基于比例式的芯片电流测量方法与流程

技术特征：

技术总结
本发明实施例公开了一种基于比例式的芯片电流测量方法，该方法将被测量芯片中的总电流平均分配到n根金属导电线上，通过测量单根金属导电线上的电流值，再乘以比例因子n从而得到总电流值。本发明实施例能够测量芯片工作中的大电流，解决了被测量芯片中的待测电流超过电流钳测量量程而无法进行测量的问题，并且能够保证芯片电流测量的精度。

技术研发人员：叶永杭;陈鹏飞;周笛
受保护的技术使用者：算丰科技（北京）有限公司
技术研发日：2018.03.13
技术公布日：2018.08.17