本发明涉及射频电容及电感领域，特别涉及一种可调射频电路阻抗的装置。
背景技术：
微带线是由支在介质基片上的单一导体带构成的微波传输线，适合制作微波集成电路的平面结构传输线，其射频元件为电容或电感。与金属波导相比，其具有体积小、重量轻、使用频带宽、可靠性高和制造成本低等优点。现有技术中，在微带线上预留多个检测电容或电感焊盘，通过改变上述电容或电感数量可实现电容容值及电感感值的调整。即在射频电路调试过程中，当需要更换射频元件时，需要不断更换微带线上的射频电容或电感，寻找最优电容值和最优电感值来实现阻抗匹配，进而达到回损率最小、信号质量最优的目的。
在更换射频元件时，传统的做法是通过使用热风枪来更换PCB板上的射频元件，由于射频元件封装较小，会导致射频元件更换时需要耗费较多的时间，进而导致工作效率低下的问题。在每次更换完元件后，需要重新进行测试拓扑，重启样机，输入指令，然后重新进行测试。另外，在重新连接拓扑后，线损可能会发生变化，从而引入不必要的麻烦，这种多次重启样机进行调试的方法也会导致工作效率低下的问题。
同时，这种传统的更换方法应用到射频电路中之后，会导致最终产品仍保留多个射频元件的焊盘，会引起PCB板的浪费；再次，若在更换射频元件中，将多个电容或电感合并为一个电容或电感的时候，微带线的长度会发生变化，导致阻抗发生变化，引起不必要的误差。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于：解决现有技术中射频电路调试时，因频繁更换射频器件，拆装拓扑而带来的效率低下的问题，提供一种可调射频电路阻抗的装置。
为了实现上述目的，本发明提供了一种可调射频电路阻抗的装置，至少两个不同阻值的阻抗单元、检测探针、外壳、轮盘以及与所述轮盘连接的旋钮，所述阻抗单元固定在所述轮盘上，所述轮盘的中心与所述可旋转旋钮的中心通过一连杆相连，通过旋转所述旋钮可以转动所述轮盘；所述检测探针为一端固定在外壳内侧、另一端伸出外壳的并排的两根探针，所述检测探针位于外壳内一端的两根针脚与任一所述阻抗单元电性连接。
具体的，所述阻抗单元由容值确定的电容或感值确定的电感以及PCB焊盘组成。
具体的，所述PCB焊盘两端分别设置有相互分离的金属片，所述电容或电感的两端分别固定在所述焊盘两端的部分金属片上，剩余部分金属片靠近PCB焊盘边缘，其结构凸起以保证所述检测探针可以在所述阻抗单元表面自由滑动。
具体的，所述检测探针的每一个针脚上均设有金属滑片，所述检测探针位于外壳内的两根针脚与所述阻抗单元两端凸起的金属片结构通过所述金属滑片电性连接。
具体的，所述阻抗单元在轮盘上排列时，其中心位置的水平高度一致。
具体的，所述旋钮下方的外壳处开设有一小窗，所述小窗内可显示所述旋钮旋转到当前位置时对应的电容容值或电感感值。
具体的，所述检测探针之间的角度可调节。
具体的，所述装置还包括屏蔽罩，使得所述轮盘完全置于所述屏蔽罩内。
该装置能够解决在硬件工程师射频调试时，不需要更换微带线上的射频电容或电感就可以找到最优容值的电容或感值的电感实现阻抗匹配的问题，有助于提高射频电路调试的效率。
附图说明
图1为本实用新型装置一种结构主视图；
图2为射频电容单元结构俯视图；
图3为射频电容单元结构主视图。
具体实施方式
为了使本领域相关技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面将结合本发明实施方式的附图，对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。
实施例1给出本实用新型装置一种结构的主视图。
如图1所述，本装置组成部分为：至少两个不同阻值的阻抗单元10、检测探针11以及检测探针针脚上设的金属滑片12、外壳13、轮盘14、旋钮15以及轮盘的中心与旋钮的中心相连的连杆16，小窗17和屏蔽罩18。
一般情况在，在射频电路中，仅需要调试射频电路的电容或电感，因此，该装置的阻抗单元包括电容单元和电感单元两种，由于电感和电容的装置图类似，因此，在以下的说明中仅以电容单元为例说明本实用新型装置的结构。
