技术特征：
技术总结
本发明公开了一种基于AOI的显示面板缺陷分类方法及装置，其包括：1)采集显示面板的显示画面，并提取该显示画面的缺陷特征属性向量d；2)提供一缺陷特征属性描述集合M，该缺陷特征属性描述集合M包括多种缺陷类型的特征属性描述向量m；将该缺陷特征属性向量d分别与每种缺陷类型的特征属性描述向量m进行卷积，生成一组卷积值；其中，最大的卷积值对应的缺陷类型即为该缺陷特征属性向量d的缺陷类型。本发明通过自动提取显示面板的缺陷特征信息，及自动识别显示缺陷的数量及类型，实现了显示面板的缺陷识别、等级判定的自动化程度，能极大的提升显示面板缺陷识别和等级判定的检测效率和精确度。
技术研发人员：吕东东;张胜森;邓标华
受保护的技术使用者：武汉精测电子技术股份有限公司
技术研发日：2017.05.16
技术公布日：2017.10.24