技术特征：
技术总结
本申请适用于光学和电子技术领域，提供了一种检测单元，用于检测一光学装置内设置的光学元件是否破损。所述光学装置包括光源及对应的光学元件。所述检测单元包括检测发光体、感测器及处理器。所述检测发光体向被测光学元件发出检测光束。所述感测器感测经被测光学元件反射回来的检测光束的光学特性。所述处理器与感测器相连接并根据感测器所感测到的检测光束的光学特性来判断被测光学元件是否存在瑕疵。
技术研发人员：王小明
受保护的技术使用者：深圳阜时科技有限公司
技术研发日：2018.09.13
技术公布日：2019.01.25