飞针机上用探针结构的制作方法

本实用新型涉及探针检测技术领域，特别涉及一种飞针机上用探针结构。

背景技术：

飞针测试是目前电气测试一些主要问题的最新解决办法，可检查短路、开路和元件值。它用探针来取代针床，使用多个马达驱动，能够快速移动探针，然后探针与器件的引脚或者金手指进行接触，进行电气测量。

目前，现有技术中的一种探针结构，如图1所示，其包括针座1，针座1一侧设置有测试芯片2，针座1的一端设置有与测试芯片2相连的探针3，探针3的形状为扁平状的片体，片体的测试端4中部呈弧形内凹，测试时，探针3与器件的引脚或者金手指接触，测试芯片2可接收探针3测试到的引脚的电性。

但是，上述这种探针3结构的探针3测试端4宽度比较宽，针对于一些引脚间距较小的器件测量来说，测试时如果探针3出现歪斜的话，容易导致探针3同时接触到两个引脚，从而导致测量结果出现偏差。

技术实现要素：

本实用新型的目的是提供一种飞针机上用探针结构，避免探针体同时与两个引脚接触的情况出现，从而保障测量结果的准确性。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种飞针机上用探针结构，包括安装座，所述安装座上设置有测试芯片，所述安装座的一端设置有针筒，所述针筒内安装有与测试芯片电连接的探针体，所述探针体的测试端形状为尖头状由软性金属材料制成。

通过采用上述技术方案，将探针体安装在针筒内，且探针体的测试端形状设置为尖头状，探针体的测试端与器件的引脚接触时，可测量器件的电性，该测试端与引脚的接触面积比较小，避免探针体同时与两个引脚接触的情况出现，从而保障测量结果的准确性，测试端采用软性金属材料制成，具有一定柔软性，与硬针头设计相比，本实用新型中探针体的测试端与引脚接触时，可减少测试端在引脚上的扎痕深度。

进一步的，所述安装座上可拆卸连接有与针筒固定连接的探针座。

通过采用上述技术方案，将探针座可拆卸安装于安装座上，可根据测试器件引脚的不同需求，将探针座拆卸下来，然后更换上合适的探针体，从而提高探针体的适用性，方便更换探针体。

进一步的，所述探针座的侧面上设置有插接件，所述安装座的侧面设置有与插接件插接固定的定位孔。

通过采用上述技术方案，采用插接固定的方式将探针座可拆卸固定在安装座上，在需要拆卸探针体时，将探针座从安装座上拆卸下来，然后更换上另一探针座和探针体，插接的方式方便探针体的更换使用。

进一步的，所述插接件包括插入定位孔内的插接部以及位于定位孔外且可弹性弯曲变形的弹性部，所述弹性部的一端与插接部固定连接，另一端与探针座固定连接。

通过采用上述技术方案，飞针机驱动探针体下压在器件的引脚上时，飞针机给探针体一个较大的下压力，在该下压力过大的情况下，容易导致探针体弯曲变形，或折断，而本实用新型中的插接件设置有一段弹性部，在将探针体下压在引脚上时，弹性部可弹性弯曲变形，从而使飞针机作用在探针体上的下压力得到部分缓冲，避免探针体出现弯曲变形的情况。

进一步的，所述安装座与测试芯片之间设置有用于安装测试芯片的芯片基座，所述芯片基座上设置有与测试芯片一端背面贴合的台阶，所述芯片基座与测试芯片背面之间形成有一定的通槽。

通过采用上述技术方案，芯片基座用于安装测试芯片，芯片基座与测试芯片之间形成一定通槽，在测试芯片工作时，会产生一定的热量，该热量可从通槽散发出来，从而使测试芯片工作时，表面温度不会太高，保持较好的测试性能。

进一步的，所述芯片基座上设置有将测试芯片可拆卸安装于芯片基座上的第一固定组件。

通过采用上述技术方案，第一固定组件将测试芯片可拆卸的安装在芯片基座上，在测试芯片受损的情况下，可通过第一固定组件将测试芯片从芯片基座上拆卸下来，然后更换上新的测试芯片，保障飞针机的测试性能能够正常。

进一步的，所述第一固定组件包括设置于芯片基座上的第一螺纹孔、第一螺钉，所述第一螺钉穿过测试芯片后与第一螺纹孔螺纹配合。

通过采用上述技术方案，第一螺钉穿过测试芯片后与第一螺纹孔螺纹配合，从而将测试芯片可拆卸的固定在芯片基座上，螺纹配合的方式使测试芯片得到牢固的固定，测试芯片方便拆装。

进一步的，所述测试芯片电连接有输出线，所述芯片基座上设置有用于将输出线固定于芯片基座上的第二固定组件，所述第二固定组件包括压在输出线上的塑料片、设置于芯片基座上的第二螺纹孔、第二螺钉，所述第二螺钉穿过输出线两侧的塑料片后与第二螺纹孔螺纹配合。

