1.一种测量透明介质折射率的装置，包括激光器、扩束透镜、迈克尔逊干涉仪，所述的迈克尔逊干涉仪包括平面反射镜M1、M2与分光板G1、补偿板G2，其特征在于在所述的迈克尔逊干涉仪平台上的平面反射镜M1与分光板G1之间设置旋转装置，所述的旋转装置包括固定在迈克尔逊干涉仪平台上的固定支架，所述固定支架上方转动配合连接用于插入透明介质的旋转支架，旋转支架的螺杆与螺旋测微器的测微螺杆接触。
2.如权利要求1所述的一种测量透明介质折射率的装置，其特征在于平面反射镜M1与透明介质平行设置，即光线垂直入射透明介质，平面反射镜M1与分光板G1的几何路径为s，所述透明介质的厚度为e，透明介质折射率为n，旋转支架插入透明介质后光路（1）的光程满足：△=2s+2ne-2e；平面反射镜M1与透明介质夹角设置，即光线的入射角为i，折射角为r，平面反射镜M1与分光板G1的几何路径为s，所述透明介质的厚度为e，透明介质折射率为n，旋转支架插入透明介质后光路（1）的光程满足：△′=2s+2ne／cos r-2e cos（i-r）／cos r ；光路（1）的光程变化满足：δ=△′-△=2ne（1／cos r-1）-2e[cos（i-r）／cos r-1]=（1-1／n）ei²。
3.如权利要求2所述的一种测量透明介质折射率的装置，其特征在于所述螺旋测微器的微分筒转动而观测到冒出或缩进的条纹数为k，光路（1）的光程变化满足：δ=（1-1／n）ei²=kλ，其中λ为光学匹配系统输出的激光束的波长。
4.如权利要求3所述的一种测量透明介质折射率的装置，其特征在于旋转支架与固定支架的固定点到螺旋测微器测微螺杆的触接点距离为l，螺旋测微器测微螺杆的触接点旋进距离为x，则透明介质的折射率为：n=1/（1- kλl²/ex²）。
5.如权利要求1所述的一种测量透明介质折射率的装置，其特征在于所述的迈克尔逊干涉仪还安装螺旋测微器支架。
6.如权利要求1所述的一种测量透明介质折射率的装置，其特征在于所述的迈克尔逊干涉仪的型号为：KF-WSM。