转接机构及测试装置的制作方法

本公开涉及测试技术领域，尤其涉及转接机构及测试装置。

背景技术：

通常，电子设备内的电路板上会设置很多连接接口，以使得电子设备可以与外部设备或者模块之间实现连接通信，从而实现电子设备具备的各个功能模块。那么，为了保证电路板在装配至电子设备后各个接口能够正常通信，需要预先对电路板上的接口进行测试，提高良率。

当前，位于测试装置上对待测电路板上的接口进行测试的测试接头往往不具有固定的孔位，而由于测试接头位置的不稳定性，容易导致插拔不准确进一步降低测试效率。

技术实现要素：

为解决相关技术中存在的部分或全部问题，本公开提供一种转接机构及测试装置，以提高测试装置上测试接头的稳定性以及测试效率。

根据本公开的实施例，提供一种转接机构，包括：

固定件，所述固定件包括通道；

第一接头，第一接头包括用以与预设第二接头对接的插接部以及与所述通道过盈配合的配合部，所述配合部与所述插接部的连接处设有限位面，所述限位面与所述固定件抵接，用于限制所述第一接头相对于所述固定件沿插接方向的相反方向运动。

进一步地，还包括与所述固定件固定连接的滑轨，所述滑轨用于引导所述固定件在预设方向上进行往复运动。

进一步地，还包括滑块，所述固定件设有配合于所述滑块的滑槽。

进一步地，所述固定件包括与所述第一接头连接的安装座以及与所述安装座固定连接的导向块。

进一步地，还包括用于驱动所述第二固定件进行往复运动的驱动元件。

进一步地，所述驱动元件包括以下至少之一：

气缸、液压缸、丝杠。

进一步地，所述固定件包括避让槽，所述避让槽用于供外部工具通过以拆卸所述转接机构。

进一步地，所述插接部包括可伸缩设置的第一通信元件和第二通信元件，所述第一通信元件与所述第二通信元件用于与所述第二接头连接通信。

进一步地，所述第一接头包括射频接头。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种测试装置，用于测试待测电路板上的第二接头，包括如上述任一项实施例所述的转接机构，所述转接机构的第一接头与所述第二接头对接；

其中，所述第一接头包括插接公头，所述第二接头包括与所述插接公头对接的插接母头。

进一步地，还包括测试架以及固定于所述测试架的测试机构；

其中，所述测试架与所述转接机构固定连接，所述测试机构用于与所述待测电路板电连接，以导通测试电路。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本公开中第一接头的配合部与固定件上的通道过盈配合后，通过限位面限制第一接头相对于固定件沿插接方向的相反方向运动，一方面可以提高转接机构的插拔精度，另一方面有利于缩小插接部所占用的空间体积，降低与其他机构之间的干涉概率。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是根据一示例性实施例示出的一种转接机构的分解示意图；

图2是根据一示例性实施例示出的另一种转接机构的分解示意图；

图3是根据一示例性实施例示出的另一种转接机构的分解示意图；

图4是根据一示例性实施例示出的一种测试装置的结构框图；

图5是根据一示例性实施例示出的一种待测电路板的结构框图。

附图标记说明：

100：插拔模块；

1：第一接头；

11：插接部；12：配合部；13：限位面；

111：第一通信元件；112：第二通信元件；

2：固定件；

21：通道；22：导向槽；23：安装座；24：导向块；25：避让槽；

3：滑块；

4：滑轨；

41：导轨；42：固定座；

200：测试装置；

201：测试架；202：测试机构；

300：待测电路板；

301：第二接头。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

在本公开使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本公开。在本公开和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本公开可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本公开范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。

图1是根据一示例性实施例示出的一种转接机构的分解示意图。如图1所示，该转接机构100包括第一接头1和固定件2，该固定件2包括通道21，第一接头1包括与预设的第二接头对接插接部11以及与通道21进行过盈配合的配合部12，该配合部12与插接部11的配合处设有限位面13，在第一接头1通过通道21装配到位后，限位面13与固定件2上的对应表面抵接，从而限制第一接头1相对于固定件2沿插接方向的相反方向运动，一方面可以提高转接机构100的插拔精度，另一方面有利于缩小插接部所占用的空间体积，降低与其他机构之间的干涉概率。其中，通道21的截面可以为任意形状，例如圆形、多边形等，本公开并不对此进行限制。

