一种测量绝缘子截面轮廓形状及爬电距离的系统和方法与流程

文档序号:15075414发布日期:2018-08-01 01:22阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明涉及一种测量绝缘子截面轮廓形状及爬电距离的系统和方法,通过激光测距仪多位置多角度对绝缘子轮廓进行测量,获得绝缘子截面轮廓形状并计算出爬电距离。该系统结构部分由激光测量模块和绝缘子安装模块两部分组成,激光测量模块和绝缘子安装模块之间距离固定,激光测距仪和绝缘子可以进行独立旋转,同时激光测距仪可以左右移动,从而保证绝缘子截面轮廓能够被完整测量。测量完成后计算得到测点极坐标,通过坐标变换和插值得到在直角坐标系下截面轮廓线的离散点坐标从而计算爬电距离。本发明实现了对绝缘子爬电距离低成本的准确测量,弥补了以往方法成本高,或不能完整测量截面轮廓的缺陷。

技术研发人员:刘柯健;郑华东;肖波;黄静;张之江
受保护的技术使用者:上海大学
技术研发日:2018.01.23
技术公布日:2018.07.31
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