异物检查装置的制作方法

文档序号:16806104发布日期:2019-02-10 13:01阅读:141来源:国知局
异物检查装置的制作方法

本公开涉及异物检查装置。



背景技术:

专利文献1中记载了一种异物检查装置,其包括:输送部,对被检查物进行输送;以及金属检测部,利用磁场与金属的相互作用,将包含于正通过输送部输送的被检查物的金属作为异物而检测出。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:特开2015-28465号公报



技术实现要素:

发明要解决的技术问题

在上述那样的异物检查装置中,输送部通过了金属检测部中收容探测线圈的箱体,因此在实施输送部的维护(例如输送部的清扫)时,需要沿输送部输送被输送物的输送方向从金属检测部的箱体中将输送部作为一体地拉出。但是,大多数情况下输送方向上的异物检查装置的两侧的空间有限,因此难以容易地实施输送部的维护。

因此,本公开的目的在于,提供能够容易地实施输送部的维护的异物检查装置。

用于解决技术问题的方案

本公开的一方面涉及的异物检查装置包括:输送部,输送被检查物;以及金属检测部,利用磁场与金属的相互作用,将包含于正通过输送部输送的被检查物的金属作为异物而检测出,输送部具有:第一输送辊,配置于输送部输送被检查物的输送区域的上游端;第二输送辊,配置于输送区域的下游端;环形带,架设于第一输送辊和第二输送辊;以及支承板,在输送区域中支承环形带,支承板包括多个支承部分,多个支承部分沿输送部输送被检查物的输送方向并排设置且相互分离。

在本公开的一方面涉及的异物检查装置中,支承环形带的支承板分离为沿输送方向并排设置的多个支承部分。因此,在实施输送部的维护时,无需沿输送方向将输送部作为一体地从金属检测部的箱体中抽出。由此,根据本公开的一方面涉及的异物检查装置,即使在输送方向上的异物检查装置的两侧的空间有限的情况下,也能够容易地实施输送部的维护。

本公开的一方面涉及的异物检查装置也可以是,还包括:x射线检查部,利用x射线的透过性,检测包含于正通过输送部输送的被检查物的异物;以及壳体,将输送部的至少一部分、x射线检查部以及金属检测部收容于内部,壳体具有通过输送部送入被检查物的送入口和通过输送部送出被检查物的送出口。在异物检查装置中设有x射线检查部的情况下,具有附着于环形带的表面的污垢等导致x射线检查的精度降低的趋势,因此实施环形带的表面的清扫等输送部的维护的频率容易变高。另一方面,在异物检查装置中设有x射线检查部的情况下,为了抑制x射线向外部泄漏而需要壳体,因此容易变得难以容易地实施输送部的维护。但是,在本公开的一方面涉及的异物检查装置中,在实施输送部的维护时,无需沿着输送方向将输送部作为一体地从壳体的送入口或者送出口抽出。因此,本公开的一方面所涉及的构成在异物检查装置设有x射线检查部及壳体的情况下特别有效。

在本公开的一方面涉及的异物检查装置中,也可以是,在多个支承部分中的任一支承部分上形成有供x射线检查部的x射线通过的开口。由此,能够抑制支承板带来的x射线的衰减而高精度地实施x射线检查。

在本公开的一方面涉及的异物检查装置中,也可以是,在彼此相邻的支承部分之间形成有供x射线检查部的x射线通过的间隙。由此,能够维持各支承部分的强度,并能抑制支承板带来的x射线的衰减而高精度地实施x射线检查。

在本公开的一方面涉及的异物检查装置中,也可以是,金属检测部具有箱体,探测线圈配置于箱体的内部、且输送部通过箱体的内部,多个支承部分在箱体的外侧相互分离。由此,与多个支承部分在该箱体的内侧相互分离的情况相比,能够更容易地实施输送部的维护。

在本公开的一方面涉及的异物检查装置中,也可以是,输送部还具有:第一支承框架,第一输送辊和多个支承部分中的配置于输送区域的最上游侧的支承部分安装于第一支承框架;以及第二支承框架,第二输送辊和多个支承部分中的配置于输送区域的最下游侧的支承部分安装于第二支承框架。由此,能够将第一输送辊、最上游侧的支承部分及第一支承框架的组和第二输送辊、最下游侧的支承部分及第二支承框架的组分别作为单元来对待,因此能够更容易地实施输送部的维护。

