本实用新型涉及测试设备技术领域，具体而言，涉及一种测试连接装置及测试系统。
背景技术：
随着科技的发展，个人或企业定制电子产品越来越普及，而在定制电子产品过程中，生产厂商会先设计硬件电路板，并对设计的硬件电路板进行测试。因为定制的电子产品，导致不同的硬件电路板上的测试点存在差异，在现有技术中，通常是采用与测试点相应的连接器来接收信号。比如，在PCBA板的批量生产过程中，由于设备和操作者的各种可能的因素(比如设备器件之间的尺寸差异、性能差异等)，无法保证生产出来的PCBA板全部都是完好品。也就是在生产的末端需要加入各种的测试设备和测试工具，以保证出厂的所有实装电路板与设计的各种规格和参数完全一致。而连接器并不适用于各类PCBA板，若要对不同类型的PCBA板进行测试，需要单独设计与该PCBA板的测试点相对应的接口，这将延缓测试进度，增加测试成本。
技术实现要素：
为了克服上述现有技术中的不足，本实用新型提供一种结构简单的测试连接装置及测试系统，有助于降低测试成本，加速测试进程，进而解决上述问题。
为了实现上述目的，本实用新型较佳实施例所提供的技术方案如下所示：
本实用新型较佳实施例提供一种测试连接装置，应用于具有至少一个测试点的待测板卡，所述测试连接装置包括基板、插针及固定部，其中：
所述基板设置有呈阵列排布的插孔，所述基板的至少部分插孔可拆卸设置有所述插针，所述插针用于与所述待测板卡的测试点接触，所述固定部用于固定所述基板和待测板卡并使所述插针与测试点接触，以使所述插针接收所述测试点输出的数据信号。
可选地，上述测试连接装置还包括用于放置所述基板或待测板卡的承载台，所述固定部设置在所述承载台上，以对承载台上的基板及待测板卡进行卡固。
可选地，上述承载台上设置有用于限定所述基板和/或待测板卡放置位置的限位挡块。
可选地，上述固定部包括支撑件、第一传动组件及第一挤压件，其中：
所述支撑件设置在所述承载台上，所述支撑件远离所述承载台的一端设置有用于放置第一传动组件的支撑板，所述第一传动组件设置在所述支撑板上；所述第一传动件与所述第一挤压件传动连接，用于带动所述第一挤压件运动以压合固定所述待测板卡及基板。
可选地，上述测试连接装置还包括处理器及传感组件，所述固定部包括支撑件及第二传动组件，其中：
所述传感组件设置在所述承载台上，用于检测承载台上是否放置有所述基板及待测板卡；
所述支撑件的一端设置在所述承载台上，另一端设置有所述第二传动组件，所述第二传动组件包括传动部及第二挤压件，所述传动部与所述第二挤压件连接；
所述处理器与所述传感组件及第二传动组件连接，用于在传感组件检测到所述承载台上放置有所述待测板卡时，生成控制信号，所述第二传动组件接收所述控制信号，并根据所述控制信号驱使所述第二挤压件靠近所述基板运动，以压合固定所述基板及待测板卡。
可选地，上述第二传动组件包括气压缸、液压缸中的至少一种。
可选地，上述测试连接装置还包括电源模块，所述电源模块与所述处理器、传感组件及第二传动组件连接。
可选地，上述传感组件包括压电传感器、重力传感器中的至少一种。
可选地，上述插针的数量与所述测试点的数量相同，且所述插针在所述基板上的相对位置与所述测试点在所述待测板卡上的相对位置相同。
本实用新型还提供一种测试系统，包括测试仪及上述的测试连接装置，所述测试仪与所述测试连接装置中的各插针连接，所述插针用于与待测板卡的测试点接触，以使待测板卡与所述测试仪电连接。
相对于现有技术而言，本实用新型提供的测试连接装置及测试系统至少具有以下有益效果：测试连接装置包括基板、插针及固定部，基板上设置有呈阵列排布的插孔，所述基板的至少部分插孔可拆卸设置有所述插针，所述插针用于与待测板卡的测试点接触，以接收测试点输出的数据信号。固定部用于压合卡固基板和待测板卡，以使插针与测试点接触，进而对待测板卡进行测试。本方案通过插针直接与测试点接触，基板用于固定并隔离插针，测试人员可基于待测板卡的测试点设置插针，快组装成用于连接待测板卡的连接头，便于与同类型的待测板卡连接并进行测试，进而有助于提升测试进程，提高测试效率。
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本实用新型较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本实用新型较佳实施例提供的测试连接装置的一种结构示意图。
图2为本实用新型较佳实施例提供的测试连接装置与待测板卡相配合的结构示意图。
图3为本实用新型较佳实施例提供的基板与待测板卡相配合的结构示意图。
图4为本实用新型较佳实施例提供的测试连接装置中第一传动组件与第一挤压件相配合的结构示意图。
图5为本实用新型较佳实施例提供的测试连接装置的另一种结构示意图。
图6为本实用新型较佳实施例提供的测试系统的结构示意图。
图标：10-测试系统；100-测试连接装置；110-基板；111-插孔；120-插针；130-固定部；131-支撑件；132-第一传动组件；133-第一挤压件；134-支撑板；140-承载台；150-限位挡块；160-第二传动组件；161-传动部；162-第二挤压件；200-待测板卡；300-测试仪。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中”、“上”、“下”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
