技术特征：
技术总结
本发明揭示了一种非均匀性校正时校正参数的标定方法，属于红外热成像技术领域。所述方法包括：TEC为红外焦平面探测器提供与待测试温区对应的基准温度；在TEC为红外焦平面探测器提供稳定的基准温度后，黑体辐射源在待测试温区的下限温度值工作，计算机保存红外焦平面探测器采集的第一原始图像；黑体辐射源在待测试温区的上限温度值工作，计算机保存红外焦平面探测器采集的第二原始图像；计算机利用第一原始图像和第二原始图像，计算与待测试温区对应的校正参数。本申请利用简单的设备对非制冷红外热成像仪进行快速标定，获得其在高温工作环境中的校正参数，简化标定流程，同时保证非制冷红外热成像仪在高温工作环境中成像质量较好。
技术研发人员：韩瑞;顾鑫;钱佳;高志强;隋修宝;王世允;王洪涛
受保护的技术使用者：江苏北方湖光光电有限公司
技术研发日：2017.05.03
技术公布日：2017.08.29