其中，所述阻抗单元10由高精度容值的电容100以及PCB焊盘101组成。焊盘101的两端设置有相互分离的金属片102。一般情况下，由于射频电容的封装方法一致，均使用0201方式封装，只有极少数情况使用0402封装，因此，在考虑焊盘的尺寸时，仅需要考虑这两种情况即可，设计时应当确保该电容能够完全固定于所述焊盘上。该金属片的结构为“L”形结构，其远离焊盘边缘的一侧低平以便固定电容的一端，靠近焊盘边缘的一侧凸起，其凸起高度略高于电容的高度。两个分离的金属片之间的间距小于电容的长度，使得电容的两端可以与金属片远离焊盘边缘低平的部分焊接固定，同时，需要注意的是，每一个金属片在靠近PCB边缘的一侧凸起，略高于电容的高度，该凸起结构与检测探针电性连接，使得该检测探针可以在该阻抗单元表面自由滑动。该射频电容单元的整体结构俯视图和主视图分别如图2和图3所示。
具体的，在选择金属片的材料时，应当选择高电导率、低寄生电感、低电阻参数的材料，在焊盘上制作时，利用沉金工艺，在PCB焊盘上沉积颜色稳定、光亮度好、镀层平整的镍金镀层。
根据射频调试的需要，制作多个调试所需的阻抗单元，如图1所示，用于调试所需的阻抗单元为C1、C2、C3、C4、C5、C6、C7。然后，将这些不同阻值的阻抗单元依次固定在该轮盘上，同时，应当确保所有阻抗单元的中心位于同一水平线上。该轮盘的中心与可旋转旋钮的中心通过一连杆相连，通过旋转该旋钮可以转动该轮盘；检测探针为一端固定在外壳内侧、另一端伸出外壳的并排的两根探针，该检测探针位于外壳内一端的两根针脚与任一所述阻抗单元两端凸起的金属片电性连接。用户在使用时，旋转该旋钮，可以在连杆的带动下转动该转盘，从而改变与检测探针相连接的阻抗单元，进而达到改变容抗或感抗的目的。为了能够直观地显示该旋钮旋转到任一位置时，与检测探针电性连接的具体容抗或感抗数值，特在该旋钮下方的外壳上开设一个小窗，该小窗可用于显示所述旋钮旋转到当前位置时所对应的电容容值或电感感值。
为方便检测探针与阻抗单元的接触，特在检测探针与阻抗单元连接的针脚上均设金属滑片，该检测探针位于外壳内的两根针脚与所述阻抗单元两端凸起的金属片结构通过该金属滑片电性连接。需要指出的是，该金属滑片和探针均为高电导率、低寄生电感、低电阻参数的材料，当旋钮转动的时候，即会带动轮盘转动，从而改变轮盘上与检测探针相连接的阻抗单元。
另外，需要指出的是，该检测探针的角度可以调节，主要是考虑到两种情况：一是当调试射频电路，需要串联一个射频电容或射频电感时，可以很方便的将检测探针接入到断开的电路中；二是考虑到该检测探针需要适应不同的射频电容或射频电感不同的封装情况，两根检测探针之间的角度可调，可以很方便地适用于不同的封装情况。同时，金属滑片的长度需要尽量短，以减小检测电容环路以及其他寄生参数对调试带来的影响。
具体的，由于射频电路是高频信号，增设屏蔽罩，可有效防止外部噪声耦合进电路中，影响测试的稳定性和准确性。
具体的，外壳上具有可显示当前所连接的阻抗对应的容抗或感抗数值的小窗，便于测试人员的观测，同时，还可有效保护装置内部的结构，使整个装置更加小型化、便携化。
具体使用方法为，当需要调试某一元件并联不同阻抗时射频电路的性能时，首先调整外壳外两个针脚的宽度，将探针连接在射频电路元件的两端，然后通过旋转旋钮，调整与检测探针另一端连接的阻抗单元，从而改变与该元件并联的电容或电感，每调一次读一次测试的结果值。另外，往往并联一个阻抗单元并不能得到最佳的测试值，当调试电路需要串联一个阻抗单元时，将需要调试射频电路中对应位置处的电路断开，然后将该装置外壳外两个针脚分别连接到断开电路的两端，与上述过程相似，每调一次读一次测试的结果值。当测试值达到最优值时，读取小窗显示的接入的容抗或感抗数值，即为我们需要的配置值，然后取下该装置，并根据读得的容抗和感抗数值焊接实际器件到对应位置的电路中。
该一次操作等效于更换一次射频元件，拆装一次拓扑，重启一次样机，重复执行此过程，就可以在不更换微带线上的射频电容的同时，找到最佳的电容或电感来实现阻抗匹配的目的，简单方便，可操作性强，操作效率高。
以上仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。