技术特征：
技术总结
本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种基于散斑位置标定的反射式条纹面形测量方法与装置。该方法将被测表面散射光斑绝对位置标定和多相机多视场拼接式测量法与反射式条纹三维面形测量方法相结合，利用细光束与被测工件表面相互作用产生的散射光斑对被测表面的绝对高度进行标定，解决了由于无法非接触测得被测工件表面点的绝对高度信息而导致测量精度难以提高的难题；利用多个相机对被测件的不同部位进行三维面形测量，避免弯曲表面自身遮挡导致单相机测量数据不完整。本发明具有测量精度高、测量速度快、抗环境干扰能力强等优点，可用于对弯曲度大的高反射曲面进行快速三维面形测量。
技术研发人员：杨佳苗;龚雷
受保护的技术使用者：杨佳苗
技术研发日：2018.01.17
技术公布日：2018.04.20