在本公开的一方面涉及的异物检查装置中,也可以是,支承板包括沿输送方向并排设置且相互分离的两个或三个支承部分。由此,能够兼顾装置构成的复杂化的抑制以及输送部的维护的容易化。

在本公开的一方面涉及的异物检查装置中,也可以是,在彼此相邻的支承部分中的一支承部分上设有向彼此相邻的支承部分中的另一支承部分一侧突出的至少一个第一配合部,在另一支承部分上设有向一支承部分一侧突出的多个第二配合部,一支承部分和另一支承部分以至少一个第一配合部位于彼此相邻的第二配合部之间的状态相互配合。由此,能够稳定地支承环形带。另外,在设有x射线检查部的情况下,也能够可靠地防止x射线的泄漏。进而,在维护时能够将一支承部分与另一支承部分容易地分离。

发明效果

根据本公开,可提供能够容易地实施输送部的维护的异物检查装置。

附图说明

图1是实施方式涉及的异物检查装置的主视图。

图2是表示图1的异物检查装置的内部构成以及控制系统的概念图。

图3是图2的x射线检查部以及金属检测部的主要构成的主视图。

图4是图2的x射线检查部以及金属检测部的主要构成的立体图。

图5是图2的x射线检查部、金属检测部以及输送部的主要构成的主视图。

图6是图2的x射线检查部、金属检测部以及输送部的主要构成的主视图。

图7是变形例的支承板的侧视图。

图8是图7的支承板的平面图。

图9是第一支承部分以及第二支承部分相互分离的状态下的图7的支承板的侧视图。

图10是第一支承部分以及第二支承部分相互分离的状态下的图7的支承板的平面图。

具体实施方式

以下,参照附图,对本公开的实施方式进行说明。需要注意的是,在以下的说明中,对相同或者相当的构成部分标注相同的附图标记,并省略重复的说明。

图1所示的异物检查装置1是检测包含于被检查物的异物的装置。被检查物例如是食品。异物检查装置1在其内部一边输送被检查物,一边进行x射线检查以及金属检测,检查被检查物中是否包含异物。x射线检查是利用x射线的透过性来检测包含于被检查物的异物的方法,通过x射线检查部2(参照图2)来实现。在x射线检查中,能够检测与被检查物具有不同的x射线透过性的异物。金属检测是利用磁场与金属的相互作用将包含于被检查物的金属作为异物而检测出的方法,通过金属检测部3(参照图2)来实现。在金属检测中,能够检测出金属作为异物。

异物检查装置1具有在其内部形成有空间的壳体4。壳体4将x射线检查部2以及金属检测部3(参照图2)收容于内部。壳体4屏蔽由x射线检查部2产生的x射线,抑制x射线向外部泄漏。壳体4例如由不锈钢等形成。

壳体4例如呈长方体箱状。在壳体4的一侧面形成有与壳体4的内部连通的开口部4a。在壳体4的另一侧面形成有与壳体4的内部连通的开口部4b。在异物检查装置1中,被检查物从开口部4a被送入壳体4的内部,在壳体4的内部进行检查,并从开口部4b向壳体4的外部送出。换句话说,开口部4a是被检查物的送入口,开口部4b是被检查物的送出口。

在壳体4的前表面设有开闭壳体4的上部门40以及下部门41。上部门40以及下部门41例如是铰链门结构。通过开放上部门40或者下部门41,后述的x射线检查部2以及金属检测部3的至少一部分露出到外部。上部门40以及下部门41例如由不锈钢等形成。

在上部门40的前表面设有显示器5以及操作开关6。显示器5为兼具显示功能与输入功能的显示装置,例如是触摸面板。显示器5显示x射线检查以及金属检测的结果等,并且显示用于设定与金属检测以及x射线检查相关的各种参数的操作画面。操作开关6是x射线检查部2以及金属检测部3的电源开关等。

壳体4由支承腿7支承。在壳体4的上表面设有通知部8以及冷却器9。通知部8通知异物的混入以及设备的工作状态。通知部8具有与x射线检查部2对应的第一通知器81以及与金属检测部3对应的第二通知器82。冷却器9向壳体4的内部输送冷气,调节配置于壳体4的内部的设备的温度。

