技术总结
提供位置测定方法以及部件，该位置测定方法是在测定装置的图像中，通过使用部件的位置基准部的位置，以较高的精度求出透镜等的位置，该部件适用于上述位置测定方法。在具有使用同轴落射照明的摄像光学系统的测定装置的图像中，对平面(101)上的位置基准部的位置和任意的点的位置进行观察，并对该任意的点的位置进行确定。在该位置基准部中，至少根部的部分是柱状，并且该位置基准部具有包围柱的根部的倾斜面(103)。该位置测定方法包括如下步骤：在该测定装置的图像中，根据包围该根部的倾斜面与该平面的边界的位置，确定该根部的外周的位置；根据该根部的外周的位置确定该位置基准部的位置；以及以该位置基准部的位置为基准确定该任意的点的位置。
技术研发人员：藤冈孝弘;堀切宏则;池田贤元
受保护的技术使用者：纳卢克斯株式会社
技术研发日：2018.05.08
技术公布日：2018.11.27