三相检测电路的制作方法

本实用新型涉及电子技术领域，尤其涉及一种三相检测电路。

背景技术：

如图1所示，常用三相检测电路中，若三相电源R（第一相）、S（第二相）、T（第三相）输入正常时，则P1、P2闭合；若三相R、S、T逆相，则P1、P2断开。但该电路有一个缺点，若三相S缺相，P1，P2仍是闭合，从而使得缺相检测有缺陷。

技术实现要素：

本实用新型所要解决的技术问题在于，提供一种结构简单、可靠性高、响应速度快，抗干扰能力好的三相检测电路，可实现缺相、逆相的有效检测。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种三相检测电路，包括相互电连接的三相T、三相S、三相R、电源零线、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第一稳压二极管、第二稳压二极管、第一光电耦合器、第二光电耦合器、三极管、第一二极管及第二二极管。

作为上述方案的改进，所述三相T、三相S、三相R、第二电阻、第三电阻、第五电阻、第二稳压二极管、第二光电耦合器及电源零线相互连接构成三相缺相电路；所述三相T通过第五电阻接入第二稳压二极管、第二光电耦合器及电源零线；所述三相S通过第二电阻接入第二稳压二极管、第二光电耦合器及电源零线；所述三相R通过第三电阻接入第二稳压二极管、第二光电耦合器及电源零线。

作为上述方案的改进，所述三相T、三相S、三相R、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第一电阻、第四电阻、第六电阻、第一稳压二极管及第一光电耦合器构成相序检测电路；所述三相S通过第三电容、第二电容、第六电阻及第一稳压二极管进入第一光电耦合器，所述三相R通过第一电阻、第六电阻及第一稳压二极管进入第一光电耦合器，所述第一光电耦合器通过第四电阻连接三相T并通过第四电容及第一电容连接三相R。

作为上述方案的改进，所述第一二极管的正极与第二光电耦合器的LED负极电连接，所述第一二极管的负极与第二光电耦合器的LED正极电连接。

作为上述方案的改进，所述第二二极管的正极与第一光电耦合器的LED负极电连接，所述第二二极管的负极与第一光电耦合器的LED正极电连接。

作为上述方案的改进，所述三极管的基极分别与第二光电耦合器的集电极、第八电阻及第五电容的一端电连接，所述三极管的发射极分别与第五电容的另一端及地极电连接，所述三极管的基极集电极与第一光电耦合器的发射极电连接，所述第一光电耦合器的集电极通过第七电阻连接供电电源。

实施本实用新型的有益效果在于：

本实用新型三相检测电路通过引入第一光电耦合器及第二光电耦合器实现缺相、逆相的有效检测，克服了现有技术的缺点。

本实用新型通过三相T、三相S、三相R、第二电阻、第三电阻、第五电阻、第二稳压二极管、第二光电耦合器及电源零线相互连接构成三相缺相电路。若三相（三相T、三相S及三相R）正常，则第二光电耦合器不导通，三极管导通；若三相（三相T、三相S及三相R）缺相，则第二稳压二极管导通，第二光电耦合器也导通，三相检测输出为高电平。

本实用新型通过三相T、三相S、三相R、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第一电阻、第四电阻、第六电阻、第一稳压二极管及第一光电耦合器构成相序检测电路。若三相相序正常，第一光电耦合器导通，三相检测输出为低电平；若出现逆相，第一光电耦合器不导通，三相检测输出为高电平。

本实用新型的三相检测电路采用数字电路制成，既简单又可靠，响应速度快，抗干扰能力好，制造成本低。

附图说明

图1是现有的三相检测电路；

图2是本实用新型三相检测电路的电路示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型作进一步地详细描述。仅此声明，本发明在文中出现或即将出现的上、下、左、右、前、后、内、外等方位用词，仅以本发明的附图为基准，其并不是对本发明的具体限定。

如图1所示，常用三相检测电路中，若三相电源R（第一相）、S（第二相）、T（第三相）输入正常时，则P1、P2闭合；若三相R、S、T逆相，则P1、P2断开。但该电路有一个缺点，若三相S缺相，P1，P2仍是闭合，从而使得缺相检测有缺陷。

参见图2，图2显示了本实用新型三相检测电路的电路图，其包括相互电连接的三相T、三相S、三相R、电源零线、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3、第四电容C4、第五电容C5、第一稳压二极管Z1、第二稳压二极管Z2、第一光电耦合器IC1、第二光电耦合器IC2、三极管Q1、第一二极管D1及第二二极管D2。其中：

所述三相T、三相S、三相R、第二电阻R2、第三电阻R3、第五电阻R5、第二稳压二极管Z2、第二光电耦合器IC2及电源零线相互连接构成三相缺相电路。具体地，所述三相T通过第五电阻R5接入第二稳压二极管Z2、第二光电耦合器IC2及电源零线；所述三相S通过第二电阻R2接入第二稳压二极管Z2、第二光电耦合器IC2及电源零线；所述三相R通过第三电阻R3接入第二稳压二极管Z2、第二光电耦合器IC2及电源零线。

需要说明的是，若三相（三相T、三相S及三相R）正常，则第二光电耦合器IC2不导通；若三相（三相T、三相S及三相R）缺相，则第二稳压二极管Z2导通，第二光电耦合器IC2也导通。

所述三相T、三相S、三相R、第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3、第四电容C4、第一电阻R1、第四电阻R4、第六电阻R6、第一稳压二极管Z1及第一光电耦合器IC1构成相序检测电路。具体地，所述三相S通过第三电容C3、第二电容C2、第六电阻R6及第一稳压二极管Z1进入第一光电耦合器IC1，所述三相R通过第一电阻R1、第六电阻R6及第一稳压二极管Z1进入第一光电耦合器IC1，所述第一光电耦合器IC1通过第四电阻R4连接三相T并通过第四电容C4及第一电容C1连接三相R。

需要说明的是，若相序正常，第一光电耦合器IC1导通；若出现逆相，第一光电耦合器IC1不导通。

另外，所述第一二极管D1的正极与第二光电耦合器IC2的LED负极电连接，所述第一二极管D1的负极与第二光电耦合器IC2的LED正极电连接。所述第二二极管D2的正极与第一光电耦合器IC1的LED负极电连接，所述第二二极管D2的负极与第一光电耦合器IC1的LED正极电连接。所述三极管Q1的基极分别与第二光电耦合器IC2的集电极、第八电阻R8及第五电容C5的一端电连接，所述三极管Q1的发射极分别与第五电容C5的另一端及地极电连接，所述三极管Q1的基极集电极与第一光电耦合器IC1的发射极电连接，所述第一光电耦合器IC1的集电极通过第七电阻R7连接供电电源。

由上可知，与现有技术不同的是，本实用新型三相检测电路通过引入第一光电耦合器IC1及第二光电耦合器IC2实现缺相、逆相的有效检测，克服了现有技术的缺点。具体地，若三相（三相T、三相S及三相R）正常，则第二光电耦合器IC2不导通，三极管Q1导通；若三相（三相T、三相S及三相R）缺相，则第二稳压二极管Z2导通，第二光电耦合器IC2也导通，三相检测输出为高电平；若三相相序正常，第一光电耦合器IC1导通，三相检测输出为低电平；若出现逆相，第一光电耦合器IC1不导通，三相检测输出为高电平。

以上所述是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本实用新型的保护范围。