如图2所示,壳体4的内部被划分成配置后述的x射线发生器21的一部分和各种控制基板等的基板室t1、以及被送入被检查物s而进行检查的检查室t2。基板室t1位于检查室t的上侧,由冷却器9调节温度。

在检查室t2中配置有输送被检查物s的输送部10。输送部10是辊式的带式输送机,以一端部位于开口部4a且另一端部位于开口部4b的状态在壳体4的内部沿水平方向延伸。换句话说,壳体4将输送部10中的除一端部以及另一端部之外的部分收容于内部。输送部10经由开口部4a将被检查物s送入壳体4的内部,并经由开口部4b将被检查物s向壳体4的外部送出。

需要注意的是,为了使被检查物s的送入以及送出自动化,在输送部10的一侧配置有送入用输送机101,在输送部10的另一侧配置有送出用输送机102。有时在送出用输送机102设置被检查物s的分配机构。

在开口部4a配置有x射线屏蔽帘42。在开口部4b配置有x射线屏蔽帘43。各x射线屏蔽帘42、43的上端为固定于壳体4的固定端,各x射线屏蔽帘42、43的下端是自由端。各x射线屏蔽帘42、43屏蔽x射线检查部2产生的x射线,抑制x射线向外部泄漏。各x射线屏蔽帘42、43由例如含有金属材料(钨等)的可挠性材料等形成。

在检查室t2配置有形成有用于使被检查物s通过的贯通孔31a的筒状的箱体31。输送部10通过贯通孔31a而贯通箱体31。通过输送部10而使被检查物s通过箱体31的贯通孔31a,在箱体31中依次执行x射线检查以及金属检测。箱体31例如由不锈钢等形成。

x射线检查部2具有x射线检查控制部20、x射线发生器21以及x射线检测器22。x射线发生器21配置于输送部10以及箱体31的上侧。x射线发生器21对由输送部10输送着的被检查物s照射x射线。x射线发生器21中的产生x射线的x射线源等配置于基板室t1。x射线发生器21中的照射x射线的机构配置于检查室t2。

x射线检测器22配置于输送部10以及箱体31的下侧,与x射线发生器21相对。x射线检测器22检测由x射线发生器21产生并透过了被检查物s的x射线。作为x射线检测器22,使用例如通过多个x射线检测传感器沿前后方向(与输送部10输送被检查物s的方向正交的水平方向)并排设置而构成的线传感器。x射线检测器22为了减少x射线泄漏而被收容于基板箱体23。在基板箱体23形成有使入射到x射线检测器22的x射线通过的狭缝23a(参照图4)。

x射线检查控制部20具有与外部进行信号的输入输出等的输入输出接口i/o、存储有用于进行处理的程序和信息等的rom(readonlymemory,只读存储器)、临时存储数据的ram(randomaccessmemory,随机存取存储器)、hdd(harddiskdrive,硬盘驱动器)等存储介质、cpu(centralprocessingunit,中央处理单元)、以及通信电路等。x射线检查控制部20基于cpu输出的信号,将输入数据存储于ram,并将存储在rom的程序加载到ram,通过执行加载到ram的程序而实现后述的功能。

x射线检查控制部20配置于基板室t1,与x射线发生器21以及x射线检测器22电连接。x射线检查控制部20与显示器5电连接,经由显示器5的操作画面从作业员接收操作信息。x射线检查控制部20基于该操作信息设定x射线发生器21以及x射线检测器22的动作配置,并控制x射线发生器21以及x射线检测器22的动作。x射线检查控制部20在使用配置为比x射线发生器21以及x射线检测器22更靠上游侧的激光传感器24检测出被检查物s的情况下,开始该被检查物s的检查。x射线检查控制部20控制x射线发生器21,向由输送部10输送着的被检查物s照射x射线。x射线检测器22计测透过被检查物s的x射线的x射线透过量,并将计测得到的x射线透过量向x射线检查控制部20输出。

x射线检查控制部20生成将按时间序列获取到的x射线透过量反映于像素值而得的x射线透过图像。然后,x射线检查控制部20通过图像处理技术解析x射线透过图像来检测异物。例如,x射线检查控制部20基于x射线透过图像的像素值,判定是否存在与被检查物s的基准透过率之差达到规定值以上的图像区域。此外,x射线检查控制部20在存在与被检查物s的基准透过率之差达到规定值以上的图像区域的情况下,判定为检测出异物。

x射线检查控制部20响应来自作业员的请求,使x射线检查的结果数据显示于显示器5、或使x射线检查的结果数据存储于存储部。另外,x射线检查控制部20在x射线发生器21以及x射线检测器22在正常工作的情况下,使用第一通知器81向作业员通知x射线检查相关的设备在工作中的内容。进而,x射线检查控制部20在判定为检测出异物的情况下,使用第一通知器81向作业员通知检测出异物的内容。

