技术特征：
技术总结
本发明公开了一种激光雷达光电探测系统探测性能测试方法及装置。本方法和装置利用卤钨灯和光栅单色仪，输出波长和强度精确可调的测试光信号，从波长和强度两方面，模拟激光雷达实际接收的回波信号；利用光栅单色仪输出的测试光信号，以及硅和铟镓砷两种标准探测器组合，同时测量激光雷达光电探测系统的光学透过率、输入光强‑输出电压响应曲线，以及线性响应范围等性能指标。相关测试结果可以用来辅助激光雷达光电探测系统的参数设计，提升激光雷达光电探测系统的装校质量，以及保障激光雷达使用过程中测量数据的质量。
技术研发人员：伯广宇
受保护的技术使用者：中科院合肥技术创新工程院
技术研发日：2018.07.17
技术公布日：2018.12.07