蓝牙皮套键盘休眠磁铁测试装置及测试方法与流程

本发明属于电子产品配件制造领域，具体涉及一种蓝牙皮套键盘休眠磁铁测试装置，本发明还涉及一种蓝牙皮套键盘休眠磁铁的测试方法。

背景技术：

随着电子产品的不断发展，智能手持终端在人们生活中应用越来越广泛。常见的智能手持终端通常有智能手机和平板电脑，而且随着手机、平板电脑等智能终端应用的处理芯片和存储芯片功能越来越强大，普通电脑能处理的事情，手机和平板电脑基本上都能处理，尤其是平板电脑，甚至有取代传统电脑的趋势。

平板电脑的设计显示屏都是裸露在外，携带过程中容易对屏幕造成损坏。为了解决这一问题，人们通常会给平板电脑增加一个普通的保护皮套或带蓝牙键盘的保护皮套对其进行保护。自带电池的蓝牙皮套键盘不仅具备键盘输入功能，而且有转轴或支架等配件；平板电脑和皮套键盘二合一组合使用就是一台笔记本电脑，这种蓝牙皮套键盘设计受到了广大用户的青睐。

现阶段蓝牙皮套键盘生产工艺日渐成熟，但整体组装良率还不是很理想。特别是蓝牙皮套键盘上的休眠磁铁组装不到位或组装反向等不良原因，导致平板与皮套键盘闭合后，因蓝牙皮套键盘磁铁极性反向或组装不到位及磁铁本身磁感应强度不够而不能使平板上的赫尔开关内部的触发器翻转，平板无法进入休眠模式，这种功能不良严重影响平板电池使用寿命。

并且，蓝牙皮套键盘生产商出货检验时虽然有使用ipad平板与皮套键盘实组测试，但测试出来的不良重工返修浪费大量的人力及物料，特别是超声波组合的塑胶壳皮套键盘重工拆解难度很大而且会造成塑胶壳全数报废。

技术实现要素：

发明目的：为了克服现有技术的缺陷，本发明提供一种蓝牙皮套键盘休眠磁铁测试装置，该测试装置能够检测休眠磁铁极性是否反向、是否组装到位以及磁感应强度是否符合平板休眠要求。

本发明的另一目的是提供一种采用上述测试装置的蓝牙皮套键盘休眠磁铁测试方法。该测试方法能够在蓝牙皮套键盘外壳超声波组装前或锁螺丝前完成对休眠磁铁的测试。

技术方案：本发明所述的一种蓝牙皮套键盘休眠磁铁测试装置，包括基板、开发板、与开发板匹配连接的液晶显示模块以及若干霍尔传感器，所述基板的一个表面设置有用于定位放置蓝牙皮套键盘的置放区域，所述霍尔传感器设置于基板上并位于该置放区域内，且霍尔传感器在置放区域内的排布位置与放置在该置放区域的蓝牙皮套键盘的各个休眠磁铁的标准装配位置一致；霍尔传感器将检测信号传输给所述开发板，开发板根据预设的测试程序对所述检测信号进行比对，并将比对结果传输给所述液晶显示模块显示。

其中，为了更为清晰的显示测试结果，该测试装置还包括与蓝牙皮套键盘的各个休眠磁铁一一对应的若干led指示灯，所述led指示灯接入所述开发板的对应接口。

进一步的，所述置放区域的外周设置有若干定位锁护块，所述定位锁护块设置于所述基板的表面并限定了该置放区域的位置。通过定位锁护块将平板设备准确的放置在该置放区域内，从而对休眠磁铁进行准确的定位。

具体的，所述定位锁护块有三个，分别为第一定位锁护块、第二定位锁护块和第三定位锁护块，所述第一定位锁护块和第二定位锁护块均呈l形结构且分别限定所述置放区域的下部两角，所述第三定位锁护块呈长条形结构且限定了该置放区域的上边沿。

进一步的，所述置放区域的上边沿处设置有两个贯通所述基板的皮套转轴避空孔，所述两个皮套转轴避空孔对应于蓝牙皮套键盘的皮套转轴的位置设置。从而使蓝牙皮套键盘能够更好的贴覆在置放区域处的基板表面，使得霍尔传感器的检测更准确。

进一步的，所述基板为透明基板，所述开发板与所述液晶显示模块均安装于该透明基板的另一个表面上，且液晶显示模块的液晶面板贴覆于基板的表面。

进一步的，所述基板上开设有位置与所述蓝牙皮套键盘的各个休眠磁铁的标准装配位置一一对应的贯通孔，所述霍尔传感器一一对应穿插于所述贯通孔内，霍尔传感器的接线端位于所述基板的另一个表面。

