一种DTS1000测试转接盒及其测试方法与流程

本发明涉及一种安装在dts1000测试系统上的测试转接盒及其测试方法。

背景技术：

随着电子产品行业的快速发展，对电子加工企业也提出了更高的要求，对电子加工企业来说，是机遇也是重大的挑战，因此电子加工企业对其生产的电子元器件的质量把关十分严格。目前，市场上出现的测试仪种类居多，而针对半导体器件的测试大多采用dts1000测试仪，dts1000测试仪通过与分选机、探针台等设备的连接，可实现对半导体器件的高速测试和分选。但dts1000测试仪在测试时需将多个控制单元或面板一同操作才能完成测试，这些控制单元或面板又相对分散，这样一来，不但给测试人员增加了繁琐的工作量，还大大降低了测试效率，从而影响最终的出货量。

技术实现要素：

本发明的目的在于克服上述不足，提供一种提高测试效率、减轻测试人员工作量的dts1000测试转接盒及其测试方法。

本发明的目的是这样实现的：一种dts1000测试转接盒，包括壳体，其特征在于：所述壳体的前侧设置有前面板，所述壳体的后侧设置有后面板，所述前面板上设置有按钮开关和多个测试夹具安装接口，所述后面板上设置有多个测试夹具转接接口和通讯转接接口，所述壳体内设置有控制电路，所述控制电路包括第一集成电路、第二集成电路、第三集成电路、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第一发光二级管和第二发光二极管，

其中：所述第一集成电路的第一引脚与通讯转接接口的第十一引脚相连，第一集成电路的第二引脚与第一电阻的一端相连，第一电阻的另一端与第一发光二级管的阳极相连，第一发光二级管的阴极接地，第一集成电路的第四引脚与通讯转接接口的第十三引脚及第一电容的一端相连，第一电容的另一端接地，第一集成电路的第八引脚接地，第一集成电路的第九引脚与通讯转接接口的第十六引脚相连，第一集成电路的第十六引脚与通讯转接接口的第十三引脚及第三电容的一端相连，第三电容的另一端接地，其余引脚全部悬空；

所述第二集成电路的第一引脚与通讯转接接口的第十一引脚相连，第二集成电路的第二引脚与第二电阻的一端相连，第二电阻的另一端与第二发光二极管的阳极相连，第二发光二极管的阴极接地，第二集成电路的第四引脚与通讯转接接口的第十三引脚及第二电容的一端相连，第二电容的另一端接地，第二集成电路的第八引脚接地，第二集成电路的第九引脚与通讯转接接口的第三引脚相连，第二集成电路的第十六引脚与通讯转接接口的第十三引脚及第四电容的一端相连，第四电容的另一端接地，其余引脚全部悬空；

所述第三集成电路的第一引脚与按钮开关的静合点及第三电阻的一端相连，第三电阻的另一端与通讯转接接口的第十三引脚，第三集成电路的第二引脚与第六引脚相连，第三集成电路的第三引脚与第四引脚相连，再连接到通讯转接接口的第十一引脚，第三集成电路的第五引脚与按钮开关的动合点及第四电阻的一端相连，第四电阻的另一端与通讯转接接口的第十三引脚，第三集成电路的第三引脚接地，第三集成电路的第十四引脚与通讯转接接口的第十三引脚及第五电容的一端相连，第五电容的另一端接地，其余引脚全部悬空；

所述按钮开关的刀点与通讯转接接口的第十三引脚相连；

所述通讯转接接口的第十二引脚接地。

优选的，所述第一集成电路和第二集成电路均采用型号为sn74ls175n的d触发器，所述第三集成电路采用型号为sn54ls00j的四2输入与非门。

优选的，所述测试夹具转接接口与测试夹具安装接口之间采用开尔文连接方式相连。

优选的，所述前面板包括竖面板和横面板，所述竖面板的底部与横面板的后侧固定连接，所述竖面板上设置有两个左右布置的指示灯，所述测试夹具安装接口设置于横面板的左段，所述按钮开关设置于横面板的右段，所述测试夹具转接接口设置于后面板的上段，所述通讯转接接口设置于后面板的下段。

优选的，左侧的指示灯设置为绿色，右侧的指示灯设置为红色。

该dts1000测试转接盒所采用的测试方法为：将按钮开关6按下，即发出测试信号，再由sn54ls00j将其转换为相应的电平信号，电平信号会通过通讯转接接口发送给dts1000测试仪，dts1000测试仪在接到信号后会执行测试，测试结束后，dts1000测试仪会根据测试结果输出相应的脉冲电平信号，测试转接盒中的sn74ls175n会通过通讯转接接口接收到此脉冲电平信号，再将其转换成一个持续的高电平信号，该电平信号再通过相应的发光二极管，驱动其亮起，若左侧的指示灯亮起，则代表测试元件合格，若右侧的指示灯亮起，则代表测试元件不合格。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1.本发明一种dts1000测试转接盒，配合dts1000测试仪使用，可将多个控制单元或面板融合到了一起，操作简单快捷，提高测试效率；

2.该dts1000测试转接盒的前面板上设置有两个指示灯，绿色指示灯亮起，则代表测试的元器件合格，红色指示灯亮起，则代表测试的元器件不合格，可直观的观察到测试结果；

