一种测试装置及以太网供电功能测试系统的制作方法

本公开涉及测试技术领域，具体而言，涉及一种测试装置及以太网供电功能测试系统。

背景技术：

以太网供电(PowerOverEthernet，POE)系统指的是在现有的以太网线基础架构不作任何改动下，在为一些基于网络之间互连的协议(InternetProtocol，IP)的终端(如IP电话机、网络摄像机等)传输数据信号的同时，还能为此类设备提供直流供电的技术。一个完整的POE系统包括供电端设备(PowerSourcingEquipment，PSE)和受电端设备(PoweredDevice，PD)两部分。

目前，以太网供电功能测试装置能够覆盖供电功能、分级功能和网络功能，但适用性有限，只能针对网络端口为偶数的供电端设备(PSE)进行网络功能测试，而无法实现网络端口为奇数端口的供电端设备的网络测试。

技术实现要素：

有鉴于此，本公开提供了一种测试装置及以太网供电功能测试系统。

本公开提供的一种测试装置，包括隔离器、控制器、CPU以及端口，所述隔离器连接所述端口，所述控制器连接所述CPU与所述隔离器。

所述测试装置的端口通过以太网线与待测装置的待测端口连接，所述测试装置的端口用于接收所述待测装置通过所述待测端口发出的电力信号及数据信号。

所述隔离器用于将传输至所述测试装置的端口的数据信号通过所述控制器传输至所述CPU，所述CPU用于根据所述数据信号测试所述待测装置的待测端口与所述测试装置的端口是否数据连通。

进一步的，所述隔离器为变压器；所述隔离器用于将所述电力信号及数据信号进行分离，将所述数据信号通过所述隔离器的次级线圈引出并传输至所述控制器。

进一步的，所述测试装置还包括第一电路模块，所述隔离器将所述电力信号通过所述隔离器的初级线圈引出并传输至所述第一电路模块，所述第一电路模块基于所述电力信号对所述测试装置供电。

进一步的，所述第一电路模块包括受电电路单元和第一二极管，所述受电电路单元一端与所述隔离器的初级线圈连接，另一端与所述第一二极管的阳极连接，所述第一二极管的阴极与所述测试装置的电源端连接。

所述受电电路单元用于对所述电力信号进行功率分级，将分级后的所述电力信号通过所述第一二极管对所述测试装置供电。

进一步的，所述测试装置包括第二电路模块，所述第二电路模块包括转换电路单元和第二二极管，所述转换电路单元一端与外接电源连接，另一端与所述第二二极管的阳极连接，所述第二二极管的阴极与所述测试装置的电源端连接。

所述转换电路单元用于对所述外接电源的电压进行调节，将调节后的电压通过所述第二二极管对所述测试装置供电。

本公开提供的一种以太网供电功能测试系统，包括待测装置和测试装置；所述测试装置包括端口、隔离器、CPU和控制器，所述隔离器连接所述端口，所述控制器连接所述CPU与所述隔离器。

所述待测装置包括待测端口；所述测试装置的端口通过以太网线与所述待测装置的待测端口连接，所述测试装置的端口用于接收所述待测装置通过所述待测端口发出的电力信号及数据信号。

所述隔离器用于将传输至所述测试装置的端口的数据信号通过所述控制器传输至所述CPU，所述CPU用于根据所述数据信号测试所述待测装置的待测端口与所述测试装置的端口是否数据连通。

进一步的，所述隔离器为变压器；所述隔离器用于将所述电力信号及数据信号进行分离，将所述数据信号通过所述隔离器的次级线圈引出并传输至所述控制器。

进一步的，所述测试装置还包括第一电路模块，所述隔离器将所述电力信号通过所述隔离器的初级线圈引出并传输至所述第一电路模块，所述第一电路模块基于所述电力信号对所述测试装置供电。

进一步的，所述第一电路模块包括受电电路单元和第一二极管，所述受电电路单元一端与所述隔离器的初级线圈连接，另一端与所述第一二极管的阳极连接，所述第一二极管的阴极与所述测试装置的电源端连接。

所述受电电路单元用于对所述电力信号进行功率分级，将分级后的所述电力信号通过所述第一二极管对所述测试装置供电。

进一步的，所述测试装置包括第二电路模块，所述第二电路模块包括转换电路单元和第二二极管，所述转换电路单元一端与外接电源连接，另一端与所述第二二极管的阳极连接，所述第二二极管的阴极与所述测试装置的电源端连接。

所述转换电路单元用于对所述外接电源的电压进行调节，将调节后的电压通过所述第二二极管对所述测试装置供电。

本公开提供的一种测试装置及以太网供电功能测试系统，在测试装置内设置隔离器、控制器和CPU，使数据测试的功能模块集成在测试装置上，CPU可直接根据数据信号对待测装置的待测端口和测试装置的端口是否数据连通进行测试，进而对待测装置的待测端口奇偶数量没有限制，适用性较高。