在本实施例中，插接部11可以包括第一通信元件111和第二通信元件112，该第一通信元件111与第二通信元件112可以分别与第二接头连接通信。举例而言，当该第一接头1为射频接头时，该第一通信元件111可以为与第二接头适配的顶针，第二通信元件112可以为与第二接头的内壁适配的探针，从而实现第一接头1与第二接头的通信。其中，第一通信元件111与第二通信元件112均为可伸缩设置，以在第一接头1与第二接头进行对接时可以适当调节插接程度，以降低第一接头1与第二接头的损伤率。

其中，该转接机构100的第一接头1可以为上述实施例中所述的RF(RadioFrequency，射频)接头，其也还可以是VGA(Video Graphics Array，视频图形阵列)接头、DVI(Digital Visual Interface，数字视频)接头或者HDMI(HighDefinition Multimedia Interface，高清晰多媒体)接头等，本公开并不对此进行限制。

实际上，在上述实施例中，当该转接机构100应用于测试领域时，往往需要对多个待测电路板上的第二接头进行测试。所以，为了在实际运用过程中实现第一接头1与第二接头之间的往复插拔，可以将转接机构100设计成可进行往复运动的机构。

在一实施例中，如图2所示，转接机构100还可以包括滑块3，该滑块3可以用于固定整个转接机构100，固定件2则可以包括配合于滑块3的滑槽22，从而通过滑槽22与滑块3的配合实现第一接头1的往复运动，有利于转接机构100在生产线上的运用。

在另一实施例中，如图3所示，该插拔机头100可以包括与固定件2固定连接的滑轨4，例如可以通过螺钉锁定在滑轨4上，该滑轨4包括导轨41以及滑动连接于导轨41的固定座42，固定件2可以固定于该固定座42上，从而在固定座42相对于导轨41滑动时，实现固定件2的往复运动并进一步地带动第一接头1进行往复运动，该滑轨4可以为市场上已有的标准件，从而简化加工过程，有利于后期部件更换。

在上述各个实施例中，仍以图3所示实施例为例，该转接机构100还可以包括驱动元件5，该驱动元件5可以配合于固定件1以驱动固定件2进行往复运动，从而使得第一接头1可以实现往复插拔。其中，该驱动元件5可以包括气缸、液压缸、丝杠等，以便于自动化控制转接机构100的往复运动，实现自动化测试。

举例而言，如图3所示，固定件2可以包括与第一接头1连接的安装座23以及与安装座23固定连接的导向块24，该导向块24可以与滑轨4固定连接(或者，在图2所示实施例中与滑块3相配合)，并且驱动元件5配合于导向块24，从而在驱动元件5驱动导向块24沿滑轨4往复运动时，可以进一步带动安装座23以及第一接头1进行往复运动。

在本实施例中，转接机构100可以通过滑块3或者滑轨4与测试装置固定连接，仍以图3所示实施例为例，该转接机构100可以通过螺钉或者螺栓将滑轨4固定连接于测试装置的测试架上，而固定件2的导向块24上可以形成避让槽25，该避让槽25可以供外部工具通过以拆卸连接滑轨4与测试架的螺钉和螺栓，从而将转接机构100从测试装置上分离，方便操作、简单易行，便于测试装置更换其他转接机构。

基于上述各个实施例中的转接机构100，如图4所示，本公开还提供一种测试装置200，该测试装置200用于测试如图5所示的待测电路板300上的第二接头301，可以包括测试架201，测试架201可以用于固定转接机构100和待测电路板300，使得转接机构100上的第一接头1与待测电路板300上的第二接头301之间的相对维持保持稳定，以提供插拔准确率，提升测试效率。

举例而言，在转接机构100上的第一接头1对待测电路板300上的第二接头301进行测试之前，可以先将测试装置200的测试机构202与待测电路板300进行电连接以导通测试电路，从而若待测电路板300上的第二接头301正常，则第一接头1与第二接头301对接完成后可以通信，而若待测电路板300上的第二接头301异常，则第一接头1与第二接头301对接完成后无法通信，假定待测电路板300上的第二接头301异常，本公开还可以通过测试装置200发出提醒或者警报，以告知用户检测结果。

在上述各个实施例中，转接机构100上的第一接头1可以插接公头，待测电路板300上的第二接头301可以为与插接公头适配的插接母头；当然，在一可选实施例中，第一接头1可以为插接母头，第二接头301则为与插接母头适配的插接公头，本公开并不对此进行限制。

对于装置实施例而言，由于其基本对应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本公开方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

以上所述仅为本公开的较佳实施例而已，并不用以限制本公开，凡在本公开的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开保护的范围之内。