此外，术语“水平”、“竖直”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接。可以是机械连接，也可以是电性连接。可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在现有技术中，对于个人或企业定制的电子设备中的硬件电路板，在装配成电子设备产品之前，通常需要对硬件电路板进行检测。该硬件电路板也就是待测板卡。在连接待测板卡时，通常需要通过与该待测板卡相对应的连接器以使待测板卡与上位机(用于测试待测板卡的测试设备)连接。若待测板卡的型号不同，连接器通常也需要更换。对于定制的硬件电路板，根据功能需求的不同，其型号差异较大，通常无法匹配到与该硬件电路板相配的连接器。若要对大量的同类型的硬件电路板进行测试，需要单独设计与该硬件电路相配的连接器，而该连接器基于电路板制作，制造周期长，将延缓对硬件电路板的测试进程，增加测试成本。
因此，如何提供一种科学的测试方案，以加速测试进程，降低测试成本，是本领域技术人员的一大难题。鉴于上述问题，本申请实用新型人经过长期研究探索，提出以下实施例以解决上述问题。下面结合附图，对本实用新型实施例作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
请结合参照图1和图2，其中，图1为本实用新型较佳实施例提供的测试连接装置100的一种结构示意图，图2为本实用新型较佳实施例提供的测试连接装置100与待测板卡200相配合的结构示意图。本实用新型提供的测试连接装置100用于连接待测板卡200，该待测板卡200具有至少一个测试点。测试连接装置100通过与待测板卡200连接，以接收从测试点输出的数据信号，并作为该数据信号输出的通道。
在本实施例中，待测板卡200可以为上述的硬件电路板。即待测板卡200可为PCBA(Printed Circuit Board Assembly，装配印刷电路板)。可理解地，PCB空板经过SMT(Surface Mount Technology，表面贴装技术)上件，再经过DIP(Dual In-line Package，双列直插式封装技术)插件得到的电子部件即为PCBA。该PCBA上设置有至少一个测试接口，用于与测试设备连接，以进行测试。
在本实施例中，测试点可以为待测板卡200上预先设置的测试孔，或者预先从裸露电路中线路上选取的一点。数据信号可以包括但不限于电流值、电压值、频率值等，这里不作具体限定。
在本实施例中，测试连接装置100可以包括基板110、插针120及固定部130。基板110设置有呈阵列排布的插孔111。其中，基板110的至少部分插孔111可拆卸设置有插针120，该插针120用于与所述待测板卡200的测试点接触。固定部130用于固定所述基板110和待测板卡200并使所述插针120与测试点接触，以接收所述测试点输出的数据信号。
可理解地，测试员可根据待测板卡200的测试点的个数及位置，在基板110的相应插孔111上安装插针120，使得每个测试点可与对应的插针120接触，进而实现数据信号的输出。也就是基板110与插针120组成的结构可作为用于连接待测板卡200和测试设备的连接器。基于上述方式，在对各类待测板卡200进行测试时，测试员无需单独设计制造连接器，通过组装基板110和插针120，便可得到与待测板卡200的测试点相匹配的连接器，该连接器便可以重复使用，以连接相同类型的待测板卡200，进而有助于加快测试进程，降低测试成本。
值得说明的是，若待测板卡200上的测试点间距与基板110插孔111间距无法匹配，可重新制作与测试点相匹配的基板110。
在本实施例中，基板110由绝缘材料形成。该绝缘材料可以为塑料、硅胶等，这里不作具体限定。与现有技术中单独设计连接器相比，本方案可通过塑料制作基板110，使得制作周期短、成本低。
在本实施例中，插针120为导电结构，插针120的一端用于与测试点接触，另一端可以用于与测试设备连接。而基板110可对插针120起到固定作用，并对各插针120进行绝缘隔离，避免插针120之间相互接触，导致测试结果错误或者电路短路而影响测试。
请参照图3，为本实用新型较佳实施例提供的基板110与待测板卡200相配合的结构示意图。可选地，插针120的数量与测试点的数量相同，且所述插针120在所述基板110上的相对位置与所述测试点在所述待测板卡200上的相对位置相同，以使得插针120与测试点一一对应，进而实现对待测板卡200的连接。
请再次参照图1，可选地，测试连接装置100还可以包括承载台140。该承载台140用于放置基板110或待测板卡200。固定部130可设置在该承载台140上，以对承载台140上的基板110及待测板卡200进行卡固，使得插针120与测试点充分接触。
请结合参照图1和图4，其中，图4为本实用新型较佳实施例提供的测试连接装置100中第一传动组件132与第一挤压件133相配合的结构示意图。可选地，固定部130可以包括支撑件131、第一传动组件132及第一挤压件133。其中，所述支撑件131设置在所述承载台140上。所述支撑件131远离所述承载台140的一端设置有支撑板134，用于放置第一传动组件132。所述第一传动组件132设置在所述支撑板134上，并与所述第一挤压件133传动连接，用于带动所述第一挤压件133运动以压合固定所述待测板卡200及基板110。