为使本公开的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本公开的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本公开的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本公开提供的测试装置连接框图。

图2是本公开提供的测试装置的另一连接框图。

图3是本公开提供的以太网供电功能测试系统的连接框图。

图4是本公开提供的以太网供电功能测试系统的另一种连接框图。

图标：10－测试装置；11－端口；12－隔离器；121－初级线圈；122－次级线圈；13－控制器；14－CPU；15－第一电路模块；151－受电电路单元；152－第一二极管；16－第二电路模块；161－转换电路单元；162－第二二极管；17－电源端；20－待测装置；21－待测端口；30－以太网线。

具体实施方式

下面将结合本公开中附图，对本公开中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本公开的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本公开的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本公开的范围，而是仅仅表示本公开的选定实施例。基于本公开的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。

在本公开的描述中，需要说明的是，术语“中”、“上”、“下”、“左右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是本公开使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本公开和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本公开的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接。可以是机械连接，也可以是电性连接。可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。

目前，以太网供电功能测试装置一般能够覆盖供电功能、分级功能和网络功能，但是在针对网络端口测试部分，适用性有限，只能对端口数量为偶数的待测装置进行测试，而无法实现对端口数量为奇数的待测装置的测试。

基于上述研究，本公开提供一种测试装置及以太网供电功能测试系统，以改善上述问题。

请参阅图1，为本公开提供的一种测试装置10，包括隔离器12、控制器13、CPU14(CentralProcessingUnit，中央处理器)以及端口11，所述隔离器12连接所述端口11，所述控制器13连接所述CPU14与所述隔离器12。

所述测试装置10的端口11通过以太网线30与待测装置20的待测端口21连接，所述测试装置10的端口11用于接收所述待测装置20通过所述待测端口21发出的电力信号及数据信号。

所述隔离器12用于将传输至所述测试装置10的端口11的数据信号通过所述控制器13传输至所述CPU14，所述CPU14用于根据所述数据信号测试所述待测装置20的待测端口21与所述测试装置10的端口11是否数据连通。

其中，所述待测装置20的待测端口21数量为多个，所述测试装置10的端口11数量也为多个，可选地，所述测试装置10的端口11为RJ45型号端口，当所述待测装置20与所述测试装置10连接进行测试时，将所述待测装置20的所有待测端口21通过以太网线30连接到所述测试装置10的端口11上时，待测端口21与端口11之间不需要一一对应，只需要通过以太网线30连接即可。

在以太网供电功能系统中，当供电端设备与受电端设备连接后，供电端设备会检测受电端设备是不是符合IEEE802.3af或者IEEE802.3at标准的受电端设备，若为标准的受电端设备，则供电端设备向受电端设备传输数据信号和电力信号。在本公开中，所述测试装置10模拟为标准的受电端设备，所述待测装置20为供电端设备，当所述待测装置20与所述测试装置10连接后，所述待测装置20向所述测试装置10传输数据信号和电力信号。其中所述数据信号经所述隔离器12通过所述控制器13传递至所述CPU14。所述CPU14接收到所述数据信号，采用ping测试的方式对所述待测装置20的待测端口21与所述测试装置10的端口11是否数据连通进行测试。通过ping测试的方式，所述CPU14可以直接对所述待测装置20的待测端口21与所述测试装置10的端口11是否数据连通进行测试，进而使所述待测装置20的待测端口21数量不受限制，例如，所述待测装置20的待测端口21数量为一个时，通过ping测试的方式，所述CPU14可检测所述待测装置20的待测端口21与所述测试装置10的端口11是否数据连通，当所述待测装置20的待测端口21数量为两个以上时，所述CPU14同样能检测所述待测装置20的待测端口21与所述测试装置10的端口11是否数据连通。

进一步的，所述隔离器12为变压器，所述隔离器12用于将所述电力信号及数据信号进行分离，将所述数据信号通过所述隔离器12的次级线圈122引出并传输至所述控制器13。

进一步的，所述测试装置10还包括第一电路模块15，所述隔离器12将所述电力信号通过所述隔离器12的初级线圈121引出并传输至所述第一电路模块15，所述第一电路模块15基于所述电力信号对所述测试装置10供电。

其中，所述隔离器12可以设置为多个，所述隔离器12的初级线圈121与所述测试装置10的端口11连接，所述隔离器12的次级线圈122与所述控制器13连接，当所述数据信号与电力信号通过所述测试装置10的端口11传输至所述隔离器12时，从所述隔离器12的初级线圈121任意固定抽头引出所述电力信号，并将所述电力信号传输至所述第一电路模块15，从所述隔离器12的次级线圈122引出所述数据信号，并将所述数据信号传输至所述控制器13，经所述控制器13传输至所述CPU14。