如图3以及图4所示,箱体31具有主体部32、第一罩部33以及第二罩部34。第一罩部33相对于主体部32设于开口部4a侧(送入口侧)。第二罩部34相对于主体部32设于开口部4b侧(送出口侧)。箱体31的贯通孔31a由主体部32、第一罩部33以及第二罩部34各自的内壁划分而成。需要注意的是,箱体31为了使耐振特性提高而由防振台39(防振台39a,39b)支承。

在第一罩部33的上表面以位于x射线发生器21的下侧的方式形成有使x射线通过的x射线通过狭缝33a。在第一罩部33的下表面以与x射线通过狭缝33a相对的方式形成有使x射线通过的x射线通过狭缝33b。在x射线通过狭缝33b的下侧配置有x射线检测器22。通过这样构成,x射线发生器21所产生的x射线通过各x射线通过狭缝33a、33b而照射到在箱体31的内部输送的被检查物s上。

需要注意的是,在第一罩部33的侧面,在比各x射线通过狭缝33a、33b更靠下游侧(主体部32侧)处形成有狭缝33c。在狭缝33c配置有激光传感器38。激光传感器38经由狭缝33c向输送部10上的被检查物s照射激光。

如图2所示,金属检测部3具有金属检测控制部30、发送线圈35以及接收线圈36、37。发送线圈35以及接收线圈36、37是由金属等导电性材料形成的探测线圈。发送线圈35以及接收线圈36、37以包围输送部10中的通过贯通孔31a的部分的方式配置于箱体31的内部(更具体而言,如图3以及图4所示,箱体31的主体部32的内部)。换句话说,金属检测部3具有发送线圈35及接收线圈36、37配置于其内部且输送部10通过其内部的箱体31。由此,通过输送部10,使被检查物s通过发送线圈35以及接收线圈36、37的内侧。

如图3以及图4所示,发送线圈35配置于接收线圈36、37之间。接收线圈36、37相互差动连接,并且相对于发送线圈35对称地配置。两个接收线圈36、37具有同一交链磁通。发送线圈35构成为能够通电,并产生磁通。在各接收线圈36、37中,通过由发送线圈35产生的磁场的电磁感应而激发电压。需要注意的是,第一罩部33以及第二罩部34抑制发送线圈35所产生的磁场向外部泄漏以及外来磁场进入。

如图2所示,金属检测控制部30具有与外部进行信号的输入输出等的输入输出接口i/o、存储有用于进行处理的程序和信息等的rom、临时存储数据的ram、hdd等存储介质、cpu以及通信电路等。金属检测控制部30基于cpu输出的信号,将输入数据存储于ram,并将存储在rom中的程序加载到ram,通过执行加载到ram的程序而实现后述的功能。

金属检测控制部30配置于基板室t1,与x射线检查控制部20电连接。金属检测控制部30通过经由x射线检查控制部20而电连接的显示器5的操作画面,从作业员接收操作信息。金属检测控制部30基于该操作信息设定发送线圈35以及接收线圈36、37的动作配置。金属检测控制部30在使用配置为比发送线圈35以及接收线圈36、37更靠上游侧的激光传感器38检测出被检查物s的情况下,开始该被检查物s的金属检测。

金属检测控制部30向发送线圈35供给交变励磁电流,使产生磁通。由发送线圈35产生的磁通贯穿两个接收线圈36、37,通过电磁感应在各接收线圈36、37激发电压。金属检测控制部30获取接收线圈36、37的差动连接的输出电压而进行金属检测的判定。例如,金属检测控制部30在差动连接的输出电压为0时判定为未检测出金属异物,在差动连接的输出电压不是0时判定为检测出金属异物。

金属检测控制部30响应来自作业员的请求,使金属检测的结果数据显示于显示器5、或使金属检测的结果数据存储于存储部。另外,金属检测控制部30在发送线圈35以及接收线圈36、37在正常工作的情况下,使用第二通知器82向作业员通知金属检测相关的设备在工作中的内容。进而,金属检测控制部30在判定为检测出异物的情况下,使用第二通知器82向作业员通知检测出异物的内容。

