共轴,光路和分光镜所在平面成45度,所述一号透镜和二号透镜镜面之间的距离是其两者的焦距之和,探测器的感光面和显微物镜的后焦面共轭,所述显微物镜的焦点在SPR标准样片表面。
2.根据权利要求1所述的一种高精度显微物镜数值孔径的测量方法及系统,其特征在于:光源为线偏振光源时,可用线偏振光激发SPR。
3.根据权利要求1所述的一种高精度显微物镜数值孔径的测量方法及系统,其特征在于:光源为径向偏振光源时,可用径向偏振光激发SPR。
4.根据权利要求1所述的一种高精度显微物镜数值孔径的测量方法及系统,其特征在于:所述光源发出的光束横截面直径大于或等于显微物镜的通光孔径。
5.根据权利要求1所述的一种高精度显微物镜数值孔径的测量方法及系统,所述SPR标准样片由两层材料构成,分别是高折射率材料层,能激发SPR的金属层,光束从高折射率材料层入射。
6.根据权利要求1所述的一种高精度显微物镜数值孔径的测量方法及系统,所述SPR标准样片由三层材料构成,分别是高折射率材料层,粘附层,能激发SPR的金属层,光束从高折射率材料层入射。
7.一种高精度显微物镜数值孔径的测量方法及系统,其特征在于,所述方法包括:光束从显微物镜入射后聚焦在SPR标准样片上,反射光在显微物镜后焦面成像,图像传感器上可获得后焦面上像的最大光圈半径rmax、SPR吸收弧半径rSP。
8.根据权利要求7所述的一种高精度显微物镜数值孔径的测量方法及系统,其特征在于,采用以下公式获得NA的具体数值:
式中,NA表示显微物镜的数值孔径;n0表示显微物镜与SPR标准样片间介质的折射率;rSP表示显微物镜后焦面上成像的SPR吸收弧的半径;rmax表示显微物镜后焦面上成像的最大光圈的半径;θsp表示SPR标准样片的SPR激发角。
9.根据权利要求1所述的一种高精度显微物镜数值孔径的测量方法及系统,其特征在于,所述方法适用于液浸显微物镜和固浸显微物镜数值孔径的测量。