一种荧光爆炸物探测仪的加热取样控制系统的制作方法

本实用新型涉及荧光爆炸物探测领域，尤其涉及一种荧光爆炸物探测仪的加热取样控制系统。

背景技术：

荧光爆炸物探测仪是一种以荧光敏感材料为核心技术的微痕量爆炸物探测仪器。该类仪器通过检测荧光材料受激辐射时荧光信号的变化实现对待测物的高灵敏检测。荧光爆炸物探测仪器加热取样器的常见主要工作原理是：通过带有一个试纸插槽的温控控制系统，使用加热手段使插入插槽的试纸表面采集到的爆炸物挥发出的微痕量蒸气，通过气泵将痕量蒸气抽入荧光猝灭反应传感器内，使得传感器反应腔体内部的蒸气迅速富集，以达到更充分的猝灭反应效果。

目前市面上采用取样器的荧光爆炸物探测仪主要有美国Fido-x3痕量爆炸物探测仪，浙江卷积科技NE2013手持式痕量爆炸物探测器等。美国fido-x3 爆炸物探测仪采用的加热取样控制器为可拆卸取样器，位于探测仪前端，长方形的小孔为试纸插入孔，通过前端左右两侧的卡扣就行拆卸，安装后通过触点与主机进行通信，具有升温控制和识别试纸插入功能。浙江卷积科技的NE2013 手持式痕量爆炸物探测仪取样控制器内置在仪器内部，不可拆卸，图中前端开口部位为试纸插入孔，同样是起到识别试纸插入和温度控制的功能。

现有的荧光爆炸物探测仪加热取样控制系统主要功能比较简单，主要是提供试纸插槽，对插槽内部位进行简单温度控制，识别擦拭纸插入这样的功能。在控制系统上，并没有将探测仪器后端的荧光强度信号与前端加热取样控制系统的温度控制实时的关联起来，实现实时调整温度参数。所以目前的爆炸物探测仪智能化程度上还有待提高。

技术实现要素：

为了解决现有技术的上述问题，有必要提供一种荧光爆炸物探测仪的加热取样控制系统。

本实用新型解决技术问题提供的技术方案是：

本实用新型还提供一种荧光爆炸物探测仪的加热取样控制系统，其包括温控模块、试纸插槽和光电传感器，所述温控模块用于根据所述荧光爆炸物探测仪的荧光强度信号控制所述试纸插槽的温度，以对位于所述试纸插槽内的检测试纸进行加温，所述光电传感器用于感应所述检测试纸的位置。

本实用新型实施例中，所述加热取样控制系统采用卡扣式方式与所述荧光爆炸物探测仪连接，并通过触点与荧光爆炸物探测仪进行通信。

本实用新型实施例中，所述温控模块采用PID算法来对所述试纸插槽的温度进行控制。

本实用新型实施例中，所述加热取样控制系统包括三种工作模式：普通模式、去污染模式和低功耗模式，

在普通模式下，所述温控模块采用PID算法来对所述试纸插槽进行加热；

在去污染模式下，所述温控模块迅速升温去除所述试纸插槽内的污染物；

在低功耗模式，所述温控模块不工作。

与现有技术相比较，本实用新型的荧光爆炸物探测仪具有如下优点：首先，采用PID算法处理后的温度值，精确度达到0.1摄氏度以内，完全满足了所述加热取样控制系统前端温度稳定要求；其次，使用的智能反馈控制使得仪器 UI操作更加傻瓜化，使得用户不需要关心当前仪器的状态，所述加热取样控制系统自身就可以对当前的污染状态进行获取和处理；最后，所述加热取样控制系统与所述探测仪主机的实时通信也方便随时添加其他有用信号，可扩展性强。

附图说明

图1是本实用新型的荧光爆炸物探测仪的结构示意图。

图2是图1中的所示的加热取样控制系统的PID温控模型的流程示意图。

图3是本实用新型的荧光爆炸物探测仪的工作流程示意图。

具体实施方式

如图1所示，本实用新型实施例中，荧光爆炸物探测仪包括探测仪主机10 和加热取样控制系统20，所述加热取样控制系统20采用卡扣式方式与所述探测仪主机10连接，并通过触点与探测仪主机10进行通信。

所述加热取样控制系统20包括温控模块21、试纸插槽22和光电传感器23，所述温控模块21用于根据所述探测仪主机10的荧光强度信号控制所述试纸插槽22的温度，以对位于所述试纸插槽22内的检测试纸进行加温，所述光电传感器23用于感应所述检测试纸的位置，从而精准判断试纸的插入拔出，实时监测是否出现试纸的误操作。

所述探测仪主机10包括气泵11和荧光猝灭反应传感器12。所述气泵11 设置于所述加热取样控制系统20和所述荧光猝灭反应传感器12之间，所述气泵11用于将所述加热取样控制系统20对检测试纸加热的微痕量蒸气抽取至所述荧光猝灭反应传感器12内的反应腔体。所述荧光猝灭反应传感器12用于对所述微痕量蒸气进行检测，并向所述探测仪主机10反馈荧光强度信号。所述温控模块21进一步根据所述荧光强度信号控制所述试纸插槽22的温度，以对位于所述试纸插槽22内的温度进行精确控制，所述温控模块21采用PID算法来对所述试纸插槽的温度进行控制，其控制流程如如图2所示。

如图3中所示，是本实用新型的荧光爆炸物探测仪的工作流程示意图。当所述加热取样控制系统20与所述探测仪主机10连接，所述加热取样控制系统20上电，同时所述探测仪主机10与取样机进行握手操作，当二者握手成功，表明所述加热取样控制系统20与所述探测仪主机10秘钥一致，握手成功，否则所述探测仪主机10认为所述探测仪主机10所述加热取样控制系统20不匹配。握手成功后，所述加热取样控制系统20随即开机打开温度采样操作。接下来，所述加热取样控制系统20控制端接受所述探测仪主机10状态字，获取所述探测仪主机10当前的工作状态。所述加热取样控制系统20包括三种工作模式：普通模式、去污染模式和低功耗模式，所述加热取样控制系统20在所述三种工作模式下具有不同的工作状态。

在普通模式下，所述温控模块21采用PID算法来对所述试纸插槽进行加热。所述加热取样控制系统20进行PID温度控制PWM方波的占空比来调节加热片功率，实时将当前温度状态以及试纸插入状态返回发送到所述探测仪主机10。

在去污染模式下，所述温控模块21迅速升温去除所述试纸插槽内的污染物。接收到所述探测仪主机10的污染信号，所述温控模块21全速工作，迅速高温清洗，同时报告所述探测仪主机10正在强力清洗，勿要采取操作。

在低功耗模式，所述温控模块21不工作。所述温控模块21的PWM占空比为0，不工作，只发送试纸是否插入信号。

综上所述，本实用新型的荧光爆炸物探测仪的所述加热取样控制系统具有如下优点：首先，采用PID算法处理后的温度值，精确度达到0.1摄氏度以内，完全满足了所述加热取样控制系统前端温度稳定要求；其次，使用的智能反馈控制使得仪器UI操作更加傻瓜化，使得用户不需要关心当前仪器的状态，所述加热取样控制系统自身就可以对当前的污染状态进行获取和处理；最后，所述加热取样控制系统与所述探测仪主机的实时通信也方便随时添加其他有用信号，可扩展性强。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。