上述x射线检查部2以及金属检测部3构成为可分别独立地工作。换句话说,异物检查装置1不仅可以进行x射线检查以及金属检测两者,也可以执行x射线检查以及金属检测中任一方。如上述那样,在本实施方式中,x射线检查部2进行显示器5的显示控制,因此在x射线检查部2停止的情况下,不在显示器5显示金属检测部3的操作画面。为此,在壳体4的内部配置有与金属检测部3连接的辅助显示器(未图示)。金属检测部3在x射线检查部2停止的情况下,经由辅助显示器从作业员接收操作信息,并将结果数据等显示于辅助显示器。

关于输送部10的构成,更详细地进行说明。如图5所示,输送部10具有第一支承框架11、第二支承框架12、第一输送辊13、第二输送辊14、环形带15、支承板16。支承板16包括第一支承部分(支承部分)16a以及第二支承部分(支承部分)16b。第一支承部分16a以及第二支承部分16b沿输送部10输送被检查物s的输送方向d并排设置且相互分离。

在第一支承框架11安装有第一输送辊13以及第一支承部分16a。更具体而言,第一输送辊13能够旋转地支承于第一支承框架11。第一支承部分16a通过螺纹固定等固定于第一支承框架11。第一支承框架11以安装有第一输送辊13以及第一支承部分16a的状态安装于设于壳体4的支承体45。更具体而言,第一支承框架11以载置在设于支承体45的绝缘部件45a上的状态,利用设于支承体45的紧固件45b而固定。紧固件45b被称作所谓的扣锁(drawlatch),与设于第一支承部分16a的爪部17a扣合。需要说明的是,紧固件45b和爪部17a的组设于前后方向(与输送部10输送被检查物s的输送方向正交的水平方向)上的第一支承部分16a的两侧。

在第二支承框架12安装有第二输送辊14以及第二支承部分16b。更具体而言,第二输送辊14能够旋转地支承于第二支承框架12。第二支承部分16b通过螺纹固定等固定于第二支承框架12。第二支承框架12以安装有第二输送辊14以及第二支承部分16b的状态安装于设于壳体4的支承体46。更具体而言,第二支承框架12以载置在设于支承体46的绝缘部件46a上的状态,利用设于支承体46的紧固件46b而固定。紧固件46b被称作所谓的扣锁,与设于第二支承部分16b的爪部17b扣合。需要说明的是,紧固件46b和爪部17b的组设于前后方向上的第二支承部分16b的两侧。

环形带15架设于第一输送辊13以及第二输送辊14。在输送部10中,环形带15中的从第一输送辊13至第二输送辊14的上侧的部分15a的上表面是输送部10输送被检查物s的输送区域r。换句话说,第一输送辊13配置于输送区域r的上游端,第二输送辊14配置于输送区域r的下游端。

在支承体45设有对环形带15中的从第二输送辊14至第一输送辊13的下侧的部分15b进行按压的按压辊45c。同样,在支承体46设有对环形带15中的从第二输送辊14至第一输送辊13的下侧的部分15b进行按压的按压辊46c。利用这些按压辊45c、46c适当地调整环形带15的张力。需要说明的是,在第一支承框架11设有通过向外侧按压第一输送辊13的旋转轴的两端部而对环形带15的张力进行微调所用的张力调整螺栓机构18。

在支承体46设有连接于驱动马达(未图示)的正时带轮47。正时带轮47经由正时带48与设于第二输送辊14的正时带轮19连接。由此,输送部10被驱动。需要说明的是,正时带轮19、47以及正时带48配置于下部门41侧。由此,随着下部门41开放,使正时带轮19、47以及正时带48露出于外部。

支承板16在输送区域r中支承环形带15。更具体而言,支承板16从下侧支承环形带15中的从第一输送辊13至第二输送辊14的上侧的部分15a。在支承板16中,第一支承部分16a以及第二支承部分16b在金属检测部3所具有的箱体31的外侧相互分离。在本实施方式中,第一支承部分16a以及第二支承部分16b在输送方向d上的箱体31的上游侧的位置相互分离。