通过采用上述技术方案，测试芯片测得的电性可通过输出线输出，从而使飞针机可获得探针体测得的电性，通过塑料片压在输出线上，然后通过第二螺钉穿过塑料片后与第二螺纹孔螺纹配合，从而将输出线定位固定在芯片基座上，使输出线得到较好的固定，不易出现损坏。

进一步的，所述芯片基座上设置有定位凹槽，所述安装座上设有与定位凹槽定位配合的定位凸条。

通过采用上述技术方案，芯片基座通过定位凸条可定位安装在安装座上，从而使芯片基座的安装位置更加的精准、稳定，不易出现安装错位的情况。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：

1、探针体的测试端与器件的引脚接触时，可测量器件的电性，该测试端与引脚的接触面积比较小，避免探针体同时与两个引脚接触的情况出现，从而保障测量结果的准确性；

2、本实用新型对测试芯片均采用可拆卸的方式设置，方便部件的更换，减少损耗成本。

附图说明

图1是现有技术的结构示意图；

图2是实施例的整体结构示意图；

图3是实施例的爆炸示意图；

图4是实施例的爆炸示意图，用于显示探针座的结构；

图5是实施例中探针座的结构示意图。

图中：1、针座；2、测试芯片；3、探针；4、测试端；5、安装座；6、芯片基座；7、台阶；8、测试芯片；9、通槽；10、输出线；11、第二固定组件；1101、塑料片；1102、第二螺钉；1103、第二螺纹孔；12、第一固定组件；1201、第一螺钉；1202、第一螺纹孔；13、探针体；1301、测试端；14、针筒；15、定位凹槽；16、定位凸条；17、定位孔；18、插接件；1801、插接部；1802、弹性部；19、探针座。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

具体实施例仅仅是对本实用新型的解释，其并不是对本实用新型的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。

实施例：一种飞针机上用探针结构，如图3所示，包括长方体形状的安装座5，安装座5上设置有测试芯片8。安装座5与测试芯片8之间设置有芯片基座6，芯片基座6面向安装座5的一侧表面设置有定位凹槽15，安装座5上设置有定位凸条16，定位凸条16的形状为凸出于安装座5表面的条状，定位凸条16与定位凹槽15定位配合。

芯片基座6背向安装座5的一侧表面设置有台阶7，测试芯片8的一端背面与台阶7的表面贴合，且在台阶7上设置有第一固定组件12。

第一固定组件12包括设置于台阶7上的第一螺纹孔1202、第一螺钉1201，第一螺钉1201穿过测试芯片8贴合台阶7的一端后与第一螺纹孔1202螺纹配合，从而将测试芯片8可拆卸安装于芯片基座6上。

结合图2所示，由于台阶7的设置，芯片基座6与测试芯片8面向芯片基座6的表面之间形成有一定的通槽9，通槽9延伸至测试芯片8的两侧。

测试芯片8电连接有用于将测试芯片8的测试数据输出的输出线10，芯片基座6上设置有第二固定组件11，第二固定组件11包括长度大于输出线10宽度的塑料片1101、设置在芯片基座6上的第二螺纹孔1103、第二螺钉1102，第二螺纹孔1103和第二螺钉1102的数量均为2个，分别位于输出线10的两侧，塑料片1101压在输出线10上，第二螺钉1102穿过塑料片1101后与第二螺纹孔1103螺纹配合，从而将输出线10固定在芯片基座6上。

如图4和图5所示，安装座5的一侧可拆卸连接有探针座19，探针座19面向安装座5的一侧表面上设置有插接件18，安装座5的侧面开设有定位孔17，插接件18包括首尾固定连接的插接部1801和弹性部1802，插接部1801和弹性部1802的形状均为圆柱体，插接部1801和弹性部1802首尾相连，插接部1801插入到定位孔17内且与定位孔17插接配合，弹性部1802由弹性材料制成，可在弹性部1802的径向上产生弹性变形弯曲，弹性部1802远离插接部1801的一端与探针座19固定连接。

安装座5的一端设置有针筒14，针筒14内固定安装有探针体13，探针体13与测试芯片8电连接，探针体13远离针筒14的一端为测试端1301，测试端1301的形状为尖头状，探针体13的针头，即测试端1301采用软性金属材料制成，具有一定软性，测试时，测试端1301与引脚接触，以测量器件的电性。

使用时，将安装座5安装在飞针机上，通过飞针机控制安装座5的移动，从而带动探针体13移动，使探针体13下压在器件的引脚上，在下压过程中，插接件18的弹性部1802可向远离测试端1301的方向弯曲，从而缓冲探针体13在引脚上的部分下压力，从而避免探针体13或引脚因下压力过大而产生损坏，探针体13用于测试器件的电性，测试芯片8接收通过探针体13测得的电信号，然后通过输出线10输出到飞针机上，从而测得飞针机的电性。