技术总结
本实用新型涉及老化测试技术领域，尤其是指一种QC2.0和QC3.0快速放电电压变换控制电路，包括MCU、QC放电变换模块和恒流放电控制模块；QC放电变换模块包括切换控制芯片U1、第一光耦放大电路、第二光耦放大电路、继电器RL1A和继电器控制电路，本实用新型可以兼容QC2.0和QC3.0快充协议，可以对QC2.0或者QC3.0产品进行放电测试，减少测试仪器的种类，降低成本，效果高效，使用方便。
技术研发人员：邱水良
受保护的技术使用者：东莞市旺达富自动化设备有限公司
技术研发日：2018.06.14
技术公布日：2019.01.22