进一步的，请参阅图2，所述第一电路模块15包括受电电路单元151和第一二极管152，所述受电电路单元151一端与所述隔离器12的初级线圈121连接，另一端与所述第一二极管152的阳极连接，所述第一二极管152的阴极与所述测试装置10的电源端17连接。

所述受电电路单元151用于对所述电力信号进行功率分级，将分级后的所述电力信号通过所述第一二极管152对所述测试装置10供电。

其中所述受电电路单元151接收到所述电力信号后，根据所述测试装置10所需功率对所述电力信号进行功率分级，并将分级后的电力信号通过所述第一二极管152向所述测试装置10供电，通过所述第一二极管152的阳极与所述受电电路单元151连接，所述第一电路模块15设置为单向导通。

当所述测试装置10受电完成后，可以从所述待测装置20获取所述测试装置10的输出功耗，比较所述测试装置10的输出功耗与所述待测装置20的宣称功耗是否一致，如果是一致的，则所述待测装置20的供电功能和功耗分级功能满足设计需求。

为了提高生产测试效率，进一步的，请参阅图2，本公开的提供的测试装置10还包括第二电路模块16，所述第二电路模块16包括转换电路单元161和第二二极管162，所述转换电路单元161一端与外接电源连接，另一端与所述第二二极管162的阳极连接，所述第二二极管162的阴极与所述测试装置10的电源端17连接。

所述转换电路单元161用于对所述外接电源的电压进行调节，将调节后的电压通过所述第二二极管162对所述测试装置10供电。

其中所述转换电路单元161为直流转换直流电路(DC－DC电路)，所述转换电路单元161一端与外接电源连接，当外接电源接入时，所述转换电路单元161可根据所述测试装置10所需的电压进行对外接电源的电压进行调节，调节后的电压高于所述第二二极管162的导通电压，并将调节后的电压通过所述第二二极管162向所述测试装置10供电，通过所述第二二极管162的阳极与所述转换电路单元161连接，所述第二电路模块16设置为单向导通。

当所述待测装置20和外接电源同时接入时优先使用所述待测装置20向所述测试装置10供电，当所述待测装置20供电异常时，外接电源可以实现外接电源供电无缝切换，向所述测试装置10供电。其中当通过所述受电电路单元151的电压高于通过所述转换电路单元161的电压，采用所述待测装置20对所述测试装置10进行供电。

为了便于控制供电的无缝切换，所述CPU14连接所述电源端17，所述CPU14的AD管脚可对通过所述受电电路单元151的电压及所述转换电路单元161的电压进行采样，确认当前供电模式是采用所述待测装置20向所述测试装置10供电还是采用外接电源向所述测试装置10供电。

通过设置所述第二电路模块16，接入外接电源，可以实现所述待测装置20向所述测试装置10供电和外接电源向所述测试装置10供电的无缝切换，进而去除因为生产操作原因导致所述以太网线30重新插拔而引起所述测试装置10重启的时间，从而提高生产测试效率。

请参阅图3和图4，本公开提供的一种以太网供电功能测试系统，包括待测装置20和测试装置10；所述测试装置10包括端口11、隔离器12、CPU14和控制器13，所述隔离器12连接所述端口11，所述控制器13连接所述CPU14与所述隔离器12。

所述待测装置20包括待测端口21，所述待测装置20的待测端口21数量不限；所述测试装置10的端口11通过以太网线30与所述待测装置20的待测端口21连接，所述测试装置10的端口11用于接收所述待测装置20通过所述待测端口21发出的电力信号及数据信号。

所述隔离器12用于将传输至所述测试装置10的端口11的数据信号通过所述控制器13传输至所述CPU14，所述CPU14用于根据所述数据信号测试所述待测装置20的待测端口21与所述测试装置10的端口11是否数据连通。

本公开所提供的以太网供电功能测试系统，由于所述以太网供电功能测试系统包括上述的测试装置10，因此，该以太网供电功能测试系统具有与上述测试装置10相同的技术特征，在此不再一一赘述，请参考对所述测试装置10的解释说明。

综上，本公开所提供的一种测试装置及以太网供电功能测试系统，在测试装置内设置隔离器、控制器和CPU，使数据测试的功能模块集成在测试装置上，CPU可直接根据数据信号对待测装置的待测端口和测试装置的端口是否数据连通进行测试，进而对待测装置的待测端口奇偶数量没有限制。同时通过设置第二电路模块，接入外接电源，可以实现待测装置向测试装置供电和外接电源向测试装置供电之间的无缝切换，减少设备启动时间，从而提高生产测试效率。

以上所述仅为本公开的优选实施例而已，并不用于限制本公开，对于本领域的技术人员来说，本公开可以有各种更改和变化。凡在本公开的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

以上所述，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。