可选地，第一传动组件132与第一挤压件133可以为蜗杆结构，以实现对待测板卡200和基板110的压合固定。例如，第一传动组件132可以包括拉杆及固定设置在拉杆一端的齿轮(可作为蜗轮)。该齿轮转动设置在所述支撑板134上，而拉杆的另一端可以供测试员上下拉动，以使拉杆绕支撑板134转动。第一挤压件133的一侧设置有与所述齿轮相啮合的螺纹(可作为蜗杆)，另一侧靠近承载台140，用于压合待测板卡200和基板110。当测试员拉动拉杆绕支撑板134转动时，齿轮将伴随拉杆转动，在齿轮转动过程中，便会带动第一挤压件133上下运动。
具体地，若测试员上拉拉杆，第一挤压件133将靠近承载台140运动，以压合固定待测板卡200和基板110。若测试员下拉拉杆，第一挤压件133将远离承载台140运动，可解除对带侧板可和基板110的固定，便于测试员分开基板110和待测板卡200。
在本实施例中，在连接待测板卡200时，基板110可以放置在待测板卡200之上，也可以是待测板卡200放置在基板110之上，只要放置的位置可使插针120与测试点接触即可，这里不作具体限定。
请参照图5，为本实用新型较佳实施例提供的测试连接装置100的另一种结构示意图。可选地，承载台140上可设置限位挡块150，该限位挡块150用于限定基板110和/或待测板卡200的放置位置，有助于使插针120快速对准测试点，然后通过固定部130压合固定，便可对待测板卡200进行测试。
可选地，限位挡块150可以设置一个或多个，这里对限位挡块150的数量、形状及尺寸不作具体限定。
可选地，测试连接装置100还包括处理器及传感组件，固定部130可以包括支撑件131及第二传动组件160。其中，所述传感组件设置在承载台140上，用于检测承载台140上是否放置有基板110及待测板卡200；所述支撑件131的一端设置在所述承载台140上，另一端设置有所述第二传动组件160，所述第二传动组件160包括传动部161及第二挤压件162，所述传动部161与所述第二挤压件162连接。所述处理器与所述传感组件及第二传动组件160连接，用于在传感组件检测到所述承载台140上放置有所述待测板卡200时，生成控制信号，所述第二传动组件160接收所述控制信号，并根据所述控制信号驱使所述第二挤压件162靠近所述基板110运动，以压合固定承载台140上的基板110及待测板卡200。
可选地，处理器可以是处理器可以是中央处理器(Central Processing Unit，CPU)；还可以是数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件、单片机(比如STM32系列单片机)。第二传动组件160包括气压缸、液压缸中的至少一种，用于带动第二挤压件162运动。传感组件包括压电传感器、重力传感器中的至少一种，可通过采集承载台140上的承载重量，以判断承载台140上是否放置有基板110和待测板卡200。
例如，当采集的重力数据超过预设值时，便确定承载台140上放置有基板110和待测板卡200，处理器便生成控制信号，以使第二传动组件160(比如气压缸)推动第二挤压件162压合固定基板110及待测板卡200。处理器还可以在压合固定后，隔预设时长便控制第二传动组件160带动第二挤压件162远离承载台140运动，以解除对基板110和待测板卡200的固定。其中，预设值及预设时长可根据实际情况进行设置，这里不作具体限定。
可选地，测试连接装置100还包括电源模块，所述电源模块与所述处理器、传感组件及第二传动组件160连接。该电源模块可以为干电池、铅蓄电池、锂离子电池等。
基于上述设计，测试员可根据待测板卡200的类型对基板110和插针120进行组装，可快速得到与测试点相匹配的连接器。另外，固定部130可以手动或自动对基板110和待测板卡200进行压合固定，有助于加快测试流程，提高测试效率。
请参照图6，为本实用新型较佳实施例提供的测试系统10的结构示意图。本实用新型还提供一种测试系统10，包括测试仪300及上述实施例中的测试连接装置100。所述测试仪300与所述测试连接装置100中的各插针120连接，所述插针120用于与待测板卡200的测试点接触，以使待测板卡200与所述测试仪300电连接。该测试仪300可以为上述的测试设备，用于通过测试连接装置100与待测板卡200连接，以对待测板卡200进行测试。
综上所述，本实用新型提供一种测试连接装置及测试系统。测试连接装置包括基板、插针及固定部，基板上设置有呈阵列排布的插孔，所述基板的至少部分插孔可拆卸设置有所述插针，所述插针用于与待测板卡的测试点接触，以接收测试点输出的数据信号。固定部用于压合卡固基板和待测板卡，以使插针与测试点接触，进而对待测板卡进行测试。本方案通过插针直接与测试点接触，基板用于固定并隔离插针，测试人员可基于待测板卡的测试点设置插针，快组装成用于连接待测板卡的连接头，便于与同类型的待测板卡连接并进行测试，进而有助于提升测试进程，提高测试效率。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。