技术特征：
技术总结
本发明提供一种用于诊断天线阵口径幅相场的畸变位置的方法，首先是对近场数据进行近场‑平面波谱变换得到k空间的平面波谱分量，然后在k空间平面波谱实施探头和单元的方向图校正，最后进行平面波谱‑口径场逆变换获得口径场分布。最后，为了获得更为准确数据，需要进行口径场的重构，获取口面上实际物理位置的幅相分布，从而判断出口径场或激励电流发生畸变的位置以及所对应的辐射单元，达到对天线进行“诊断”的目的。本发明可以准确定位天线失效单元位置，及时排查故障，节约大量测试时间，并且通过反演补偿的方式提高方向图质量。另外，本发明利用快速傅立叶变换(FFT)作高效计算，因而具有较强的工程实用性。
技术研发人员：陈玉林;胡元奎;于丁;张大海;范忠亮
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第三十八研究所
技术研发日：2017.10.17
技术公布日：2018.03.09