技术特征：
技术总结
本发明公开了一种双缝入射高分辨率成像光谱系统,它由双入射缝、分光子系统以及探测子系统构成，其中分光子系统包含主反射镜、凸面光栅、次反射镜以及校正透镜，探测子系统包含滤光片以及面阵探测器。系统具有高分辨率、快速重访时间、较低成本以及空间系统高集成化。双缝结构使系统实现一次观测同时获得两个目标区域的光谱信息，缩短重访时间；通过主反射镜、凸面光栅、次反射镜同心的设计方法，可以减小系统像差，提高系统分辨率。
技术研发人员：朱雨霁;尹达一;魏传新
受保护的技术使用者：中国科学院上海技术物理研究所
技术研发日：2017.07.12
技术公布日：2017.09.08