3.该dts1000测试转接盒结构设计合理、造价低、维修方便。

附图说明

图1为本发明一种dts1000测试转接盒的结构示意图。

图2为图1的后视图。

图3为本发明一种dts1000测试转接盒的控制电路原理图。

其中：

壳体1

前面板2

后面板3

指示灯4

测试夹具安装接口5

按钮开关6

测试夹具转接接口7

通讯转接接口8

第一集成电路9

第二集成电路10

第三集成电路11

第一电阻12

第二电阻13

第三电阻14

第四电阻15

第一电容16

第二电容17

第三电容18

第四电容19

第五电容20

第一发光二级管21

第二发光二极管22。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参见图1-图2，本发明涉及的一种dts1000测试转接盒，包括壳体1，所述壳体1的前侧设置有前面板2，所述壳体1的后侧设置有后面板3，所述前面板2包括竖面板和横面板，所述竖面板的底部与横面板的后侧固定连接，所述竖面板上设置有两个左右布置的指示灯4，所述左侧的指示灯4设置为绿色，右侧的指示灯4设置为红色，所述横面板的左段上设置有六个测试夹具安装接口5，所述横面板的右段上设置有按钮开关6，所述后面板3的上段设置有六个测试夹具转接接口7，所述后面板3的下段设置有多个通讯转接接口8。

参见图3，所述壳体1内设置有控制电路，所述控制电路包括第一集成电路9、第二集成电路10、第三集成电路11、第一电阻12、第二电阻13、第三电阻14、第四电阻15、第一电容16、第二电容17、第三电容18、第四电容19、第五电容20、第一发光二级管21和第二发光二极管22，

所述第一集成电路9和第二集成电路10的结构相同，所述第一集成电路9的左右两侧均向外伸出八个引脚，左侧的八个引脚自上而下依次为：第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚，右侧的引脚自下而上依次为：第九引脚、第十引脚、第十一引脚、第十二引脚、第十三引脚、第十四引脚、第十五引脚、第十六引脚；所述第三集成电路11的左右两侧均向外伸出七个引脚，左侧的七个引脚自上而下依次为：第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚、第六引脚、第七引脚，右侧的引脚自下而上依次为：第八引脚、第九引脚、第十引脚、第十一引脚、第十二引脚、第十三引脚、第十四引脚；所述通讯转接接口8的左右两侧均向外伸出十二个引脚，左侧的十二个引脚自上而下依次为：第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚、第九引脚、第十引脚、第十一引脚、第十二引脚，右侧的十二个引脚自下而上依次为：第十三引脚、第十四引脚、第十五引脚、第十六引脚、第十七引脚、第十八引脚、第十九引脚、第二十引脚、第二十一引脚、第二十二引脚、第二十三引脚、第二十四引脚；

其中：所述第一集成电路9的第一引脚与通讯转接接口8的第十一引脚相连；

第一集成电路9的第二引脚与第一电阻12的一端相连，第一电阻12的另一端与第一发光二级管21的阳极相连，第一发光二级管21的阴极接地；

第一集成电路9的第四引脚与通讯转接接口8的第十三引脚及第一电容16的一端相连，第一电容16的另一端接地；

第一集成电路9的第八引脚接地；

第一集成电路9的第九引脚与通讯转接接口8的第十六引脚相连；

第一集成电路9的第十六引脚与通讯转接接口8的第十三引脚及第三电容18的一端相连，第三电容18的另一端接地；

其余引脚全部悬空。

所述第二集成电路10的第一引脚与通讯转接接口8的第十一引脚相连；

第二集成电路10的第二引脚与第二电阻13的一端相连，第二电阻13的另一端与第二发光二极管22的阳极相连，第二发光二极管22的阴极接地；

第二集成电路10的第四引脚与通讯转接接口8的第十三引脚及第二电容17的一端相连，第二电容17的另一端接地；

第二集成电路10的第八引脚接地；

第二集成电路10的第九引脚与通讯转接接口8的第三引脚相连；

第二集成电路10的第十六引脚与通讯转接接口8的第十三引脚及第四电容19的一端相连，第四电容19的另一端接地；

其余引脚全部悬空。

所述第三集成电路11的第一引脚与按钮开关6的静合点及第三电阻14的一端相连，第三电阻14的另一端与通讯转接接口8的第十三引脚；

第三集成电路11的第二引脚与第六引脚相连；

第三集成电路11的十三引脚与第四引脚相连，再连接到通讯转接接口8的第十一引脚；

第三集成电路11的第五引脚与按钮开关6的动合点及第四电阻15的一端相连，第四电阻15的另一端与通讯转接接口8的第十三引脚；

第三集成电路11的第三引脚接地；

第三集成电路11的第十四引脚与通讯转接接口8的第十三引脚及第五电容20的一端相连，第五电容20的另一端接地；

其余引脚全部悬空。

所述按钮开关6的刀点与通讯转接接口8的第十三引脚相连；

所述通讯转接接口8的第十二引脚接地；

所述测试夹具转接接口7与测试夹具安装接口5采用开尔文连接方式相连。

所述第一集成电路9和第二集成电路10均采用型号为sn74ls175n的d触发器，所述第三集成电路11采用型号为sn54ls00j的四2输入与非门。

本发明的测试方法为：将按钮开关6按下，即发出测试信号，再由sn54ls00j将其转换为相应的电平信号，电平信号会通过通讯转接接口发送给dts1000测试仪，dts1000测试仪在接到信号后会执行测试，测试结束后，dts1000测试仪会根据测试结果输出相应的脉冲电平信号，测试转接盒中的sn74ls175n会通过通讯转接接口接收到此脉冲电平信号，再将其转换成一个持续的高电平信号，该电平信号再通过相应的发光二极管，驱动其亮起，若左侧的指示灯亮起，则代表测试元件合格，若右侧的指示灯亮起，则代表测试元件不合格，测试结果直观明了。

以上仅是本发明的具体应用范例，对本发明的保护范围不构成任何限制。凡采用等同变换或者等效替换而形成的技术方案，均落在本发明权利保护范围之内。