进一步的，所述基板的另一个表面的两侧均设置有支架。

而本发明所述的一种采用上述测试装置的蓝牙皮套键盘休眠磁铁测试方法，采用的技术方案包括如下步骤：

(1)取各个位置的磁感应强度上限值和下限值休眠磁铁样品各组装一台能够使平板设备进入休眠状态的蓝牙皮套键盘，将两个蓝牙皮套键盘分别放入置放区域中，并分别记录液晶显示模块显示的各个位置的休眠磁铁的上限数值和下限数值；

(2)将上述数值写入开发板的测试程序中；

(3)将组装好休眠磁铁的待测蓝牙皮套键盘半成品放入置放区域内，观察led指示灯的状态并读取液晶显示模块显示的各位置的休眠磁铁的数值；

(4)若待测半成品为良品，则各led指示灯均灭灯且各位置的休眠磁铁的数值均在对应位置的上限数值和下限数值的范围内；

若待测半成品某位置的休眠磁铁磁场强度偏弱或组装不到位，则该位置对应的led指示灯亮，且该位置的休眠磁铁的数值不在其对应的上限数值和下限数值的范围内，其中，当该数值为负值时，该位置的休眠磁铁组装反向。

有益效果：该测试装置通过在基板上设置定位放置蓝牙皮套键盘的置放区域，并在该区域内的基板上排布霍尔传感器，且霍尔传感器排布位置与各休眠磁铁的标准装配位置对应。当待测蓝牙皮套键盘定位放置于该置放区域内时，霍尔传感器检测各位置的磁感应强度，同时通过开发板内预设的测试程序对霍尔传感器传输的检测信号进行处理比对，并输出结果，从而测试各位置的休眠磁铁是否装配合格。

该测试方法通过标定各位置休眠磁铁的磁感应强度的上下限值并写入测试程序中，将组装好休眠磁铁的待测蓝牙皮套键盘半成品放在置放区域内即可完成测试输出结果，实现了在蓝牙皮套键盘外壳超声波组装前或锁螺丝前检测休眠磁铁极性是否反向、是否组装到位以及磁感应强度是否符合平板休眠要求。

附图说明

图1是本发明的一个实施例中测试装置的立体结构示意图；

图2是图1测试装置的另一侧的立体结构示意图；

图3是图1测试装置的置放区域所在表面的平面结构示意图；

图4是图1测试装置的开发板所在表面的平面结构示意图；

图5是图2的另一个角度的立体结构示意图；

图6是实施例中电路原理框图；

图7示出了实施例中霍尔传感器使用的测试通道及各通道上下限值设定情况。

具体实施方式

下面，结合附图对本发明做进一步详细说明。

本实施例公开了一种蓝牙皮套键盘休眠磁铁测试装置，该测试装置应用于对蓝牙皮套键盘的休眠磁铁进行测试，特别是能够应用于对组装好休眠磁铁的待测皮套键盘半成品的休眠磁铁装配情况进行测试。

如图1-5所示，该测试装置包括基板1、开发板2、液晶显示模块3、霍尔传感器4和led指示灯5。其中，该基板1为透明基板，采用透明材质制成。开发板2为arduinomega2560开发板，具有54路数字输入输出，适合需要大量io接口的设计，其处理器核心是atmega2560，同时具有54路数字输入/输出口(其中15路可作为pwm输出)，15路模拟输入，4路uart接口，一个16mhz晶体振荡器，一个usb口，一个电源插座，一个icspheader和一个复位按钮，正常工作时采用5v或9v电压适配器供电。液晶显示模块3为i2c通讯接口的2004型lcd显示模组，霍尔传感器4为a1302型霍尔传感器。

为了定位放置待测工件100(即蓝牙皮套键盘或其半成品)，该基板1的上表面设置有三个定位锁护块，分别是呈l形结构的第一定位锁护块6和第二定位锁护块7以及呈长条形结构的第三定位锁护块8，这三个定位锁护块共同限定了待测工件的置放区域在基板1上表面的位置。具体的，如图1和图3所示，第一定位锁护块6和第二定位锁护块7相对设置，待测工件100的下部两角分别卡设在这两个定位锁护块的l形结构内侧，待测工件100的上边沿卡设在第三定位锁护块8下方，以实现对待测工件100的固定。