第二支承部分16b穿过箱体31的贯通孔31a。在第二支承部分16b中的通过贯通孔31a的部分上形成有供x射线检查部2的x射线通过的狭缝(开口)16c。狭缝16c位于在箱体31的第一罩部33上形成的x射线通过狭缝33a、33b之间。

如以上那样构成的输送部10为了实施其维护,按照以下的顺序从异物检查装置1上卸下。

首先,使壳体4的下部门41开放,解除紧固件45b相对于爪部17a的扣合。然后,如图6所示,使安装有第一输送辊13以及第一支承部分16a的第一支承框架11向上侧且内侧(箱体31侧)移动。由此,环形带15变得松弛,从而能够将安装有第一输送辊13以及第一支承部分16a的第一支承框架11向跟前抽出。

接着,解除紧固件46b相对于爪部17b的扣合。然后,使安装有第二输送辊14以及第二支承部分16b的第二支承框架12向内侧(箱体31侧)移动。由此,正时带48变得松弛,从而能够从正时带轮19、47卸下正时带48。此时,正时带轮19、47以及正时带48配置于下部门41侧,因此能够容易地卸下正时带48。

接着,使安装有第二输送辊14以及第二支承部分16b的第二支承框架12向上侧且外侧(与箱体31相反的一侧)移动,从箱体31抽出第二支承部分16b。由此,能够将安装有第二输送辊14以及第二支承部分16b的第二支承框架12向跟前抽出。

通过以上的顺序,能够从异物检查装置1卸下输送部10。需要注意的是,在实施了输送部10的维护之后,能够以与以上的顺序相反的顺序将输送部10安装于异物检查装置1。

如以上说明的那样,在异物检查装置1中,支承环形带15的支承板16被分离成沿输送方向d并排设置的第一支承部分16a以及第二支承部分16b。因此,在实施输送部10的维护时,无需沿着输送方向d将输送部10作为一体地从金属检测部3的箱体31抽出。由此,根据异物检查装置1,即使在输送方向d上的异物检查装置1的两侧的空间受限的情况下,也能够容易地实施输送部10的维护。需要说明的是,如上所述,在输送部10的两侧配置送入用输送机101以及送出用输送机102的情况较多,一般来说,多数情况下,输送方向d上的异物检查装置1的两侧的空间有限。因此,异物检查装置1的输送部10的构成极其有效。

另外,在异物检查装置1中除了设有输送部10以及金属检测部3之外,还设有x射线检查部2以及壳体4。在异物检查装置1中设有x射线检查部2的情况下,具有附着于环形带15的表面的污垢等导致x射线检查的精度降低的趋势,因此实施环形带15的表面的清扫等输送部10的维护的频率容易变高。另一方面,在异物检查装置1中设有x射线检查部2的情况下,为了抑制x射线向外部泄漏而需要壳体4,因此容易变得难以容易地实施输送部10的维护。但是,在异物检查装置1中,在实施输送部10的维护时,无需沿着输送方向d将输送部10作为一体地从壳体4的开口部4a或者开口部4b抽出。因此,异物检查装置1的输送部10的构成在除了设置有输送部10和金属检测部3之外还设有x射线检查部2和壳体4的异物检查装置1中特别有效。

另外,在异物检查装置1中,在第二支承部分16b上形成有供x射线检查部2的x射线通过的狭缝16c。由此,能够抑制支承板16带来的x射线的衰减而高精度地实施x射线检查。

另外,在异物检查装置1中,第一支承部分16a以及第二支承部分16b在金属检测部3所具有的箱体31的外侧相互分离。由此,与第一支承部分16a以及第二支承部分16b在箱体31的内侧相互分离的情况相比,能够更容易地实施输送部10的维护。

另外,在异物检查装置1中,在第一支承框架11安装有第一输送辊13以及第一支承部分(多个支承部分中的配置于输送区域的最上游侧的支承部分)16a,在第二支承框架12安装有第二输送辊14以及第二支承部分(多个支承部分中的配置于输送区域的最下游侧的支承部分)16b。由此,能够将第一输送辊13、第一支承部分16a及第一支承框架11的组和第二输送辊14、第二支承部分16b及第二支承框架12的组分别作为单元来对待,因此能够更容易地实施输送部10的维护。

