一种新型刹车盘检测支座的制作方法

文档序号:15042086发布日期:2018-07-27 21:42阅读:147来源:国知局

本实用新型涉及检具工装领域,尤其涉及一种新型刹车盘检测支座。



背景技术:

刹车盘是汽车零部件中重要的安全件之一,为给客户优良的制动性能,刹车盘在公差的要求上十分严格,而刹车盘生产过程中生产密度大,容易产生批量事故,所以对于刹车盘进行100%检验是非常必要的。现有的刹车盘检测支座仅采用芯轴活动插设在通孔中实现,同时其基准块为一个完成的圆盘状,在实际的使用过程中存在以下缺陷:芯轴的磨损损耗过高,进而不能确保刹车盘在旋转过程中的平顺性,若不及时更换芯轴就会导致测量结果不准甚至不能测量的情况,显然存在质量风险和使用成本问题,其次在基准块设计上采用圆盘状,不能避免刹车盘表面毛刺等污垢对测量结果所产生的测量误差。



技术实现要素:

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种新型刹车盘检测支座。

为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:

一种新型刹车盘检测支座,包括底座,所述底座的顶侧设有测量台和刹车盘,所述测量台通过螺栓与底座固定连接,所述测量台的顶端固定连接有环形分布的多个基准块,所述测量台设有通孔,所述通孔内过盈配合插设有芯轴,所述芯轴的外圈过盈配合套接有轴承,所述轴承的外圈过盈配合套接有定位套,所述刹车盘活动套接在定位套的外圈,所述刹车盘与基准块相抵。

优选地,所述定位套的外圈尺寸与刹车盘的中心孔尺寸相对应。

优选地,所述测量台的顶端固定连接有环形分布的多个基准块,所述基准块的材质为硬质合金材质。

优选地,所述底座的底侧设有凹槽。

优选地,所述底座上设有与测量台上通孔相对应的贯穿孔。

本实用新型,操作方便,原理简单,使用者使用该装置时,先根据刹车盘中心孔的大小定制定位套的尺寸,然后将定位套装配在轴承的外圈上,随后使用者将刹车盘套接在定位套的外圈上,并确保刹车盘的底侧与基准块相抵,这样做是为了能保证刹车盘的定位可靠,确保检测的数值精准,装夹完毕后,使用者便可将千分表定位,针对刹车盘的周向跳动进行检测。本实用新型结构新颖,将刹车盘套接在轴承上,避免了芯轴在通孔中旋转,进而降低了芯轴的磨损,确保了测量的精度,除此之外,多个环形分布的基准块设计能有效避免刹车盘表面的毛刺对检测结果产生影响。

附图说明

图1为现有刹车盘检测支座的结构示意图;

图2为本实用新型提出的一种新型刹车盘检测支座的结构示意图;

图3为本实用新型提出的一种新型刹车盘检测支座的轴承装配示意图。

图中:1底座、2测量台、3刹车盘、4基准块、5定位套、6芯轴、7轴承。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。

在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。

参照图1-3,一种新型刹车盘检测支座,包括底座1,用于固定支撑测量台2,底座1的顶侧设有测量台2和刹车盘3,测量台2通过螺栓与底座1固定连接,测量台2的顶端固定连接有环形分布的多个基准块4,用于支撑刹车盘3,同时将刹车盘3上的毛刺等污垢刮去,减小测量误差的影响因素,测量台2设有通孔,通孔内过盈配合插设有芯轴6,芯轴6的外圈过盈配合套接有轴承7,用于确保测量过程中的平稳旋转,轴承7的外圈过盈配合套接有定位套5,刹车盘3活动套接在定位套5的外圈,刹车盘3与基准块4相抵。

本实用新型中,定位套5的外圈尺寸与刹车盘3的中心孔尺寸相对应,为了刹车盘3的装夹更加稳定可靠,测量台2的顶端固定连接有环形分布的多个基准块4,为了有效避免刹车盘表面的毛刺对检测结果产生影响,基准块4的材质为硬质合金材质,为了提高零件的磨损损耗,降低本装置日常维护的成本,底座1的底侧设有凹槽,为了形成凸台的结构,进而让本装置在基准平面上平稳放置,底座1上设有与测量台2上通孔相对应的贯穿孔,为了便于将芯轴6从测量台2的通孔中拆下。

本实用新型,操作方便,原理简单,使用者使用该装置时,先根据刹车盘3中心孔的大小定制定位套5的尺寸,然后将定位套5装配在轴承7的外圈上,随后使用者将刹车盘3套接在定位套5的外圈上,并确保刹车盘3的底侧与基准块4相抵,这样做是为了能保证刹车盘3的定位可靠,确保检测的数值精准,装夹完毕后,使用者便可将千分表定位,针对刹车盘3的周向跳动进行检测。

以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

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