为了使待测工件100能够更好的贴覆在置放区域处的基板1表面，提高测试的准确度。本例中，在置放区域的上边沿处设置有两个贯通所述基板1的皮套转轴避空孔9，所述两个皮套转轴避空孔9对应于蓝牙皮套键盘上的皮套转轴的位置设置。从而，当待测工件100放置于该置放区域时，皮套转轴嵌入皮套转轴避空孔9内，使待测工件100与基板1的接触面更平整。

霍尔传感器4设置在基板1上并位于待测工件100的置放区域内，且霍尔传感器4在该置放区域内的排布位置与放在该置放区域的蓝牙皮套键盘的各个休眠磁铁的标准装配位置一致，也即与待测工件100的各个休眠磁铁的标准装配位置一致。

一并参阅图2、图4和图5，在本实施例中，待测工件100具有四个休眠磁铁，这四个休眠磁铁分别装配在待测工件100的不同位置。相应的，在基板1置放区域内的对应四个位置处也分别设置一个霍尔传感器4用于检测这四个位置的磁感应强度。具体的，在基板1上开设与待测工件100的四个休眠磁铁的标准装配位置一一对应的四个贯通孔，所述四个霍尔传感器4分别穿插在这四个贯通孔内，霍尔传感器4的检测端位于基板1的上表面，分别贴近这四个位置从而检测到精确的数据，霍尔传感器4的接线端位于基板1的下表面。

开发板2和液晶显示模块3均设置于基板1的下表面，并且液晶显示模块3的液晶面板贴覆于该透明的基板1的下表面，以便测试人员直观的看到测试结果。进一步的，为了使测试结果更为直观，本例设置四个led指示灯，分别对应于所述四个位置的休眠磁铁。基板1的上方还具有四个通孔，led指示灯分别穿设在这四个通孔内，led灯的接线端也位于基板1的下表面以便于接线。

为了便于测试作业，该基板1的下表面的两侧均设置有三角板形结构的支架10。开发板2、液晶显示模块3、霍尔传感器4、led指示灯5均设置在两个支架10之间，且液晶显示模块3、霍尔传感器4、led指示灯5均通过连接线连接于开发板2上。支架10将基板1下方撑起的空间也有利于各元件间的接线以及各连接线的收纳。

具体各元件的电路连接关系请一并参阅图6，液晶显示模块3的四根信号线(gnd/vcc/sda/scl)依接线的方式连接到开发板2的i2c通讯接口。四个led指示灯的阳极接至开发板2的5v电源，阴极各串接一个330欧姆的dip电阻依序接至开发板2的digital接口的四个位置(本例为标示的33/34/39/42四个位置)。霍尔传感器4有5v/gnd/out三只引脚，其中，四个霍尔传感器4的电源引脚(5v/gnd)接开发板2的power接口(5v/gnd)，霍尔传感器4的out引脚依序接至开发板2的analogin接口对应的四个位置(本例为标示的a3/a4/a9/a12四个位置)。

测试时，霍尔传感器4将检测信号传输给开发板2，开发板2根据预设的测试程序对检测信号进行比对，并将比对结果传输给所述液晶显示模块3显示。

具体的，本实施例中采用上述测试装置测试的测试方法如下：

用一条type-a转type-b线连接测试电脑与开发板2，烧录一版休眠磁铁测试装置调试程序。分别取四个位置的磁感应强度上限值休眠磁铁样品下限值休眠磁铁样品，各组装一台能够使平板设备进入休眠状态的蓝牙皮套键盘，将两个蓝牙皮套键盘分别放入置放区域中，并分别记录液晶显示模块3显示的各个位置的休眠磁铁的上限数值和下限数值。

如图7所示，将上述数值写入开发板的测试程序中，并烧录至开发板2的微控制单元内。

在未放置待测样品时，液晶显示模块的各位置数值都为0，且led指示灯全亮。将组装好休眠磁铁的待测蓝牙皮套键盘半成品放入置放区域内，各位置霍尔传感器将外加磁场转换成电压输出，电压信号经微控制单元内置的adc模块处理后通过i2c通讯协议在液晶显示模块上显示数值。观测led指示灯的状态，并读取液晶显示模块显示的各位置休眠磁铁的对应数值。

若待测样品为良品，则led控制脚均输出高电平，led指示灯全灭，lcd左上方显示pass，且各位置的休眠磁铁的数值均在对应位置的上限数值和下限数值的范围内。

若某位置的休眠磁铁的磁场强度偏弱或组装不到位，则该位置的休眠磁铁对应的led指示灯的控制脚输出低电平，led指示灯亮，lcd左上方显示fail，且该数值不在该位置对应的上限数值和下限数值的范围内。其中，当该数值为负值时，该位置的休眠磁铁组装反向。