以上,说明了本公开的一实施方式,但本公开的一方式所涉及的异物检查装置并不限定于上述实施方式。

例如,第一支承部分16a以及第二支承部分16b也可以在金属检测部3所具有的箱体31的内侧相互分离。在该情况下,也无需沿输送方向d将输送部10作为一体地从箱体31抽出,因此与支承板16未分离的情况相比,能够容易地实施输送部10的维护。

另外,像x射线检查部2的x射线所通过的狭缝16c那样的开口也可以根据x射线检查部2的配置位置、第一支承部分16a与第二支承部分16b的分离位置等而形成于第一支承部分16a或者第二支承部分16b任一上。另外,也可以根据x射线检查部2的配置位置、第一支承部分16a与第二支承部分16b的分离位置等而在第一支承部分16a与第二支承部分16b之间形成有供x射线检查部的x射线通过的间隙。在该情况下,能够维持第一支承部分16a以及第二支承部分16b各自的强度,并且能够抑制支承板16带来的x射线的衰减而高精度地实施x射线检查。

另外,支承板16也可以包括沿输送方向d并排设置且相互分离的3个以上的支承部分。在支承板16分离成沿输送方向d并排设置的2个或3个支承部分的情况下,像x射线检查部2的x射线所通过的狭缝16c那样的开口也是根据x射线检查部2的配置位置、多个支承部分的分离位置等而形成于多个支承部分中的任一支承部分上。或者,根据x射线检查部2的配置位置、多个支承部分的分离位置等而在彼此相邻的支承部分之间形成供x射线检查部的x射线通过的间隙。需要说明的是,在支承板16分离成沿输送方向d并排设置的2个或3个支承部分的情况下,能够兼顾装置构成的复杂化的抑制以及输送部的维护的容易化。

另外,输送部10也可以其全部收容于壳体4的内部。另外,异物检查装置1也可以不包括x射线检查部2和壳体4,而是包括输送部10和金属检测部3。

另外,也可以如图7以及图8所示那样构成支承板16。在图7以及图8所示的支承板16中,第一支承部分16a具有第一主体板161以及多个第一配合部162,第二支承部分16b具有第二主体板163以及多个第二配合部164。

第一主体板161的上表面161a以及第二主体板163的上表面163a位于同一平面上,构成了环形带15的支承面。第一主体板161的端面161b和第二主体板163的端面163b相互接触。

多个第一配合部162安装于第一主体板161的下侧,并向第二支承部分16b侧突出。各第一配合部162形成为矩形板状,并在前后方向(与输送部10输送被检查物s的输送方向正交的水平方向)上相互分离。

多个第二配合部164安装于第二主体板163的下侧,并向第一支承部分16a侧突出。各第二配合部164形成为矩形板状,并在前后方向上相互分离。

各第一配合部162中的突出到第二支承部分16b侧的部分位于第二主体板163的下侧。各第二配合部164中的突出到第一支承部分16a侧的部分位于第一主体板161的下侧。多个第一配合部162以及多个第二配合部164配置成在第一主体板161的端面161b和第二主体板163的端面163b相互接触的状态下第一配合部162与第二配合部164交替排列。

这样,第一支承部分16a和第二支承部分16b以至少一个第一配合部162位于彼此相邻的第二配合部164之间、且至少一个第二配合部164位于彼此相邻的第一配合部162之间的状态相互配合。需要注意的是,也可以是,仅设置一个第一配合部162,且该一个第一配合部162位于彼此相邻的第二配合部164之间。或者,也可以是,仅设置一个第二配合部164,且该一个第二配合部164位于彼此相邻的第一配合部162之间。

根据如以上那样构成的支承板16,能够稳定地支承环形带15。另外,也能够可靠地防止x射线的泄漏。进而,在维护时,如图9以及图10所示,通过使第一支承部分16a以向上侧折弯的方式移动,能够将第一支承部分16a与第二支承部分16b容易地分离。

附图标记说明

1…异物检查装置,2…x射线检查部,3…金属检测部,4…壳体,4a…开口部(送入口),4b…开口部(送出口),10…输送部,11…第一支承框架,12…第二支承框架,13…第一输送辊,14…第二输送辊,15…环形带,16…支承板,16a…第一支承部分(支承部分),16b…第二支承部分(支承部分),16c…狭缝(开口),31…箱体,35…发送线圈(探测线圈),36、37…接收线圈(探测线圈),162…第一配合部,164…第二配合部,d…输送方向,r…输送区域,s…被检查物。

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