技术特征：
技术总结
本发明涉及一种改进型压电陶瓷片应力测量方法和测量装置，所述测量方法包括：调节施加在压电陶瓷片上的电压，并获取施加电压条件下的第一接触压力和第一接触位移，以及未施加电压条件下的第二接触压力和第二接触位移；判断所述第一接触位移与所述第二接触位移的大小，并根据判断结果计算所述压电陶瓷片的应力值。所述测量装置包括电源、支撑杆、两个位移台、两个力传感器、力传感器显示仪器、两个位移传感器以及位移传感器显示仪器。本发明的测量方法和装置能够测量不同加压或降压条件下压电陶瓷片两端的压力从而获知压电陶瓷片的性能特点，且能够克服系统变形造成的测量误差，便于可靠地筛选性能良好的压电陶瓷片。
技术研发人员：刘宇刚;孙艳玲;郭佳佳;于文东;张华伟;雷建军
受保护的技术使用者：西安电子科技大学;中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所
技术研发日：2018.07.05
技术公布日：2019.01.29