照度测量系统及测量方法与流程

文档序号:14734975发布日期:2018-06-19 20:17阅读:1003来源:国知局
照度测量系统及测量方法与流程

本发明涉及一种照度测试技术,尤其涉及一种照度测量系统及测量方法。



背景技术:

目前,对产品的光学效果都是用亮度进行评价,在前期都是使用辉度仪对发光或导光的产品进行一个亮度的测量。辉度仪主要有取点式和成像式,取点式辉度仪主要是将产品放在辉度仪下方,对根据放置的距离对辉度仪进行调焦,确认测量点位置后取点测量产品的亮度;成像式辉度仪主要是将产品处于辉度仪的前方,对辉度仪进行调焦,进行成像操作。

但是,现有的辉度仪存在以下缺陷:

不管是取点式还是成像式,都需要将测量的数据进行导出,然后进行整理汇总,手动输入结果判定产品的光学均匀性或差异值总结。过程存在操作误差和文件输出误差,准确率低,耗时长。



技术实现要素:

为了克服现有技术的不足,本发明的目的之一在于提供一种照度测量系统,其能够自动对光束进行测量,极大地减少失误,降低时间成本。

本发明的目的之二在于提供一种照度测量方法,其能够自动对光束进行测量,极大地减少失误,降低时间成本。

本发明的目的之一采用如下技术方案实现:

照度测量系统,包括照度计、终端和检测箱,检测箱内设有待测器件和多个用于对待测器件的光照亮度进行检测的测量探头,所述测量探头位于待测器件的下方,测量探头与照度计连接,照度计连接终端。

进一步地,所述待测器件位于检测箱的顶板,测量探头位于检测箱的底板。

进一步地,所述测量探头的数量为三个,三个测量探头均匀排列。

进一步地,所述待测器件为光导条。

进一步地,所述终端为电脑。

进一步地,照度计通过USB数据线与电脑连接。

进一步地,检测箱内还设有承放座,所述测量探头放置在承放座上。

本发明的目的之二采用如下技术方案实现:

一种照度测量方法,应用于本发明目的之一任一项所述的照度测量系统,包括如下步骤:

光束投射步骤:待测器件将来自外部的光源反射出光束;

光束检测步骤:每一个测量探头分别测量对应位置的光束的照度值;

发送步骤:照度计根据将来自每一个测量探头的照度值全部发送至终端;

处理步骤:终端根据全部照度值处理得到光束的均匀性和差异性。

进一步地,在处理步骤中,终端根据公式LXmin/LXmax*100%计算得到光束的均匀性,其中,LXmin为全部照度值中数值最小的照度值,LXmax为全部照度值中数值最大的照度值。

进一步地,在处理步骤中,终端根据公式(LXmax-LXmin)/LX*100%

计算得到光束的差异性,其中,LXmin为全部照度值中数值最小的照度值,LXmax为全部照度值中数值最大的照度值,LX为全部照度值的平均值。

相比现有技术,本发明的有益效果在于:

本发明只需要将待测量的器件摆放至检测箱内,通过执行软件流程自动对照度进行检测,并且自动记录和分析处理,操作简单,中途无需人工介入,极大的减少了失误和时间成本。

附图说明

图1为本发明的照度测量系统的结构示意图;

图2为本发明的照度测量方法的流程图。

图中:1、照度计;2、终端;3、检测箱;4、待测器件;5、测量探头;6、承放座。

具体实施方式

下面,结合附图以及具体实施方式,对本发明做进一步描述,需要说明的是,在不相冲突的前提下,以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。

如图1所示,本发明提供一种照度测量系统,其包括照度计1、终端2和检测箱3,检测箱3内设有待测器件4和多个用于对待测器件4的光照亮度进行检测的测量探头5,所述测量探头5位于待测器件4的下方,测量探头5与照度计1连接,照度计1连接终端2。在实际使用中,待测器件4还连接有光源,光源发出光信号通过待测器件4反射出光束,不同位置的测量探头5对其对应位置光束的照度进行测量,设置多个测量探头5放置在不同的位置,以便对待测器件4不同位置的发射光束是否一致或接近,也即是光照均匀性进行测量。

本发明选用的照度计1为现有产品,可以选用型号为CL-200A的照度计,技术人员可以直接在市面上采买获得。终端2可以选用为电脑。终端2上优选具备USB接口,照度计1优选通过USB数据线与终端2连接通信,连接方式简单快捷,拆卸方便。在终端2为电脑的情况下,将来自测量探头5的照度值上传至电脑,由电脑进行分析、保存、处理,并直观的显示结果。

作为一种实施方式,在本发明中,待测器件4设置在检测箱3的顶板,测量探头5位于检测箱3的底板,从而测量探头5可以更好的检测到从待测器件4出来的光束。测量探头5的数量优选为三个,这三个测量探头5均匀排列,均匀的将对应位置的光束进行检测。

本发明中的待测器件4选择为光导条。

作为一种实施方式,本发明的检测箱3内还设有承放座6,所述测量探头5放置在承放座6上。在操作的过程中,也可以在承放座6上转动测量探头5,以找到最好的角度最光束进行照度测量。

另外一方面,本发明提供一种照度测量方法,其应用在照度测量系统中,如图2所示,包括如下步骤:

S1:待测器件将来自外部的光源反射出光束;

待测器件连接有光源,将光源发出的光信号反射出光束。

S2:每一个测量探头分别测量对应位置的光束的照度值;

设置多个测量探头,均匀排列分布,测量探头对照度值进行检测,并传输至照度计。

S3:照度计根据将来自每一个测量探头的照度值全部发送至终端;

S4:终端根据全部照度值处理得到光束的均匀性和差异性。

在S4中,终端根据公式LXmin/LXmax*100%计算得到光束的均匀性,其中,LXmin为全部照度值中数值最小的照度值,LXmax为全部照度值中数值最大的照度值。此外,还根据公式(LXmax-LXmin)/LX*100%计算得到光束的差异性,其中,LXmin为全部照度值中数值最小的照度值,LXmax为全部照度值中数值最大的照度值,LX为全部照度值的平均值。全部照度值的平均值通过现有的计算方法可以容易得到。

本发明只需要将待测量的器件摆放至检测箱内,通过执行软件流程自动对照度进行检测,并且自动记录和分析处理,操作简单,中途无需人工介入,极大的减少了失误和时间成本。

上述实施方式仅为本发明的优选实施方式,不能以此来限定本发明保护的范围,本领域的技术人员在本发明的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本发明所要求保护的范围。

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